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[仿真讨论] 关于通过S参数反推介质Dk和Df

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发表于 2013-8-10 12:12 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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各位大大 有没有方法可以通过S参数直接反推PCB基材的扫频介电常数?' B9 `3 x+ z5 m" c& N
据我所知 有大的公司采用传输线建模的方法进行反推 也有用阻抗进行粗略的反推(无法扫频)1 I9 _2 g' A: }
是否有这方面的文献进行佐证 或者 可以借鉴?
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发表于 2013-8-15 11:09 | 只看该作者
除非你有准确的铜皮粗糙度信息,否则反推不可能得到准确结果。粗糙度会影响到反推出来的介电常数值。
# `0 `( j% l0 M* d5 z
- L% A7 g8 R  i, \$ v2 Y能找到近似结果,工程上够用就好,除非你的设计是在挑战极限。

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发表于 2013-9-4 09:01 | 只看该作者
去用VNA量測一條微帶線, 到幾GHz就你自己決定, 然後用模擬軟體去跑同樣的微帶線參數, 慢慢去微調介質常數的設定值, 量測與模擬的S參數就會慢慢逼近, 這應該可以估出你要的值.

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4#
发表于 2013-9-6 01:32 | 只看该作者
kuochiang 发表于 2013-9-4 09:01- ~/ ]2 I# v% U9 G1 l- @0 k
去用VNA量測一條微帶線, 到幾GHz就你自己決定, 然後用模擬軟體去跑同樣的微帶線參數, 慢慢去微調介質常數的 ...

" ]# z+ z4 Y& D+ A4 l{:soso_e179:}
. d3 h1 k' N2 f# Z+ W! A高手啊,你把安捷伦工具的底裤都给扒下来了{:soso_e113:}
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