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楼主: snsArvin
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DDR3仿真

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 楼主| 发表于 2015-1-6 11:31 | 只看该作者
cousins 发表于 2015-1-6 11:14: e( c9 K% i  z- S( t5 d" x5 Y" m
因为tvb+tskew就是实际的建立时间,减去datasheet中的requirement就是裕量
$ i: \* ~4 Z7 \9 Y  _tva-tskew是实际的保持时间,减 ...
8 |0 k; x$ p5 V# u
合格的标标准是余量大于0?8 G7 N: @( t; {; I! }5 b6 K; |) o

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 楼主| 发表于 2015-1-6 11:33 | 只看该作者
cousins 发表于 2015-1-6 11:14  ?  f' @' ~2 |' J6 G" P* O
因为tvb+tskew就是实际的建立时间,减去datasheet中的requirement就是裕量
8 Q, l& c" S! I7 y5 ]( R! jtva-tskew是实际的保持时间,减 ...
- C3 @% I# l" F
版主,按道理,如果我设置好芯片内部DQ和Strobe的延迟,那么仿真出来直接就可以量出实际的建立和保持时间,再和要求的建立和保持时间比较不就可以了吗?
3 f! S  ?% z% J/ m1 S# L

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发表于 2015-1-6 12:48 | 只看该作者
多谢您,那就是说要下面的数据算出DDR3对建立时间的实际需求,然后在实际的仿真波形上测量建立时间,和这个需求值比较,对吗?- R# J% Y3 O) M
; |, q2 [9 h$ j0 R9 P3 b
对,仿真波形可测量出你的設計的 setup time,把它与規格 tIS 比较,多的就是余量。

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 楼主| 发表于 2015-1-6 12:59 | 只看该作者
Head4psi 发表于 2015-1-6 12:48/ }1 W3 F$ |! }8 H- h
多谢您,那就是说要下面的数据算出DDR3对建立时间的实际需求,然后在实际的仿真波形上测量建立时间,和这个 ...

; v% b* V& s9 M) a但是这怎么理解?为什么slew rate越大,setup和hold的margin(裕量)反而会越大?按照公式算下来,slew rate越大,需要的建立和保存时间就越大,那么裕量该减小才是
) l( |9 ?$ D0 s  X( h$ _ % H: ~* V* d9 A6 k# d

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发表于 2015-1-6 13:05 | 只看该作者
#8 想听听历时原因。
# V' h. _1 P. O8 h
9 Z1 h1 r/ V2 {& B& Q当初由 AC175 想降到 AC150 规格时,DRAM 供应商提出因为幅度降低相望控制器端多留些余量,所以由AC175 转 AC150时除了电位平移的 25 ps 外,又多要求了125ps ,例如 DDR3-1600 由 45 增加 到 170 Ps 。9 p0 J4 f$ b. M3 y' [
& c& h9 e. z4 `4 n
所以之前我在 #7 说反了,对系统设记者而言,可以选 AC175 规格比较有利,在此一并更正。) P% q3 G1 y2 L. D- S+ P) r6 n% b
7 G* ~1 ~5 K5 D5 i9 O, r& j" }

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 楼主| 发表于 2015-1-6 13:38 | 只看该作者
Head4psi 发表于 2015-1-6 13:05! ~) Q/ K; ^- P! o
#8 想听听历时原因。
4 v9 H( F( J2 }. X+ {; i& i9 T- _* t! d4 `- {, h) ^
当初由 AC175 想降到 AC150 规格时,DRAM 供应商提出因为幅度降低相望控制器端多留 ...

