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铜、金键合线的差异.

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发表于 2016-1-8 16:17 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 yuju 于 2016-1-8 16:43 编辑 ; L7 H4 o1 s: B. [: k: c+ m+ H
% m  }0 A0 W' f4 M' V6 H
现今主流的键合线有铜、银、金、铝等合金线。# B& ]" O4 R4 c, S( f
铝线多用在Pad间隙大,成本低的产品中;3 B! \3 r- y2 I8 ~! d) @% z- n
高密度键合用的比较早有金线,如今受到成本压力,银合金,铜合金的键合线也已产业化了。
' t8 U6 k# G' |; f/ S. Y; r在此对使用比较多的金、铜线做一个对比,供在方案选型中使用.6 i- m: w* s+ A& f- C
a. 成本:铜线一般只有金线的1/3左右;

+ U6 u; |) ~6 nb.电性能:铜电导率约0.62μΩ/cm),金电导率约0.42(μΩ/cm);
: L. b! k) Z3 v) Hc.热性能:铜导热率约400w/mk,金导热率约300w/mk;7 Q2 l: J( P3 J5 _; h: j. L) E3 |( o: C
d.机械性能:铜刚度高于金线;1 d  M. t% t3 |" c9 p% F
e.层间化合物:金线与芯片pad之间容易产生Au2Al或AuAl2化合物,也容易产生裂纹;而铜与Al之间的扩散则慢很多;( s* Q% ?8 A& U! R  D  a' P
" T5 \( \( U$ l+ }, C
铜线具有较多的优势,为什么铜线在近期才开始普及.
6 N2 j% r, O) Z0 [主要原因:7 p" s/ J' `; z5 K$ D4 J
1.铜线容易氧化,在键合时需要额外的环境来保护键合时铜线不被氧化,增强稳定性,目前一般使用氢气还原方法.由此增加设备的改造,及增加危险性.% L/ Y2 g8 q9 W* z  s# ^4 i! G
2.铜线比金线的硬度要高,在键合时需要更大力度及超声强度去压合,容易在芯片pad的裂损或暗伤,需要修改芯片pad的结构,同时也可以增加pad中的铜成分改善.
( X2 d6 s( U, i/ Z# N. d4 c! p7 {9 u/ l6 ?; c, m8 _

, x+ U$ J7 H) G- f$ ]; h+ Q9 f5 D* y

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发表于 2016-4-25 22:08 | 只看该作者
铜线居多吧~2 ?9 A- O9 \7 E

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发表于 2016-8-1 22:52 来自手机 | 只看该作者
然后呢然后呢

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发表于 2017-3-23 14:59 | 只看该作者
未来铜线应该是主流,基于现在工艺设备还有很多使用金线的,目前金线还是主流。

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发表于 2017-3-29 17:05 | 只看该作者
学习了,

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发表于 2017-4-14 00:10 | 只看该作者
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