公开招募信号完整性新书《Power Integrity》翻译

stupid

如题，已同出版社谈好，拿到了该书的翻译权，所以翻译出书可谓是名正言顺。

为了让大家都能参与进来，能够共同学习，共同提高，特通过网站招募翻译人员。

当然，翻译是有偿的， 每千字160元，其中出版社每千字出60元，赞助商每千字出100元。
! n, X5 q3 T1 }2 a1 b
翻译者也有要求，有一定的硬件基础，熟悉电源配送路径，熟悉高速电路设计，熟悉电源测试。当然技术之外，希望文笔也过得去，不要写出来的文字跟Google 翻译出来的一样。

5 r, V) F1 I& l  H+ }: _# d+ G* n附上之前在一周往事里的配图，总共12章，翻译者在5名以内为宜，即每人负责2～3章。



" A  I2 ?' \" I4 F3 t% W关于该书的一些简介

2 h0 R* U4 {) Y: f% h% o; A
2 P! y# d% @9 |4 i1 [& B/ z* q3 I. jSteve Sandler用来测试电源的一些探头
! D% V7 i) y1 h' i. L+ {7 y5 D

$ A% ]  u2 U9 h$ V  S8 |3 g, S8 x

2 @4 j* ~; d! Q9 ?! i) K" O
有意者，请回帖或发消息，我们会负责确认翻译名单，计划是5月中开始翻译。
, P( ]! P- ^4 m5 ~" z
报名者，请简单说明想翻译的章节，以及从业背景，举个例子。

1 H' e+ K3 @1 Fstupid, 8年以上高速互连设计从业经验，熟悉各种测试设备和理论，想翻译的章节为：
& @1 ]$ \" M9 X, R% n
  N' F, B- N7 N第3章：测试界面和探头
第4章：测试设备
第10章：纹波和噪声

8 E7 {) ^1 M( R, l. q) C: o此贴亦接受读者的预订和厂商的赞助。具体细节另开贴说明，这里简单介绍一下，预订的读者可以先读到该书精华部分的译文，以及独家的勘误和补充；而赞助的厂商，则一并在出版页面说明，赞助费用将全部作为稿费发给译者。
# {% r9 f" j8 S) o, `
0 {% v" Z! C( G9 E6 N
9 H9 X0 w+ L1 @2 M: I2 M进度更新，本月各章翻译均进入尾声，有望在8月中收尾。稍后我们会放出部分中英文对比样章，供大家批评。

qingdalj

大家好，该书的翻译工作现在由我跟进，合同已经签订完毕，本书的翻译人员名单也已经确定。由于没有大家的联系方式，我们只能通过站内信联系大家，请大家及时查阅站内信，经确认无误后我们会统一公布翻译人员名单，谢谢

airsmiler

支持一个哦

若华110

contents
; B3 z4 y, {. m5 l* M
1  Introduction    .................................   1
' b' J7 M  q& GWhat You Will Learn from This Book   ............   1
Who Will Benefit from This Book   ...............   2
, I, |$ |/ Q# m% _/ \: f! l$ N, a" XThe General Format of This Book    ...............   2
Why Measure   ..........................   3
+ I% d( q2 H2 V  j3 z" aObtain or Validate Data    .................   3
' u- l  e! Y" J$ [8 o+ b, WDesign, Selection, and Optimization    .......   5
Troubleshooting   ........................   5
Validation or Verification   .................   7
% A; a. ]& L/ G! K7 r  ^Terminology    ...........................   7
& t, P( b0 V; ^- q5 O4 [; H+ \  2  Measurement Philosophy   .....................   11
5 _4 g8 Q1 I9 H2 d5 w; WCause No Damage   ............................   11
Measure without Influencing the Measurement   ...   11
Validate the Test Setup and  
  i- t/ c! L' P$ x- [9 p5 o4 UMeasurement Limits   ........................   12
Measure in the Most Efficient and Direct Way   ....   14
7 X( j# @$ z3 {9 ?Noninvasive versus Invasive  
0 d, \; k: w, ]  JMeasurement   ........................   14
In situ Measurement   ....................   14
; R4 l& ]+ _: y: h: {Indirect versus Direct Measurement    .......   14
( I& J! h: `) `0 sDocument Measurements Thoroughly    ...........   15
The Test Engineer and Contact  
, I: U1 v# A% M. OInformation   ..........................   15
/ w: X  C2 K9 ?! L! aThe Purpose of the Test   ..................   16
Simulated or Expected Results if  
Available   ............................   17
The Date and Physical Location  
& `8 o  w' K5 m- K5 lof the Testing    ........................   18
0 ^/ O; g. [4 e( ]) _% e' EOperational Test Environment  
and Conditions    .......................   18
The Model of Each Piece of Test Equipment  
(Including Probes) and Verification That  
They Are Calibrated    ..................   18
Setup Diagram and/or Picture    ............   19
Measurement Annotations and   
Comments    ..........................   20
Any Observed Anomalies    ...............   20