3 d/ ^$ A3 B3 q( T7 O; K! }怎么解释slew rate越大,需要的建立和保持时间越大?
* Z6 @" x( u+ Z7 T1 M

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发表于 2015-1-6 15:10 | 只看该作者
怎么解释slew rate越大,需要的建立和保持时间越大?1 E& N; a) n6 Q% M

  w* j/ t. G7 j上述这句话不知你如何下此结论?
; ^7 b3 B* \' m0 T5 g' C9 s' {实际看 Timming 是 Clock 与 Data 相对的,Clock 的 Slew rate 快 (短时),则电路的data valid 较快,所以规格给值较小。返之,若是 Data 的 Slew Rate 变快,电路的 data valid 一样快,但是量测点后退了 ,所以规格给值要变大。仔细推敲 derating table 可知一二。

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 楼主| 发表于 2015-1-6 15:26 | 只看该作者
本帖最后由 snsArvin 于 2015-1-6 16:00 编辑
+ {! G+ O% N- f, S1 R; u6 ~  W0 _
Head4psi 发表于 2015-1-6 15:10% a* r& t# _1 S% W. g+ H
怎么解释slew rate越大,需要的建立和保持时间越大?
; [5 o0 s# P0 R% v  w2 A; f& g( i& A  i$ j% g* e
上述这句话不知你如何下此结论?
4 J* k" t4 H1 W- q
下面这张表可以看出,如果时钟slew rate不变,则地址/命令的slew ratr越大,derating就越大啊,那么基值加上derating不就越大吗?那不也就是要求的建立和保持时间越大吗?6 R2 R% v5 r2 b9 p, Z3 S

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发表于 2015-1-6 16:21 | 只看该作者
CK 不变,地址/命令的slew rate 越快,量测点越后退 (量到的眼寬增加了),所以要求的 Total tIS 变大。

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 楼主| 发表于 2015-1-6 17:55 | 只看该作者
Head4psi 发表于 2015-1-6 16:21. K" ?: t% A: A. @
CK 不变,地址/命令的slew rate 越快,量测点越后退 (量到的眼寬增加了),所以要求的 Total tIS 变大。
4 a' q6 a5 A  y& f" z# o' q
我在琢磨琢磨,谢谢了!- a% D- G& x8 m" e- l5 }* l

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发表于 2015-1-9 08:38 | 只看该作者
不错  这样讲的话 很多东西都可以做的很好的

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发表于 2015-1-27 18:18 | 只看该作者
DDR3的时序参数是基于标准负载测试的
- o* h+ c; I) U1 ^. C 2 u8 C$ N8 w- g' O5 ]
0 z+ A& i. w8 A/ _
实际负载不可能标准 所以波形有差别,负载过重过轻 等都会造成影响7 Z" X7 o% X/ s4 D/ J2 _- `+ `8 r. q% \
飞行时间偏移,包括芯片内部的逻辑偏移,buffer偏移,和PCB上走线的偏移! J7 V+ ~" W9 C  r) K2 }
实际时序计算时要以接标准负载和实际负载计算飞行时间偏移
! W7 X' _8 b7 ?9 u5 e3 C! ~6 V. sDDR3的规范规定计算时序都要考虑derating
8 S, Q* v' l; q0 O6 Z5 C+ Y, ? $ w; J# O  W+ R5 G& z" U* |

点评

谢谢,关于slew rate和建立保持时间的关系,我还是不太明白:为什么slew rate越大,需要的建立和保持都会变大?  详情 回复 发表于 2015-2-5 08:57

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发表于 2015-1-27 19:17 | 只看该作者
觉得你们说的好高升啊,不懂

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发表于 2015-2-1 01:15 | 只看该作者
* p2 H" C; g' y! X* f& e
正需要 谢谢

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 楼主| 发表于 2015-2-5 08:57 | 只看该作者
Colin_SI/PI 发表于 2015-1-27 18:18
9 g( [/ L; {' V1 W) f4 n5 qDDR3的时序参数是基于标准负载测试的

* M# N- z5 S7 `4 D谢谢,关于slew rate和建立保持时间的关系,我还是不太明白:为什么slew rate越大,需要的建立和保持都会变大?) y" F/ N, [$ ~
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