公开招募信号完整性新书《Power Integrity》翻译

stupid

如题，已同出版社谈好，拿到了该书的翻译权，所以翻译出书可谓是名正言顺。

% a0 ^) W9 E) @$ t; Z为了让大家都能参与进来，能够共同学习，共同提高，特通过网站招募翻译人员。

当然，翻译是有偿的， 每千字160元，其中出版社每千字出60元，赞助商每千字出100元。
$ a* V% V+ m8 n& h+ @) n
翻译者也有要求，有一定的硬件基础，熟悉电源配送路径，熟悉高速电路设计，熟悉电源测试。当然技术之外，希望文笔也过得去，不要写出来的文字跟Google 翻译出来的一样。
, ^' \- T. i2 U+ t; l
! N* _& @* U( c8 c9 R附上之前在一周往事里的配图，总共12章，翻译者在5名以内为宜，即每人负责2～3章。



7 L( {9 m( B+ A+ B; W  J关于该书的一些简介

* V/ {7 }  h- T2 c. H2 e/ D" U, T
Steve Sandler用来测试电源的一些探头
6 ?: b4 p1 ^- o; {# F
/ x# B5 E6 A. R  Z
; @/ `) j+ h' H% r; w
: o9 w8 f8 Q, p9 R+ R

9 j. K/ q6 |8 Z! [. J4 b有意者，请回帖或发消息，我们会负责确认翻译名单，计划是5月中开始翻译。

% r2 M' ]/ g! o* O* ]报名者，请简单说明想翻译的章节，以及从业背景，举个例子。
0 c+ J6 S. {. O. h- `$ c& B. a# U
# ?. T& c" f; ?: d# j1 y! N8 fstupid, 8年以上高速互连设计从业经验，熟悉各种测试设备和理论，想翻译的章节为：
" t, K3 W. U* q
第3章：测试界面和探头
第4章：测试设备
; ^) s! O+ h( F第10章：纹波和噪声

$ L) Y/ C0 W9 K) X此贴亦接受读者的预订和厂商的赞助。具体细节另开贴说明，这里简单介绍一下，预订的读者可以先读到该书精华部分的译文，以及独家的勘误和补充；而赞助的厂商，则一并在出版页面说明，赞助费用将全部作为稿费发给译者。


进度更新，本月各章翻译均进入尾声，有望在8月中收尾。稍后我们会放出部分中英文对比样章，供大家批评。

qingdalj

大家好，该书的翻译工作现在由我跟进，合同已经签订完毕，本书的翻译人员名单也已经确定。由于没有大家的联系方式，我们只能通过站内信联系大家，请大家及时查阅站内信，经确认无误后我们会统一公布翻译人员名单，谢谢

