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楼主: snsArvin
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DDR3仿真

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 楼主| 发表于 2015-1-6 11:31 | 只看该作者
cousins 发表于 2015-1-6 11:14
1 `1 ?3 P  o! s0 @5 [+ ]; w, y因为tvb+tskew就是实际的建立时间,减去datasheet中的requirement就是裕量1 O4 x5 w+ ~/ V5 w: I+ K. d# Q8 X
tva-tskew是实际的保持时间,减 ...
0 s, d' v6 k9 B) T
合格的标标准是余量大于0?
3 {" p$ |! a- ?/ L

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 楼主| 发表于 2015-1-6 11:33 | 只看该作者
cousins 发表于 2015-1-6 11:148 f5 c8 F: K  N4 A& e
因为tvb+tskew就是实际的建立时间,减去datasheet中的requirement就是裕量
8 L- m* d# q) P; C  h* `tva-tskew是实际的保持时间,减 ...
/ J3 g$ j* }1 S; V+ d
版主,按道理,如果我设置好芯片内部DQ和Strobe的延迟,那么仿真出来直接就可以量出实际的建立和保持时间,再和要求的建立和保持时间比较不就可以了吗?
& p& [0 {: v- G, C; l

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发表于 2015-1-6 12:48 | 只看该作者
多谢您,那就是说要下面的数据算出DDR3对建立时间的实际需求,然后在实际的仿真波形上测量建立时间,和这个需求值比较,对吗?; V: ?* q, R3 f9 H7 j0 E

. G0 E2 C1 a( z( I% m& ^. ]& `对,仿真波形可测量出你的設計的 setup time,把它与規格 tIS 比较,多的就是余量。

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 楼主| 发表于 2015-1-6 12:59 | 只看该作者
Head4psi 发表于 2015-1-6 12:48
! A$ }2 O  Q$ J: _8 w* E多谢您,那就是说要下面的数据算出DDR3对建立时间的实际需求,然后在实际的仿真波形上测量建立时间,和这个 ...
2 X4 q1 h+ S8 w  k5 O+ {! Z8 k( K
但是这怎么理解?为什么slew rate越大,setup和hold的margin(裕量)反而会越大?按照公式算下来,slew rate越大,需要的建立和保存时间就越大,那么裕量该减小才是& X! |" J; g8 @+ w
& m" R: @. t  e' o5 E  O" i

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发表于 2015-1-6 13:05 | 只看该作者
#8 想听听历时原因。
* g2 x% E3 ~6 z' a& r
  ]8 w$ g3 T5 i% M当初由 AC175 想降到 AC150 规格时,DRAM 供应商提出因为幅度降低相望控制器端多留些余量,所以由AC175 转 AC150时除了电位平移的 25 ps 外,又多要求了125ps ,例如 DDR3-1600 由 45 增加 到 170 Ps 。% r  a& @4 _( l9 ?1 ~8 v* d; E+ H
: ^" _- f' D8 n. S
所以之前我在 #7 说反了,对系统设记者而言,可以选 AC175 规格比较有利,在此一并更正。
! v1 x& R% r7 H- D, k7 d: ~
3 V8 m4 U2 q1 D# ^: c

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 楼主| 发表于 2015-1-6 13:38 | 只看该作者
Head4psi 发表于 2015-1-6 13:056 U" l: P: [  Z- D' P7 P
#8 想听听历时原因。# S% W7 F3 t" R) Y- k8 r2 m

& t) S+ y4 t9 r7 @; A6 I当初由 AC175 想降到 AC150 规格时,DRAM 供应商提出因为幅度降低相望控制器端多留 ...

