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铜、金键合线的差异.

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发表于 2016-1-8 16:17 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 yuju 于 2016-1-8 16:43 编辑
/ @4 m/ T/ z  L% C5 ]" m- F7 [
: H+ w0 S+ w2 {0 ?' K现今主流的键合线有铜、银、金、铝等合金线。& A! Q* X/ E/ X1 N$ N
铝线多用在Pad间隙大,成本低的产品中;1 x3 l" N* X+ k+ u6 S0 [+ l
高密度键合用的比较早有金线,如今受到成本压力,银合金,铜合金的键合线也已产业化了。
" P9 h8 Q0 B, D. |! g在此对使用比较多的金、铜线做一个对比,供在方案选型中使用.: h$ A: `$ V) r0 `
a. 成本:铜线一般只有金线的1/3左右;
- o& S) _/ i. M; f6 {8 \5 n
b.电性能:铜电导率约0.62μΩ/cm),金电导率约0.42(μΩ/cm);; Z) j7 E4 O8 O2 S+ b% P
c.热性能:铜导热率约400w/mk,金导热率约300w/mk;8 H) l( G; M5 j4 Z# p9 u
d.机械性能:铜刚度高于金线;# q" @* \( F: x9 V
e.层间化合物:金线与芯片pad之间容易产生Au2Al或AuAl2化合物,也容易产生裂纹;而铜与Al之间的扩散则慢很多;3 I! @* I( `3 _! ~9 t

; `* n( A# `1 J铜线具有较多的优势,为什么铜线在近期才开始普及.5 ]7 R3 ]( _8 t7 D! Y7 H% v
主要原因:" u: ]' {3 v0 e& k, i2 `
1.铜线容易氧化,在键合时需要额外的环境来保护键合时铜线不被氧化,增强稳定性,目前一般使用氢气还原方法.由此增加设备的改造,及增加危险性.
2 G3 a: s( i" a6 o2.铜线比金线的硬度要高,在键合时需要更大力度及超声强度去压合,容易在芯片pad的裂损或暗伤,需要修改芯片pad的结构,同时也可以增加pad中的铜成分改善.# N& s6 H3 {$ Y7 b
% w# c  s! K' t, ?6 z9 T/ c

* T) i2 E* E6 f  H" I. c

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发表于 2016-4-25 22:08 | 只看该作者
铜线居多吧~2 W9 R. r" W! {+ q1 D0 C+ h

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发表于 2016-8-1 22:52 来自手机 | 只看该作者
然后呢然后呢

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发表于 2017-3-23 14:59 | 只看该作者
未来铜线应该是主流,基于现在工艺设备还有很多使用金线的,目前金线还是主流。

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发表于 2017-3-29 17:05 | 只看该作者
学习了,

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发表于 2017-4-14 00:10 | 只看该作者
thank your sharing.
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