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如何把芯片的EMI消灭在源头----从封装入手

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发表于 2015-2-15 16:46 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 pjh02032121 于 2015-2-16 11:45 编辑 - Q% G, k5 q8 S+ k! N& w2 F

' m5 M- q5 Y0 u- x& \下图是一块1994年的pcb,现在看来是很简单了,但是20多年前却是绝对的高大上。
0 `) E' V- y) c" _它是一个ECU(engin contol unit)模块,是Motorola(摩托罗拉)给Chrysler(克莱斯勒)专门定做的发动机引擎控制单元,地地道道的发动机心脏。
" s6 u) O' t1 O3 [$ Q  q(那个时代的巨头们的风采,啧啧...)" K. Q" C5 d1 m+ k% s- n
5 \( {5 u/ y! H) z" Z* x8 g  ]$ Q
汽车电子对可靠性的要求,基本和军工是一个等级,所以对EMC的要求也是相当的高。, c! O3 c, c$ l# l

) e* Y/ }$ ~  L' U
/ o3 e) ~2 R/ i4 U- @图中红圈中是PCB上贴装的一个mcm芯片封装(QFP的,BGA技术还没商用),内部封了3个裸芯,三个裸芯具体的功能就不讲了。
2 ^1 O( u0 P; r8 x  W* B: l, x4 v为什么要把三个芯片做在一起呢?(那时多芯片封装还极少商用,主要是成本高,技术不成熟)0 m+ T0 F9 T; @
PCB上有大把空间,三个芯片单独封装完全可以放的下。" }* R" P3 b1 E  D# y3 ]
但是由于单独封装,芯片之间的互联路径太长,造成EMI辐射。问题解决不了,不得不尝试新技术mcm。( v7 f, t$ N2 T# _  g
mcm将三个裸芯放在一个封装里,互联路径短了,信号辐射就降下来了。
; T. [* I- Y1 {) [& k- J- {& F, j4 M6 e
下两图是他们在采用mcm技术前后的emc测试对比。
8 J9 v" ?7 ~+ |% s* ~; `
* R& z; U  N& H3 d  b1 @- @1 n2 i; i, E/ ^. m! B
所以封装的小型化,高集成度不失为解决EMI问题的一个好方法。
: }4 V/ V) P5 X- A! ~) a! A未完待续...8 T" @6 e# O4 U4 Y$ C+ \& Y2 `

; O- B# k; O9 c继续0 P- z# J) O( k, G" a
芯片封装里的电磁辐射来自哪里,看下图是贴在pcb上的封装好的芯片,我们常用的芯片基本都是这种塑封封装。
2 c, R/ g& x6 Y0 I* X9 H* u# f2 P从外观我们看不出什么来,芯片被塑封料完全覆盖。2 \/ c' _. h. s! T

3 B. h% y% v3 u0 v- K' N
8 N; c  g& E% s3 |" x: A继续看下图封装内部的图片,可以看到封装内部的互联金丝、基板走线、以及芯片上的布线等所有的互联结构。* s5 j+ G( ^- r6 @! P9 p% a
塑封料只能对封装内部起到物理保护和化学保护,风吹雨打没问题。但塑封料对电磁辐射完去没有任何招架能力,所有的电路都是完全暴露在电磁环境下的。(可以想象一下,我们的pcb所有的封装塑封都去除掉后的样子,那是一大堆的光屁股裸奔芯片
0 r2 B; C: w! n3 \封装内部的辐射直接到空间,空间的辐射直接到封装内,尤其高频的芯片,更易产生EMI问题。5 ~+ B# _( A4 W4 c. E7 e) {  t* K
6 E: `4 R4 a- A- r+ x2 V
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IC封装设计

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发表于 2015-2-16 10:11 | 只看该作者
顶礼膜拜。。。。。

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发表于 2015-2-16 10:43 | 只看该作者
20年前绝对是顶尖技术!