1 U7 f- H6 x: _& P& @怎么解释slew rate越大,需要的建立和保持时间越大?
: B/ \! [! I2 {- q, @6 H, C

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发表于 2015-1-6 15:10 | 只看该作者
怎么解释slew rate越大,需要的建立和保持时间越大?
$ z4 s) s- q7 A- {+ N0 g7 G% l9 j& z
上述这句话不知你如何下此结论?
% ]" z2 I# `# s* W5 O, d实际看 Timming 是 Clock 与 Data 相对的,Clock 的 Slew rate 快 (短时),则电路的data valid 较快,所以规格给值较小。返之,若是 Data 的 Slew Rate 变快,电路的 data valid 一样快,但是量测点后退了 ,所以规格给值要变大。仔细推敲 derating table 可知一二。

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 楼主| 发表于 2015-1-6 15:26 | 只看该作者
本帖最后由 snsArvin 于 2015-1-6 16:00 编辑 & u% i' X* S, I' E2 d
Head4psi 发表于 2015-1-6 15:10
, g' V+ U( o' ?' s怎么解释slew rate越大,需要的建立和保持时间越大?
. u( j1 H, |2 ~4 G4 Z; b8 S6 p8 L' @- p+ I& L: X3 n8 Q
上述这句话不知你如何下此结论?

. C2 N7 K  d' P: x0 P' H, `下面这张表可以看出,如果时钟slew rate不变,则地址/命令的slew ratr越大,derating就越大啊,那么基值加上derating不就越大吗?那不也就是要求的建立和保持时间越大吗?
* P9 N5 [6 }$ a, K4 w5 P$ Y) E

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发表于 2015-1-6 16:21 | 只看该作者
CK 不变,地址/命令的slew rate 越快,量测点越后退 (量到的眼寬增加了),所以要求的 Total tIS 变大。

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 楼主| 发表于 2015-1-6 17:55 | 只看该作者
Head4psi 发表于 2015-1-6 16:21( m8 H- s& j0 E" a" ~+ B' M7 r
CK 不变,地址/命令的slew rate 越快,量测点越后退 (量到的眼寬增加了),所以要求的 Total tIS 变大。
1 D3 I* E+ A0 |. a
我在琢磨琢磨,谢谢了!
* w: t' r! S9 h2 V

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发表于 2015-1-9 08:38 | 只看该作者
不错  这样讲的话 很多东西都可以做的很好的

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发表于 2015-1-27 18:18 | 只看该作者
DDR3的时序参数是基于标准负载测试的3 G2 M9 J# a0 K! n8 ~
% A2 J9 Y1 w, y* x0 K: o

! h, a- D/ ^2 S实际负载不可能标准 所以波形有差别,负载过重过轻 等都会造成影响
$ e' h( ]0 _: ]4 H飞行时间偏移,包括芯片内部的逻辑偏移,buffer偏移,和PCB上走线的偏移. s6 j9 G) q) v" F9 M
实际时序计算时要以接标准负载和实际负载计算飞行时间偏移
% N# R4 b$ t- J* V' S3 ZDDR3的规范规定计算时序都要考虑derating
1 ^5 o8 ~3 o0 e) f8 j. W 0 z" r7 B1 \* C  G4 C% [$ j( N

点评

谢谢,关于slew rate和建立保持时间的关系,我还是不太明白:为什么slew rate越大,需要的建立和保持都会变大?  详情 回复 发表于 2015-2-5 08:57

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发表于 2015-1-27 19:17 | 只看该作者
觉得你们说的好高升啊,不懂

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发表于 2015-2-1 01:15 | 只看该作者

( e3 `0 w9 ]1 W  \& s3 L正需要 谢谢

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 楼主| 发表于 2015-2-5 08:57 | 只看该作者
Colin_SI/PI 发表于 2015-1-27 18:18
, e5 k! ~0 L: c* i8 LDDR3的时序参数是基于标准负载测试的
' l0 o. S/ C7 f8 k7 v
谢谢,关于slew rate和建立保持时间的关系,我还是不太明白:为什么slew rate越大,需要的建立和保持都会变大?* G2 e5 ]/ }; i
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