airsmiler

支持一个哦

若华110

contents
. h. D- I) x( q, e  ~
9 ?" n+ A4 z/ D3 z7 o$ h) S1  Introduction    .................................   1
7 a/ @, x# l6 f. g* c' S1 X5 k7 ]0 ~What You Will Learn from This Book   ............   1
+ d5 S6 n5 S5 Z$ O- x1 }Who Will Benefit from This Book   ...............   2
7 A9 P6 L9 n( p- ~2 n3 oThe General Format of This Book    ...............   2
Why Measure   ..........................   3
Obtain or Validate Data    .................   3
Design, Selection, and Optimization    .......   5
- u6 |* g; s9 QTroubleshooting   ........................   5
Validation or Verification   .................   7
$ ], H. B+ _6 P/ O9 x2 NTerminology    ...........................   7
  2  Measurement Philosophy   .....................   11
& B! d0 y, d) rCause No Damage   ............................   11
Measure without Influencing the Measurement   ...   11
! |& O! F1 r* w/ G& y( \, g4 KValidate the Test Setup and  
Measurement Limits   ........................   12
+ ?2 n: z" \8 kMeasure in the Most Efficient and Direct Way   ....   14
" Y" ?! p# m2 j8 B4 u) _( ^$ N$ DNoninvasive versus Invasive  
1 y& V! x% O& ?0 b' o( d7 ]Measurement   ........................   14
5 b' m; c; H! @4 F: t4 n( T: PIn situ Measurement   ....................   14
5 A% z! V8 v( K8 I$ Z( ^# EIndirect versus Direct Measurement    .......   14
Document Measurements Thoroughly    ...........   15
The Test Engineer and Contact  
Information   ..........................   15
The Purpose of the Test   ..................   16
Simulated or Expected Results if  
Available   ............................   17
. T8 o/ m4 j( w. m1 }+ e! Z3 AThe Date and Physical Location  
& M$ j+ l* |/ z( ]of the Testing    ........................   18
( z8 ]- ~/ J0 aOperational Test Environment  
and Conditions    .......................   18
The Model of Each Piece of Test Equipment  
(Including Probes) and Verification That  
They Are Calibrated    ..................   18
) r+ y$ h/ L. `7 FSetup Diagram and/or Picture    ............   19
  M  U" ^. ^$ n: I# ]9 BMeasurement Annotations and   
Comments    ..........................   20
Any Observed Anomalies    ...............   20
& A/ T* o; h3 K9 A- [* o0 }
3  Measurement Fundamentals   ...................   21
( k' [' F7 h, `8 d5 r' TSensitivity    ...................................   21
& t" a; i' ~1 [+ \. R7 NNoise Floor   ..................................   22
Dynamic Range   ..............................   22
Noise Density   ................................   27
9 `0 j0 J8 }( a) u/ r8 Z5 N+ L; lSignal Averaging    .............................   31
, D6 S' ~4 V3 Y7 tScaling   ......................................   33
) t5 k2 x3 W- ?/ R8 RAttenuators   ..................................   34
Preamplifiers    .................................   35
Linear versus Log Display    ...............   36
7 O4 f. `& q1 t  }  U3 v2 O/ L5 q/ L$ UMeasurement Domains   ........................   38
; V$ p) ^- Z  \) [! w; f% D  ZFrequency Domain   ......................   38
: m1 k/ R, H6 _6 qGain and Phase    .........................   38
3 s5 A* ]0 q) ~: R  K: B5 F. ~- l6 b. |S-Parameters    ...........................   38
Impedance    .............................   39
5 W+ k$ _& q7 }2 XTime Domain   ...........................   40
Spectrum Domain   .......................   42
Comparing Domains   ....................   44
) C3 h8 J2 ~+ S8 k3 qEndnotes   ....................................   46
  4  Test Instruments    .............................   47
Frequency Response Analyzers and Vector  
6 }9 m0 U0 B/ o$ c+ {Network Analyzers   .........................   47
OMICRON Lab Bode 100   ................   49
Agilent Technologies E5061B   .............   50
Oscilloscopes    .................................   50
Teledyne Lecroy Waverunner 6Zi    .........   51
4 Z2 v4 E6 a) q! [1 f% p$ T0 YRohde & Schwarz RTO1044   ..............   52
Tektronix DPO7000   . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   53
3 ?0 H1 l$ ~8 @2 S( O4 I1 Y5 MTektronix DPO72004B    ...................   54
+ K0 |0 \$ |$ q% r* d' C) STeledyne Lecroy Wavemaster 8Zi    .........   55
6 r. j, k0 _2 O' {! lTektronix MSO5204    .....................   56
) ^2 N* W1 P: J8 e* H( |Teledyne Lecroy HDO6104    ...............   56
Tektronix MDO4104-6    ...................   58
OMICRON Lab ISAQ 100   ................   59
Spectrum Analyzers    ...........................   59
) b/ Q7 u3 g+ VTektronix RSA5106A   ....................   59
Agilent Technologies N9020A   .............   60
Agilent Technologies E5052B   .............   61
0 u/ z6 |6 C% u+ N/ }+ i! QSignal Generators    .............................   62
Agilent Technologies E8257D    .............   62
TDR/TDT S-Parameter Analyzers   ...............   63
Picotest G5100A   ........................   63