3  Measurement Fundamentals   ...................   21
Sensitivity    ...................................   21
* A) K( H2 j# P8 o1 q. JNoise Floor   ..................................   22
Dynamic Range   ..............................   22
Noise Density   ................................   27
Signal Averaging    .............................   31
" x9 @" b- X/ l4 h; l  l8 O# y" X8 UScaling   ......................................   33
Attenuators   ..................................   34
; J. H. W) \3 w' K8 uPreamplifiers    .................................   35
1 D# w% M( [: g& ZLinear versus Log Display    ...............   36
Measurement Domains   ........................   38
Frequency Domain   ......................   38
; W2 ], G; T% T0 i; `, k" K" nGain and Phase    .........................   38
S-Parameters    ...........................   38
Impedance    .............................   39
Time Domain   ...........................   40
  O2 T; r/ G9 U9 r% h# O8 ]  cSpectrum Domain   .......................   42
Comparing Domains   ....................   44
Endnotes   ....................................   46
) D. [2 x, H) \  4  Test Instruments    .............................   47
9 t6 Q5 T2 D# A5 l( y. J5 m. uFrequency Response Analyzers and Vector  
7 H. e( W) f* K: ]4 r/ RNetwork Analyzers   .........................   47
, Z9 r3 w4 Q4 @8 n! [4 KOMICRON Lab Bode 100   ................   49
& ^* N, _+ \2 ]- R, R3 RAgilent Technologies E5061B   .............   50
Oscilloscopes    .................................   50
, |( U) ^" ~/ J! W- @Teledyne Lecroy Waverunner 6Zi    .........   51
' P. o7 g9 w: B$ K0 r5 G6 vRohde & Schwarz RTO1044   ..............   52
8 v$ H- ~) E! PTektronix DPO7000   . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   53
+ O# Z2 g2 M9 P& `, a3 LTektronix DPO72004B    ...................   54
Teledyne Lecroy Wavemaster 8Zi    .........   55
Tektronix MSO5204    .....................   56
; Z/ I  ?% {0 K8 O8 j( j' ]3 d6 X. [Teledyne Lecroy HDO6104    ...............   56
Tektronix MDO4104-6    ...................   58
OMICRON Lab ISAQ 100   ................   59
8 P) j4 {) K  X5 rSpectrum Analyzers    ...........................   59
* y7 d5 r$ J8 V) n$ K! Y2 NTektronix RSA5106A   ....................   59
$ ]  g' ~, L. n8 A' SAgilent Technologies N9020A   .............   60
1 X% x  L8 ]: p, U* ?# aAgilent Technologies E5052B   .............   61
Signal Generators    .............................   62
Agilent Technologies E8257D    .............   62
- w1 }" d! r4 J. a4 O2 eTDR/TDT S-Parameter Analyzers   ...............   63
Picotest G5100A   ........................   63
+ H$ @  C5 b9 [9 r
Tektronix DSA8300/E8010E   ..............   63
Teledyne Lecroy SPARQ 4012E    ...........   65
) p4 B, M, k+ V1 M2 i  F/ f( o1 e; jAgilent Technologies E5071C    .............   66
5 G7 ?' w8 F" F" ~  5  Probes, Injectors, and Interconnects   ............   69
Voltage Probes   ................................   69
Probe Circuit Interaction    .................   70
/ f9 _! r1 ~( U: P& ?! zFlattening the Probe Response   ............   72
Confirming Measurements    ...............   74
Selecting a Voltage Probe   .................   75
Passive Probes   ..........................   77
, ^8 U/ U# _5 W" H8 y2 pActive Probes   ..........................   79
Differential Probes   ......................   79
  {: A" M" c( b7 b6 c* R: j5 E2 BSpecialty Probes   ........................   80
. [1 c$ Y6 f/ b: MOther Connections   ......................   91
2 D# t  s+ n+ \" A  kEndnotes   ....................................   91
  u4 R, _' f5 c/ @9 n4 a7 v  6  The Distributed System    .......................   93
  J/ ^$ V# e' l) j2 s8 Z7 lNoise Paths within a Voltage Regulator   ..........   93
3 e- l3 Q; ~' M  d/ Q5 F, |Internal Noise   ..........................   95
4 u, [- V+ s; t7 zPower Supply Rejection Ratio (PSRR)   ......   95
" C" r5 T1 W5 J8 m' SOutput Impedance   ......................   99
Reverse Transfer and Crosstalk    ...........   99
Control Loop Stability    .........................   101
# a  Z, f' l% r5 S7 I9 MImpact on Output Impedance   ............   101
" v6 c- r* g6 ~* A7 ?( r" rImpact on Noise   ........................   102
- @0 k3 P8 o$ Q# X% ?- j+ jImpact on PSRR   ........................   102
Impact on Reverse Transfer   ...............   103
) z; w: O% m  T+ J8 O6 bHow Poor Stability Propagates through  
the System    .................................   103
Adding the PDNs    .......................   106
Endnotes   ....................................   108
  7  Measuring Impedance   ........................   109
" A1 E) j9 l* k8 N0 q4 ?2 QSelecting a Measurement Method    ...............   109
5 W# I- X, x3 g3 b6 r8 X5 SSingle-Port Measurements    ...............   109
- H4 U! r( K8 N$ xTwo-Port Measurements    .................   123
# D. D7 ~, F! kCurrent Injection Measurements   ..........   139
" H  P  m2 E+ V1 c2 n9 d3 \Impedance Adapters   ....................   142
Endnotes   ....................................   148
  8  Measuring Stability   ..........................   151
Stability and Why It Matters    ....................   151
Control Loop Basics    .....................   151
% G3 ]3 s3 z5 k; \2 w% ~Gain Margin, Phase Margin, Delay  
Margin, and Stability Margin   ...........   153
0 R6 K9 u% i; k/ ?$ sBode Plots and Nyquist Charts    ...........   154
% M; @0 C( f' N+ ix
$ S5 }; N+ u7 [9 s& S2 d0 t  Contents
Open-Loop Measurement   ................   159
7 S0 ~2 E% B% M4 O0 [. Q# hInjection Devices    ........................   161
Small Signal versus Large Signal   ..........   164
# L* y- _: p4 iClosed-Loop Measurement   ...............   169
( H% L5 K" b3 I% L/ MON and OFF Measurements   ..............   170
2 x7 q: y  Q' t( SForward Measurements    ..................   171
Minor Loop Gain   .......................   171
/ |8 @5 o, p! ^( }) f0 ~Noninvasive Closed-Loop Measurement    ...   174
Endnotes   ....................................   179

