不同功放参数对比测试条件设定的疑问

OrangeJD

在固定的电源供电电压和负载下，根据Vout=Vin * Av，当在不同的Av下得到相同的Vout，测量对应的功放SNR、THD+N、频率响应、不平衡度、分离度等参数是不同的。
& H/ U1 H& X$ P在对比测试两个不同的功放，为了尽量保持测试条件的一致性和对比的有效性。我们应该选取固定的Av还是固定的Vin作为参考呢？
" X, ^& }; X! @2 ~希望大家给点建议，谢谢！
0 @0 f- z$ d6 E9 i) s
$ {/ U3 v8 n' g5 k2 l此外，从TI的芯片数据手册中看到如下测试数据。
这里的Av和Vin一般是什么样的条件呢，数据手册中没看到对应的说明。

超級狗

先解決第二個問題！

/ k( `  R, ]! E$ vOperatinal Amplifier Noise Density Test Circuit
* d+ k" Z* F" |! G& L! y! y
) K1 [' @6 Y. H9 }也是踢哀（TI）的技術文件講的！

OrangeJD

超級狗 发表于 2013-7-10 23:20
先解決第二個問題！

Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit

你说的是Av=1的意思么？愚钝，望明说{:soso_e113:}

超級狗

OrangeJD 发表于 2013-7-11 09:00
7 L* [8 Y& [, A( t+ B你说的是Av=1的意思么？愚钝，望明说

9 y% K# O6 {1 s8 V/ ]9 N您只是愚鈍，小弟是愚蠢！

{:soso_e127:}

運放的雜訊會隨增益（Gain）一起被放大，很多運放的特性都是設定在 Av = 1（Unity Gain）下的表現。
8 C$ T1 Y8 f( Z0 Z9 W4 v5 \
如果兩個放大器要做比較，觀念上來說應該先固定增益，然後改變輸入大小來觀察輸出差異。
/ u* `/ ^4 _' b$ A; o9 R* M$ ^& y
$ O8 l; q' M% `; J* C{:soso_e172:}

OrangeJD

多谢大神指教

xiaochu312

有学习了一招