8 V, ^( P7 [* k' hTektronix DSA8300/E8010E   ..............   63
- q& }4 E* G5 n# o) B/ STeledyne Lecroy SPARQ 4012E    ...........   65
8 t1 v" O$ ^9 v: e% [3 L8 KAgilent Technologies E5071C    .............   66
" F1 o4 _! n8 H- F! Z- R  5  Probes, Injectors, and Interconnects   ............   69
Voltage Probes   ................................   69
Probe Circuit Interaction    .................   70
Flattening the Probe Response   ............   72
: \; Z0 B1 G9 h$ h: N6 FConfirming Measurements    ...............   74
Selecting a Voltage Probe   .................   75
: l7 s& Z3 S  H6 tPassive Probes   ..........................   77
* ~$ z0 V3 o0 `' p3 lActive Probes   ..........................   79
- c' ~4 w2 D' s- ~5 L' j4 ?Differential Probes   ......................   79
Specialty Probes   ........................   80
2 A) e& i& F  U9 z- M2 v6 n- MOther Connections   ......................   91
Endnotes   ....................................   91
1 P9 p9 K  h- _/ Q) i5 A  6  The Distributed System    .......................   93
) L' b; n+ L+ A% q; g. l3 xNoise Paths within a Voltage Regulator   ..........   93
Internal Noise   ..........................   95
Power Supply Rejection Ratio (PSRR)   ......   95
Output Impedance   ......................   99
Reverse Transfer and Crosstalk    ...........   99
+ w$ Z- }) Q2 Z. E7 q7 TControl Loop Stability    .........................   101
Impact on Output Impedance   ............   101
1 l& w% m; c3 G2 p: e5 }Impact on Noise   ........................   102
" I0 i2 b# M# A: `  AImpact on PSRR   ........................   102
7 _: t) t2 D9 [2 |Impact on Reverse Transfer   ...............   103
8 S* j' q( {: @* Z. u6 ~2 bHow Poor Stability Propagates through  
6 x4 Y2 \" Z* f! q2 E' {8 w) sthe System    .................................   103
0 O' @6 l/ s+ |* I0 k0 nAdding the PDNs    .......................   106
Endnotes   ....................................   108
' s5 f) }- ^3 j3 c  7  Measuring Impedance   ........................   109
Selecting a Measurement Method    ...............   109
9 [, l& b: _. w" c$ W1 mSingle-Port Measurements    ...............   109
Two-Port Measurements    .................   123
" @# l) f; E* UCurrent Injection Measurements   ..........   139
" q7 {# j/ t* a( w/ q" ?. P" sImpedance Adapters   ....................   142
7 |+ S4 h: S6 @' eEndnotes   ....................................   148
3 }2 C3 d" D# M0 y4 J  8  Measuring Stability   ..........................   151
Stability and Why It Matters    ....................   151
9 I& |, W0 L$ B( YControl Loop Basics    .....................   151
, ?. i/ Y# R! ?  iGain Margin, Phase Margin, Delay  
Margin, and Stability Margin   ...........   153
Bode Plots and Nyquist Charts    ...........   154
x
5 V- I2 W  u. _# t: ~/ i  Contents
4 K  n% S' x7 T8 z5 O9 z, gOpen-Loop Measurement   ................   159
  ~: Q) I' v2 W* I4 y) g/ L* NInjection Devices    ........................   161
! z0 h* \( A9 |3 l- p6 fSmall Signal versus Large Signal   ..........   164
! G' {! A" a1 d' u) F" G5 fClosed-Loop Measurement   ...............   169
ON and OFF Measurements   ..............   170
Forward Measurements    ..................   171
Minor Loop Gain   .......................   171
Noninvasive Closed-Loop Measurement    ...   174
% Q. j/ U! C: z( Q7 g1 Z& UEndnotes   ....................................   179
. E( }2 b" I; h3 A
9  Measuring PSRR   .............................   181
- _$ Q9 O7 E. o$ CMeasurement Methods   ........................   182
In-Circuit or Out-of-Circuit   ...............   182
Direct or Indirect Measurement    ...........   182
Modulating the Input   .........................   183
+ x- F4 ?$ c3 V' ZLine Injector   ............................   184
& n# F& C% K* j+ o1 Q* k6 OCurrent Injector   .........................   188
2 n1 W  T' [9 ^0 ]3 lDC Amplifier   ...........................   189
Choosing the Measurement Domain   .............   189
VNA   ..................................   189
Spectrum Analyzer    ......................   189
% [6 k3 Q7 V( c! l6 NOscilloscope   ............................   190
Probes and Sensitivity    ...................   190
Endnotes   ....................................   200
  10  Reverse Transfer and Crosstalk   ................   201
6 a3 Q& W" l5 x- [* {Reverse Transfer of Various Topologies   ..........   201
$ J7 M, y: P3 J; Q7 \3 D4 pSeries Linear Regulators    .................   201