- U5 T; u1 Z. k; X5 F& m7 O9  Measuring PSRR   .............................   181
+ U% h: o; @0 tMeasurement Methods   ........................   182
1 L; h# e! k& v0 H  z0 k5 [6 p0 b' Q6 RIn-Circuit or Out-of-Circuit   ...............   182
  }' {0 p( i1 JDirect or Indirect Measurement    ...........   182
Modulating the Input   .........................   183
9 z5 s9 D9 k1 Y( R( TLine Injector   ............................   184
Current Injector   .........................   188
DC Amplifier   ...........................   189
5 G4 Y$ u, p2 n5 t2 w6 J# pChoosing the Measurement Domain   .............   189
; `: ?6 n5 q' m2 L/ e7 t1 qVNA   ..................................   189
Spectrum Analyzer    ......................   189
/ C# I. d0 |4 oOscilloscope   ............................   190
Probes and Sensitivity    ...................   190
Endnotes   ....................................   200
  10  Reverse Transfer and Crosstalk   ................   201
Reverse Transfer of Various Topologies   ..........   201
/ u( V2 c/ i3 T5 h! A5 SSeries Linear Regulators    .................   201
Shunt Regulators    .......................   201
9 t1 q; t) ?4 O5 D  y4 g. U5 MPOL Regulators   .........................   203
$ x& i: c6 [+ G/ z% AOperational Amplifiers   ..................   204
9 s3 D9 D$ W3 p6 rModulating the Output Current   ................   204
; z8 ^$ C. i# E9 B# B, d+ C2 FCurrent Injector   .........................   205
- P) W: z7 w5 F+ w* {DC Bias Injector   ........................   205
. T: M% ^% e/ n& T0 r  OMeasuring the Input Current   ...................   205
Calibrating the Measurement    .............   205
+ x- m) v8 Z# b, y! {* ^7 @Measuring the Input Voltage   ...................   207
. t6 q( ]' B/ ^; [& f! r- qCalibrating the Measurement    .............   209
# d1 f% y2 ]+ VIndirect Measurement    .........................   209
Endnotes   ....................................   216
  11   Measuring Step Load Response   ................   217
Generating the Transient    .......................   217
1 p' g* N' W- C* e$ v; H. ~Current Injector versus Electronic Load   ....   217
Slew Rate   ..............................   219
Current Modulation Waveform    ...........   221
  Contents
xi
; b4 d  F; J* u2 |& d8 kMeasuring the Response(s)    .....................   223
% `4 }$ t# u. k* GLarge Signal versus Small Signal   ..........   223
# |2 X- E8 a+ t7 _3 V- D1 pNotes about Averaging   ..................   224
Sample Rate and Time Scale   ..............   226
4 H+ b1 V) q  B3 _% V% F2 \Endnotes   ....................................   232
  C, [/ k5 P/ A4 L+ o* S& K  12  Measuring Ripple and Noise   ..................   233
0 L1 \* }9 {  Q4 ~( v* t7 VSelecting a Measurement Method    ...............   234
" M& Z: R- ]6 {/ M( e, rIn or Out of System    .....................   234
Direct or Indirect     .......................   234
" W9 L: B5 @2 O5 S9 |' PTime or Spectral Domain   .................   234
6 m/ d3 J5 Z) v# q3 c5 V& p: JConnecting the Equipment    .....................   235
Passive Scope Probes   ....................   235
Active Scope Probes    .....................   236
Direct 50-W Terminated Connection    .......   236
Choosing the Equipment  . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .    237
7 |# M7 y3 g+ q  A3 _5 b; J  [8 fAveraging and Filtering   .......................   252
Endnotes   ....................................   252
7 w7 j. S3 {6 v& a% z1 b% c  13  Measuring Edges   .............................   253
( @( u" V7 f0 [7 }; }2 ERelating Bandwidth and Rise Time   ..............   253
2 D$ F% o. U6 ^% {5 j" ~Cascading Rise Times   ...................   256
1 Z# Z8 N9 j. r' fImpact of Filters and Bandwidth  
Limiting    .............................   257
Sampling Rate and Interleaved Sampling   ........   261
Interpolation    .................................   264
0 s9 ^' _4 I8 z1 `! ECoaxial Cables  . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   265
Effects of High-Frequency Losses    .........   265
The Criticality of the Probe Connection   ..........   267
* s9 Z2 A' }- X/ kPrinted Circuit Board Issues     ...................   269
; F9 j! o: |' i& u0 _$ u8 p7 GProbes    .......................................   269
Endnotes   ....................................   273
  14  Troubleshooting with Near-Field Probes   ........   275
  V0 u- J) c& R$ g2 `% oThe Basics of Emissions   ........................   275
The Near-Field Probes    .........................   277
, _7 X6 X& S1 DProbe and Orientation    .........................   278
The Measurement Instrument   ..................   281
Spectrum Gating   ..............................   281
Endnotes   ....................................   295
  15  High-Frequency Impedance Measurement   ......   297
Time Domain   .................................   297
Time Domain Reflectometry   ..............   298
Calibration    ...................................   299
Reference Plane   ...............................   300
& i! U: |. O( `; U1 t2 ixii
, @8 ?$ I: o, @  o% _1 H: c  Contents
Setting TDR Pulse Rise Time    ...................   303
Interpreting TDR Measurements    ................   304
Estimating Inductance and Capacitance   ..........   307
1 t  N, D8 z5 T! D8 n" k& X# bS-Parameter Measurements   ....................   314
) C5 T& j8 h: c: vEndnotes   ....................................   316
+ e* G. B" x' k    Index    .......................................   319

