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本帖最后由 stupid 于 2014-3-13 15:52 编辑 $ N! I6 U3 s8 r
) C8 C" d% h9 l已经好久不写技术文章啦,自春节过后也好久没有动笔,今天突然有了兴致,谈谈阻抗测量的一些变化。9 \. D/ D! d6 s, {1 {- M- `6 E9 Q$ B3 g
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谈这个话题是因为看到了几则Agilent的新闻,分别是他们最近推出的专门针对PCB工厂的E5063A,以及面向25G应用的N1055A,看看他们的典型应用。
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' a$ I. u. N: o3 q2 i1 P8 S1. E5063A
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1 W+ `6 A3 B8 X$ G好些年前,Agilent 日本网络研发人员就在E5071C上推出了TDR选件,我们建立实验室时选择的也是这个,主要考虑是除了测S参数,还可以查看阻抗,这么些年用下来,感觉还不错,很多实验室也开始接受这种做法。由于网分测量阻抗的原理和传统的TDR很不一样,所以一开始对于网分测出来的阻抗大家还是半信半疑。但是网分所拥有的TDR无可比拟的大动态,只要频域变换到时域的滤波器等基础算法不断改进,总能在某个时间节点赶上TDR的准确性,甚至最后胜出。当然TDR的算法也在不断发展和改进,比如LeCroy公司推出的SparQ,但是TDR在物理层的弱点并没有得到大的改善。
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5 H3 a& v* f$ |1 }由于这个网分主打PCB测试应用,我们来看看PCB工厂目前的测试现状,基本上高频阻抗测量都选用了IPC推荐的Tek 20GHz TDR,TDR测试阻抗的准确度没有问题,最大的隐患在于怕静电,就算加了静电释放模块,也不能完全解决这个问题,因为随着静电的不断积累,TDR模块还是会损坏,何况对于很多工厂来说,一天的测试量是相当庞大的。基于网分的阻抗测试则很好得解决了这个问题,准确、稳定、温度相对不敏感、不怕静电。至于用户关心的价格,也是非常激进。7 w7 [+ s. {7 I* o3 ~
1 R2 x! b9 R3 T9 M% }5 Y+ vE5063A-011 Time domain analysis/Test wizard option: $10,000; I1 `" Q# y3 C% A# B
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E5063A PCB Analyzer frequency options:* B* {. k8 ~& Z* H( @! P1 W
/ q9 \& \9 g8 a. f" fE5063A-245 2-port test set, 100 kHz to 4.5 GHz $18,600 ! m# Z% I' N) p7 L2 @; O
E5063A-285 2-port test set, 100 kHz to 8.5 GHz $26,800 4 p* H! h6 T+ x8 F J: Y
E5063A-2H5 2-port test set, 100 kHz to 18 GHz $35,100
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6 Y$ F! E, R6 p. q; p, O可以做单端、差分阻抗测量,当然也可以测试S参数。 @5 T+ s2 {( k3 Y, Y) h6 {1 O
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& s" p; W; ^- B r# v也可以并执行测量,提高吞吐6 P$ X2 M! d/ h4 t" d+ q
. }8 {6 z z9 D0 u/ X7 D' f) U
. y( K9 U1 q+ K$ C* O/ i( q/ |6 Q
使用探头和定位器 ~' G* c8 e: ^$ ]2 V7 z c
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2. N1055A
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DCA-X在2010年推出,N1045A在2012年推出,这两个产品都非常经典,最有特色的地方是支持多通道的高速测量,比如对于25Gx4的应用。DCA-X是对DCA-J的重大革新,而N1045A则是首次在有限的空间中支持多个高速通道。但DCA-X推出后并没有对TDR模块更新,仍然是老旧的54754A,直到今天,Agilent才终于对TDR模块做了更新,推出了N1055A,类似于N1045A,支持最多16通道的单端TDR测量。4 D$ S2 _. L |# r* f
. p9 \ X6 N/ @16通道,单端阻抗测试
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6 ~6 B+ r, @ n* H, g+ I J上探针台测试,执行远程(Remote)测量2 j8 b" m' n+ l
8 {/ K0 b* ^2 ]0 |1 [; ]/ U; }$ K测试背板) d, z8 C& P. l' t$ S0 a5 ^
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