Shunt Regulators    .......................   201
POL Regulators   .........................   203
Operational Amplifiers   ..................   204
0 K1 A6 \4 m' j7 d3 E$ H7 aModulating the Output Current   ................   204
& X# d1 H( g# q. J8 t. [  H6 hCurrent Injector   .........................   205
" J+ h7 w4 x1 P7 n+ |DC Bias Injector   ........................   205
Measuring the Input Current   ...................   205
Calibrating the Measurement    .............   205
Measuring the Input Voltage   ...................   207
- P3 K! Q! E: I% y- S5 C3 ZCalibrating the Measurement    .............   209
: H# y2 B9 Z. aIndirect Measurement    .........................   209
Endnotes   ....................................   216
% \* u$ J8 O" {3 n8 Y  11   Measuring Step Load Response   ................   217
Generating the Transient    .......................   217
/ K5 h/ `" P% P( k- e$ U* M' O) MCurrent Injector versus Electronic Load   ....   217
% y7 r( c2 H" ?* QSlew Rate   ..............................   219
Current Modulation Waveform    ...........   221
  Contents
xi
  [5 Z4 Z7 P; ~7 q0 y) ~( `. B; n2 uMeasuring the Response(s)    .....................   223
Large Signal versus Small Signal   ..........   223
Notes about Averaging   ..................   224
7 G% b$ k6 [) V( {* L# u% X- LSample Rate and Time Scale   ..............   226
7 h: B7 T, c" ]$ u& ?) [- VEndnotes   ....................................   232
) I1 |$ s0 [2 E! f- [  12  Measuring Ripple and Noise   ..................   233
* l; \1 Q; v2 a, p0 Q% d; n% {7 M* QSelecting a Measurement Method    ...............   234
In or Out of System    .....................   234
Direct or Indirect     .......................   234
Time or Spectral Domain   .................   234
Connecting the Equipment    .....................   235
9 V3 }6 D/ |# o' W' jPassive Scope Probes   ....................   235
Active Scope Probes    .....................   236
. B* ^5 z* h/ ~2 A- W: LDirect 50-W Terminated Connection    .......   236
Choosing the Equipment  . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .    237
Averaging and Filtering   .......................   252
3 P2 g, f( y' b+ p' NEndnotes   ....................................   252
1 q# M4 {3 k& h. k7 |8 k  13  Measuring Edges   .............................   253
; L" p' l5 z; T* ERelating Bandwidth and Rise Time   ..............   253
Cascading Rise Times   ...................   256
7 g. ?% ]+ d  L. Z: `9 E' pImpact of Filters and Bandwidth  
Limiting    .............................   257
Sampling Rate and Interleaved Sampling   ........   261
9 [- p/ Q! w, O& v  J9 B4 f/ b6 t+ sInterpolation    .................................   264
Coaxial Cables  . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   265
Effects of High-Frequency Losses    .........   265
The Criticality of the Probe Connection   ..........   267
: g" w4 v7 x; x, F' ^7 u9 [1 Y  ^! e+ GPrinted Circuit Board Issues     ...................   269
Probes    .......................................   269
/ l* G/ x( w' t0 gEndnotes   ....................................   273
: W( R5 s# S$ i7 K  14  Troubleshooting with Near-Field Probes   ........   275
, R& w8 L+ ?+ ?0 kThe Basics of Emissions   ........................   275
# w% S. x( q% K6 D: ~  J3 G2 ]The Near-Field Probes    .........................   277
1 r2 a4 h5 a3 U6 i& N7 EProbe and Orientation    .........................   278
The Measurement Instrument   ..................   281
+ A9 B+ V9 G6 v  R. s0 M( z" ZSpectrum Gating   ..............................   281
Endnotes   ....................................   295
4 @; h+ H9 j3 [) n' i  15  High-Frequency Impedance Measurement   ......   297
Time Domain   .................................   297
Time Domain Reflectometry   ..............   298
  T2 K( P  u6 f" J; Y# QCalibration    ...................................   299
# O) S' g, k; N% KReference Plane   ...............................   300
xii
! y' N) O  e0 p5 d. Y! B; V  Contents
Setting TDR Pulse Rise Time    ...................   303
  r) D3 \+ N/ ~* k2 IInterpreting TDR Measurements    ................   304
Estimating Inductance and Capacitance   ..........   307
5 z& L8 w3 U1 d' g/ X4 ~S-Parameter Measurements   ....................   314
Endnotes   ....................................   316
    Index    .......................................   319