stupid

对于译者来说，翻译是一件枯燥的事，但对于读者来说，一本好的译作，不光能带来知识，还能带来视野的拓展。如果本书能让读者产生酣畅淋漓，意犹未尽的感觉那就好了。

) {, I$ _$ H" v9 ~: T但是在本书的现有翻译章节里，还是有很多译作令我非常不满意，为了保证本书的翻译质量，我们已在做严格的校对。请对翻译仍感兴趣的人，单独试译以下段落，我会从中筛选一些作为本书的译者替补或者下一本书的译者。
% `0 h, N. q' w1 e8 L& V
友情提示，翻译是一个锻炼文笔和自我学习的过程，没有多少经济收入，每千字出版社给出的稿费能卖 10平方厘米房子（以深圳每平方6万计）
3 K0 Y  u2 J, D- l2 H0 O: Z( i
& R/ D5 ]/ l1 J  WMinor Loop Gain
2 N% w* r. S; Z8 B" OThe minor loop gain assessment is very popular for assessing the stability
! o3 N/ O9 E4 D$ R+ c. Zof an input filter combined with the negative resistance of a switching converter. This is also the method generally used to verify system level stability involving independent circuits. A practical example of such a black box stability assessment is the interaction between a DC/DC converter and an electronic load. Each can be considered
, n! Y& f! P) G! i* ~5 A* Uas an independent circuit and each can be stable by itself, yet the combination of the two may not be as stable as either one. Output impedance measurements of a DC/DC converter connected to a B&K model 8540 electronic load, and the same converter connected to a Picotest J2112A current injector (the load current), are shown in Fig. 8.23. This measurement is an S-parameter measurement and must be transformed to Ohms. This transformation is detailed in Chap. 7, though the result is included here for convenience. For a 50-Ω VNA, the transformation is defined by Eq. (8.11):