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发表于 2015-2-16 13:31 | 只看该作者
第一次看到芯片内部实物图
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发表于 2015-2-16 13:58 | 只看该作者
20年前啊,想都不敢想,老外真是先进

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发表于 2015-2-16 15:31 | 只看该作者
见识了,版主

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 楼主| 发表于 2015-2-23 13:22 | 只看该作者
本帖最后由 pjh02032121 于 2015-2-23 13:37 编辑
3 h8 j+ f: G' I3 D2 z6 J
, f% L5 w* h" ]( [: a继续3 o) p- T( z, c0 d" C
小型化只是减小了EMI,并不能完全完全消除,所以sip封装有时候需要进一步的做EMI工作,终极的隔离屏蔽措施。/ h, e5 F* {8 }" k
下图分别是屏蔽盖、供形屏蔽、金属封装的。, x  Y5 i: Z9 ^5 [: S& ^% N, ?* B
- h. Q+ i0 L9 A7 U- `7 M9 K
屏蔽盖,有效的解决EMI问题,无论在封装级还是在系统级都是常用的,也是成本最低的措施。
$ K  f) F/ ]' c7 ]
! `1 s6 K  S6 w" _! ]: S2 f
+ M4 e" f1 D0 I! b& D$ V共形屏蔽,在塑封的表面溅射一层金属,并与IC载板的地层连接在一起,这样所有的元器件都被包裹在屏蔽层内,与外界电磁环境完全隔离。% n6 n' }( O5 V7 X: k0 t

! F: l1 W/ V7 w% r6 d* q+ Z3 O( z& _% ]! s4 u9 w( g. o' q
金属屏蔽,用金属壳体将芯片等完全密封起来,屏蔽效果最佳,成本也高。. o( T% b7 l' J3 S; }! o9 o" Y+ p

! z2 M  d  @8 g& u0 F最近几年最IC载板内埋器件的厂家也越来越多,这也是在封装级解决EMI的一个独到方案。
; C  q, `, f9 N! M; f详情参阅:https://www.eda365.com/thread-105112-1-1.html
" t9 R+ ~" ~+ V7 Z3 v& E* Q
) `& Y2 ~! ?) v0 Y6 n
* d6 i3 m. n5 m( r; c对sip来说,采用屏蔽盖和共形屏蔽层,将封装内部电路与外界电磁环境完全隔离,对去除EMI效果相当好。
) x: F& @4 {( n- {( w. Q: C% M但由于屏蔽层距离芯片太近,处理不当却会适得其反,引起封装内部电路的相互干扰。) l( L. W  [& I2 J5 b8 `9 p$ B
如下图分别是共形屏蔽和屏蔽盖挖空处理,即将敏感部分或干扰源部分的屏蔽层挖空(与地平面分割原理类似),防止引起封装内部干扰。
) q: p- P* l1 q   
2 @  O2 g4 b$ A& e8 u0 t% t+ }* o! M; b# z  x
% o; Q* U; Q1 {: \2 u8 c$ x3 a
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发表于 2015-3-10 19:56 | 只看该作者
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发表于 2015-3-11 09:29 | 只看该作者
以后都内埋了,做LAYOUT的还有价值吗?

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发表于 2015-3-11 10:17 | 只看该作者
20年前绝对是顶尖技术!以后都内埋了,做LAYOUT的还有价值吗?

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发表于 2015-3-15 09:06 | 只看该作者
可望而不可即的,都没接触过这方面

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发表于 2015-3-15 11:13 | 只看该作者
厉害' V- |8 m+ ^/ {2 M

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发表于 2015-3-16 09:55 | 只看该作者
很好很强大的技术啊

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发表于 2016-1-11 11:39 | 只看该作者
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发表于 2016-2-22 16:49 | 只看该作者
太厉害!最近看到新闻《苹果已委托星科金朋和艾克尔负责iPhone 7主要芯片的EMI屏蔽处理》,是不是就是用金属层隔离呢?这种方式能够实现所说的“能更精细地组装电路板,一旦芯片之间的安装空间减小,多出来的空间就能用来安装更大容量的电池”吗?还是采用的内埋的方式?求大神不吝赐教!

点评

内埋成本太高了,iphone7主要还是采用溅射金属--共形屏蔽。  详情 回复 发表于 2016-2-22 20:06
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