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[仿真讨论] FPGA, DDR4 SI, Channel 2 Fail(worst case Write enable)

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发表于 2018-6-25 21:18 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 Quantum_ 于 2018-6-25 21:19 编辑
1 h9 `% a( B$ C
& e5 I; e& `7 L  {# e1. 第一次, 阅读SI 报告, 有如下几个问题.8 r! l8 S* h/ N$ b' D
    a. 如图所示, 其中的1T, or 2T 是什么意思. (*本人不是SI 专业)' E7 O2 |! i- e) h
    b. 图片2中, 所示的时间261ps 是指什么时间.
3 ~/ z1 e9 o: h. k6 `8 M4 Q    c. 为何图片3中的worst case 不是261, 而是324 ps?3 F& x# T3 ^+ q; L. T% ]! `
2. 通常, DDR SI 的目的是什么, 主要有哪些参数或者指标? (这里指后仿, 即PCB走线已经完成)
2 D: F  ~( H, ?5 u$ N5 ^
) A, J; n/ j$ I3. 图片所示的Fail,  是哪个/哪些因素引起的? 该如何改进?9 P! V* K2 [% h! w3 k# A6 b
    a. 是走线长度有问题吗? 长了, 还是短了?
, _7 `& ?# S! v# ^4 g! V    b. 可是, 我查看长度表格, 却是正常的范围.
( U! u+ z  L" T! P) y6 o    c. 另外, 如果是长度有问题, 为何U13, U14 (Fly-by在u12之后)的2个devices 却又没有问题.
6 y7 n1 s6 B% |* [1 o/ A! s7 s8 B5 a% [2 M' Y) ~% T4 @  D
以上,谢谢!
% X/ i8 r5 Q- s/ `& I9 ?9 o* p8 |) N7 q% G
  w! l4 C$ x# M3 j3 i: d& N

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