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本帖最后由 stupid 于 2014-3-13 15:52 编辑 7 ~( J: m% a U8 C
$ h8 P3 d0 V$ d. X/ {! A已经好久不写技术文章啦,自春节过后也好久没有动笔,今天突然有了兴致,谈谈阻抗测量的一些变化。, Q1 P' t8 }: r9 Z; P/ m% P( C" j
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谈这个话题是因为看到了几则Agilent的新闻,分别是他们最近推出的专门针对PCB工厂的E5063A,以及面向25G应用的N1055A,看看他们的典型应用。
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1. E5063A
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好些年前,Agilent 日本网络研发人员就在E5071C上推出了TDR选件,我们建立实验室时选择的也是这个,主要考虑是除了测S参数,还可以查看阻抗,这么些年用下来,感觉还不错,很多实验室也开始接受这种做法。由于网分测量阻抗的原理和传统的TDR很不一样,所以一开始对于网分测出来的阻抗大家还是半信半疑。但是网分所拥有的TDR无可比拟的大动态,只要频域变换到时域的滤波器等基础算法不断改进,总能在某个时间节点赶上TDR的准确性,甚至最后胜出。当然TDR的算法也在不断发展和改进,比如LeCroy公司推出的SparQ,但是TDR在物理层的弱点并没有得到大的改善。
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由于这个网分主打PCB测试应用,我们来看看PCB工厂目前的测试现状,基本上高频阻抗测量都选用了IPC推荐的Tek 20GHz TDR,TDR测试阻抗的准确度没有问题,最大的隐患在于怕静电,就算加了静电释放模块,也不能完全解决这个问题,因为随着静电的不断积累,TDR模块还是会损坏,何况对于很多工厂来说,一天的测试量是相当庞大的。基于网分的阻抗测试则很好得解决了这个问题,准确、稳定、温度相对不敏感、不怕静电。至于用户关心的价格,也是非常激进。: ?% Q5 S7 |+ O; ^" q! D) Y. m: u
" O$ S7 g, ^* X( C% f6 U
E5063A-011 Time domain analysis/Test wizard option: $10,000
/ R" c/ P, E5 K' X7 |. \5 ]) j. w" O q# K( W
E5063A PCB Analyzer frequency options:% g) U3 p) m) l6 R
* w x5 o' S8 {3 A9 {1 M8 V- n
E5063A-245 2-port test set, 100 kHz to 4.5 GHz $18,600
, E E, u1 f3 zE5063A-285 2-port test set, 100 kHz to 8.5 GHz $26,800
% I( y9 t" }) i; W' kE5063A-2H5 2-port test set, 100 kHz to 18 GHz $35,100
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) K% e, F9 I: r7 N6 b5 e可以做单端、差分阻抗测量,当然也可以测试S参数。! K! W( k9 G* H4 r" R: p2 m8 m
" H" o0 m( @$ u, ~) K4 J4 n, `" r; j" N; O" k2 d
也可以并执行测量,提高吞吐% `9 C/ a E9 H$ J/ i
- g3 A( c; k+ S' ]4 ~1 M3 A/ E% y9 |
使用探头和定位器
0 j) X7 Y' x# E5 W
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6 o! H/ F7 s$ |4 q: {7 X2. N1055A6 J6 B/ F+ h+ E& G& k2 k
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DCA-X在2010年推出,N1045A在2012年推出,这两个产品都非常经典,最有特色的地方是支持多通道的高速测量,比如对于25Gx4的应用。DCA-X是对DCA-J的重大革新,而N1045A则是首次在有限的空间中支持多个高速通道。但DCA-X推出后并没有对TDR模块更新,仍然是老旧的54754A,直到今天,Agilent才终于对TDR模块做了更新,推出了N1055A,类似于N1045A,支持最多16通道的单端TDR测量。, _: \" Z* [3 J9 J( F ]9 O
# p/ [ _5 d3 `( f {16通道,单端阻抗测试, K* m/ j0 u8 L8 T
$ {3 M }/ d/ A3 y0 t/ I1 I1 E上探针台测试,执行远程(Remote)测量
( r( z8 @2 U, e
- H1 u. l1 }4 m9 U3 L* M测试背板
' o5 S/ b: ~* C0 L" X6 @5 X3 r
) I4 J5 f7 N/ ^% e! X
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