关于DDR设计的一些疑问

田园青山 · 发表于 2015-4-16 15:58

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各位看官：
近日闲来无事，又做了一下三星S3C6410的设计，在DDR部分的硬件开发指南中有下面这么一段话：
数据信号包括DQ，DQM，DQS信号，共分了四个组。
同一小组的信号的长度匹配必须在1.5mm（约60mil）以内，并且尽量在一个信号层内走线，如果同一组的信号在不同的信号层内走线，必须进行PCB的层的阻抗匹配。

数据信号	MASK信号	CLOCK
DQ[7:0]	DQM0	DQS0
DQ[15:8]	DQM1	DQS1
DQ[16:23]	DQM2	DQS2
DQ[24:32]	DQM3	DQS3

因为是新手，所以产生了一些疑问：
1、按照上面的说法，我是不是可以理解：只要满足 “同组信号同层走线” 和 “等长控制60mil” 这两个条件，那么我就可以不做阻抗控制？
2、DDR的阻抗通常我们可以看到两种：单线 50 Ohm 和差分 100 Ohm。但是因为6410的pin间距只有0.5mm，即使封装中pad的值只做到0.2mm，那么出线宽度最大基本上也只能做到4mil而已，再加上板厚控制在1.2mm以内，这样一来，很难控制上诉阻抗。那么：
A、对于实在无法满足单线 50 Ohm 和差分 100 Ohm的地方，阻抗是否可以做调整，比如调整到单线 60 Ohm 和差分 120 Ohm？
B、阻抗值是通过什么确定的？

跪求解惑！！！