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[仿真讨论] 表面粗糙度详解(四)Which roughness model is better?

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发表于 2016-5-13 15:56 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 alexwang 于 2018-7-3 09:29 编辑
1 p+ b/ W- _% q8 p# V# a
3 v! x7 [2 u: v, F
表面粗糙度详解(四)Which roughness model is better?

0 O/ [7 h  Q; g1 U
/ P1 m3 F: t" x' p. E% F2 O# a/ ]+ E6 N: n$ j# [3 @
本文大纲
1. 表面粗糙度( surface roughness)介绍.
2. 表面粗糙度Model的建立.
3. 表面粗糙度( surface roughness)的仿真.
4.仿真与测试的比对,Which roughness model is better?
: @7 e. K, I* a) a

% j; t2 A$ S, r$ Z! H" {- w2 ?7 B5 [% [1 X1 Q1 `. T: i9 a# h4 X
关与Suface roughness
铜箔表面粗糙度是指铜箔表面具有的较小间距和微小峰谷的不平度。铜箔表面粗糙度越小,则表面越光滑,反之相反。表面粗糙度与机械零件的配合性质、耐磨性、疲劳强度、接触刚度、振动和噪声等有密切关系。表面粗糙度起因于材料加工过程
9 H( Y0 I, Q( M
Which roughness model is better?
1.Which roughness model is better?
3 g' [- n1 S$ y& f- @6 ?' |% t
A1:Hammerstad与Huray model的效果差不多,而roughnessmodel的参数都是透过量测S parameter correlation后fitting出来的。

5 m- S6 T' G+ t& ]
A2:(Classic)Hammerstad只适用于粗糙度HRMS<2um,而Huraymodel无此限制,简言之,Groisse或Hammerstad model仅限于光滑表面使用,而一般制程与SI(宽带)应用,则用Huray model。另外Hammerstadmodel在较高频时(30G~),K曲线斜率会变缓(渐渐饱和)。
7 z  s2 D. e. P
下面这张图则是说明只要适当的参数配置,两种model(对于较光滑的表面)可以达到非常接近的效果
* a+ D; P& X' O0 Z$ z6 |% I
% e1 r2 Q% Y  x/ t/ M) P
上图从0~60GHz,两种model的效果都很接近的主因是:请注意左边坐标轴K系数<1.5,这表示此例属于low profile roughness

2 S& g6 Z4 k' J! m, I
2. Howto simulate the resonance absorption peak at 35GHz?
5 T! r: {: k$ T& z4 o4 b
A:Itis caused from glassweaver effect.

9 T( V5 Z1 T9 |6 P4 r# |

0 e; u% D" W) c. [9 h
3.Measurement v.s. Simulation
. Q3 N# E9 B" K( D: v

Huray Model需要定义颗粒大小a (nodule radius),与单位面积颗粒数目N/Af (InSIwave, Huray Surface Ratio=4*pi*a2*N/Af)


- v; x% F8 c, v' t% q; ~, y) ~

4.Why does characteristic impedance Zo increase to infinity while frequency decreases to zero


- G$ F+ n% W8 W5 d
4 T; m* r: A2 w% A4 `1 n
A:特征阻抗 (G是介质损耗所造成,通常很小)

2 G' y8 h4 G/ A1 f8 S1 U
高频时   (这式子也适用于无损的传输线特征阻抗表示)
( z: g$ V# ?5 C# B
低频时 当频率趋近于0  (w®0),Zo趋近无限大

# c, [4 p% m& V. F& m# j
& T* R8 g2 y4 `/ B
-----全文完-----
0 O) F5 e' T; D% P
0 ]7 s( v8 ?3 K% C; j& Z+ i
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