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本帖最后由 stupid 于 2014-3-13 15:52 编辑
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3 @; h7 y7 P4 S已经好久不写技术文章啦,自春节过后也好久没有动笔,今天突然有了兴致,谈谈阻抗测量的一些变化。
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谈这个话题是因为看到了几则Agilent的新闻,分别是他们最近推出的专门针对PCB工厂的E5063A,以及面向25G应用的N1055A,看看他们的典型应用。
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E. U7 x9 V& w% y1. E5063A4 m% a; h6 N. w' i1 C$ f+ z! n
8 R3 d- x6 p6 E& j" S: E: X' T4 }好些年前,Agilent 日本网络研发人员就在E5071C上推出了TDR选件,我们建立实验室时选择的也是这个,主要考虑是除了测S参数,还可以查看阻抗,这么些年用下来,感觉还不错,很多实验室也开始接受这种做法。由于网分测量阻抗的原理和传统的TDR很不一样,所以一开始对于网分测出来的阻抗大家还是半信半疑。但是网分所拥有的TDR无可比拟的大动态,只要频域变换到时域的滤波器等基础算法不断改进,总能在某个时间节点赶上TDR的准确性,甚至最后胜出。当然TDR的算法也在不断发展和改进,比如LeCroy公司推出的SparQ,但是TDR在物理层的弱点并没有得到大的改善。5 X3 Q5 u: V% @! H/ M
) m7 ]: ^- m$ s( _& X由于这个网分主打PCB测试应用,我们来看看PCB工厂目前的测试现状,基本上高频阻抗测量都选用了IPC推荐的Tek 20GHz TDR,TDR测试阻抗的准确度没有问题,最大的隐患在于怕静电,就算加了静电释放模块,也不能完全解决这个问题,因为随着静电的不断积累,TDR模块还是会损坏,何况对于很多工厂来说,一天的测试量是相当庞大的。基于网分的阻抗测试则很好得解决了这个问题,准确、稳定、温度相对不敏感、不怕静电。至于用户关心的价格,也是非常激进。3 W: z! G1 b* y& o3 K8 N% N6 |
( C6 Z2 M l& T8 \; ME5063A-011 Time domain analysis/Test wizard option: $10,0005 U& z6 h% f2 ?. }: I1 B, O0 {
" Y$ A% a6 t& k. X. h" b* J# [$ s4 k
E5063A PCB Analyzer frequency options:; f6 O0 [! I) }* J R, j$ f# X
' `5 F$ q" u" Y8 z" s
E5063A-245 2-port test set, 100 kHz to 4.5 GHz $18,600 g# Z% G0 f% j. a0 i
E5063A-285 2-port test set, 100 kHz to 8.5 GHz $26,800 ; ~7 A& N' X7 u9 E5 b) |7 K* V* { o
E5063A-2H5 2-port test set, 100 kHz to 18 GHz $35,100
! i7 a, j3 ?2 P' X& _0 B
( C+ g1 p8 L( Z2 A2 f& E9 [6 d7 f可以做单端、差分阻抗测量,当然也可以测试S参数。, w' D$ h' c2 B
q9 p- n0 A" z; K& A7 u
+ m8 y! U" ~# ]) x! A也可以并执行测量,提高吞吐- z1 D' J, A7 A; S% R& X3 A9 T
X+ i6 T1 R6 y% b$ }' O
/ `6 {+ H# T0 H. v使用探头和定位器
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0 J2 J# N- W" W: I* P% W: W( r$ T3 v$ N
2. N1055A
3 y$ `% z& P( A1 U. X
/ F' { k# j1 ~8 S, i- aDCA-X在2010年推出,N1045A在2012年推出,这两个产品都非常经典,最有特色的地方是支持多通道的高速测量,比如对于25Gx4的应用。DCA-X是对DCA-J的重大革新,而N1045A则是首次在有限的空间中支持多个高速通道。但DCA-X推出后并没有对TDR模块更新,仍然是老旧的54754A,直到今天,Agilent才终于对TDR模块做了更新,推出了N1055A,类似于N1045A,支持最多16通道的单端TDR测量。0 A, h3 [) X: _# j* R7 W
, d. s; m7 Q7 B4 n* G) [
16通道,单端阻抗测试
0 s m( W# \3 G; r% I
1 c/ g& p& e8 p( w* [- L* H上探针台测试,执行远程(Remote)测量: u1 w8 |) { u2 Q* ~
2 @3 _5 p0 |: S- J
测试背板
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4 h7 V% w/ h! T+ t
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