: r- m* f! x0 M- U( S; ?Open-Loop Measurement
The device-under-test (DUT) control loop must be operating in its normal linear region in order to measure the loop gain. This may be difficult due to small offset voltages and the high DC gain of the feedback
/ p+ F2 V+ l+ vamplifier. The operational amplifier shown in Fig. 8.8 illustrates the issue. Using the open-loop gain of 95 dB from the measurement in Fig. 8.4, and allowing a 1-mV offset in the operational amplifier, results in a 56-V output. Since the operational amplifier is not likely connected to a supply voltage that can allow a 56-V output, the amplifier
. g- m; y. I0 n0 N' G7 jis not in its linear region (i.e., saturated or railed).

qingdalj

; l/ q$ v0 G$ L
$ K) t: v) z& ]我的意向翻译章节
1 X" ^3 a( c. I  E$ D$ Q1 n十一、阶跃负载响应测量
9 o# o0 g) C8 m; L十二、纹波和噪声测量
十三、信号沿测量

cousins

: {, u) |& `  M2 ]) F, b! t
Colin, 7年以上高速系统设计从业经验，熟悉SI/PI理论，各类测试设备，想翻译的章节为：
第六章  分布式系统
第七章  阻抗测试
第八章  测试稳定性

9 {9 l& R; c/ g& u: `* c# O
) U3 n: `/ G! h( a- z6 H) U顺便问下，要求翻译的周期为多久？
0 z: n' e, L5 Y

True

报名

hssinian

有对应的电子版书籍吗？
( j4 ^' H! |) |! ^) B

hssinian

hssinian 发表于 2015-5-4 13:32
6 p6 |8 W, O  C- J9 V有对应的电子版书籍吗？

能否先睹为快啊？

若华110

# H& `! k6 V( a/ w+ c/ N若华，硕士，2年以上高速（100G）光模块电路设计和测试经验，熟悉信号完整性和电源完整性理论分析、仿真和测试。 而且，大学期间为校文学社社长和校刊责编，文笔或许还过得去。  非常希望加入行列翻译和学习。  

具体章节目录告知后，可选择。

stupid

, b" o0 o8 [  \) l) r* L2 Jhttps://www.picotest.com/Power-Integrity-Book.html
. u# K" j' ?) j8 ~4 Y
6 p; e3 d# |8 a5 a3 E, Y# q需要选章节的，先从这里看
9 j, x9 Q. R* m* w! a0 j" E) Q1 T一、简介
二、测量原理
三、测量基础
四、测试仪器
五、探头、夹子、互连
六、分布式系统
七、阻抗测量
八、测量稳定性
; Q# B; @9 A' y" p九、PSRR测量
$ Q/ M% v8 a. f/ A- W" L( j十、反向变换和串扰
十一、阶跃负载响应测量
十二、纹波和噪声测量
十三、信号沿测量
: D$ s0 ~. {5 [. u十四、利用近场探头调试
* Z4 G) V+ j' r( |$ j( h. y十五、高频阻抗测量

bingshuihuo

好书啊
0 R; |9 a. ]& K7 H0 c0 p  e& Q如果被有经验的人翻译出来的话

xyd20405

xyd20405, 4 年以上硬件设计经验，熟悉信号完整性理论，想翻译的章节为：

9 i0 M* W# R. c6 p$ V+ k$ J一、简介
1 a8 L; k3 Q; f二、测量原理
三、测量基础
5 e0 R0 f; @' B% ?. H5 ~

若华110

那剩下的我来弄吧。第9 、13 、14、 15章。

hagelee

: m9 s  }" u# z
我报名 纹波和噪声测量 和信号沿测量 部分。

阿斯兰

帮忙顶上去~~~

Coziness_yang

coziness_yang，7年工作经验，从事高速信号，目前硕士在读。
四、测试仪器
( c! H1 F1 ?  F+ d* y' f- l* D五、探头、夹子、互连