stupid

对于译者来说，翻译是一件枯燥的事，但对于读者来说，一本好的译作，不光能带来知识，还能带来视野的拓展。如果本书能让读者产生酣畅淋漓，意犹未尽的感觉那就好了。
  _. p5 K0 y+ R+ @8 Y4 d
但是在本书的现有翻译章节里，还是有很多译作令我非常不满意，为了保证本书的翻译质量，我们已在做严格的校对。请对翻译仍感兴趣的人，单独试译以下段落，我会从中筛选一些作为本书的译者替补或者下一本书的译者。

友情提示，翻译是一个锻炼文笔和自我学习的过程，没有多少经济收入，每千字出版社给出的稿费能卖 10平方厘米房子（以深圳每平方6万计）

Minor Loop Gain
' o! f/ L* g" i/ o2 x8 ?8 `' TThe minor loop gain assessment is very popular for assessing the stability
7 e% s) e! S! hof an input filter combined with the negative resistance of a switching converter. This is also the method generally used to verify system level stability involving independent circuits. A practical example of such a black box stability assessment is the interaction between a DC/DC converter and an electronic load. Each can be considered
4 }8 V0 h1 d4 g$ q8 o7 Vas an independent circuit and each can be stable by itself, yet the combination of the two may not be as stable as either one. Output impedance measurements of a DC/DC converter connected to a B&K model 8540 electronic load, and the same converter connected to a Picotest J2112A current injector (the load current), are shown in Fig. 8.23. This measurement is an S-parameter measurement and must be transformed to Ohms. This transformation is detailed in Chap. 7, though the result is included here for convenience. For a 50-Ω VNA, the transformation is defined by Eq. (8.11):

, M5 F; j; _* K' j: B' z$ [3 SOpen-Loop Measurement
The device-under-test (DUT) control loop must be operating in its normal linear region in order to measure the loop gain. This may be difficult due to small offset voltages and the high DC gain of the feedback
, S- k( U. T( H4 q% ]: Eamplifier. The operational amplifier shown in Fig. 8.8 illustrates the issue. Using the open-loop gain of 95 dB from the measurement in Fig. 8.4, and allowing a 1-mV offset in the operational amplifier, results in a 56-V output. Since the operational amplifier is not likely connected to a supply voltage that can allow a 56-V output, the amplifier
, P7 q9 @% @# s, T+ c3 B' xis not in its linear region (i.e., saturated or railed).

qingdalj

我的意向翻译章节
1 H+ C7 M4 y4 a2 X  E* N十一、阶跃负载响应测量
. L4 q* Y5 y8 f+ I. I* t十二、纹波和噪声测量
5 [  N2 l5 {" g' P& ^十三、信号沿测量

3 h3 f, n: `7 q4 ?$ l" C

cousins

Colin, 7年以上高速系统设计从业经验，熟悉SI/PI理论，各类测试设备，想翻译的章节为：
第六章  分布式系统
) e4 f4 ^1 \: I第七章  阻抗测试
第八章  测试稳定性
0 X; i5 }* u  O& ^0 M# P

顺便问下，要求翻译的周期为多久？
( V3 A( v& E9 C; g3 i8 j4 P

True

报名

hssinian

有对应的电子版书籍吗？
8 N' r0 k' \4 {1 o9 f* w5 p

hssinian

hssinian 发表于 2015-5-4 13:32
有对应的电子版书籍吗？

能否先睹为快啊？

若华110

3 r& E% J. I1 A: ~: L" D6 r. f
若华，硕士，2年以上高速（100G）光模块电路设计和测试经验，熟悉信号完整性和电源完整性理论分析、仿真和测试。 而且，大学期间为校文学社社长和校刊责编，文笔或许还过得去。  非常希望加入行列翻译和学习。  

4 k. P. ?& |' a% B* f具体章节目录告知后，可选择。

stupid

https://www.picotest.com/Power-Integrity-Book.html
  i: Z0 a" ^7 d1 J& x2 r$ |
* D, g; {7 w& H& K9 ?  L需要选章节的，先从这里看
一、简介
二、测量原理
三、测量基础
四、测试仪器
五、探头、夹子、互连
六、分布式系统
# J( A" [% x: H! v9 \七、阻抗测量
' V' w: I1 {+ L八、测量稳定性
" Z& K, |- s) P% T6 t九、PSRR测量
十、反向变换和串扰
十一、阶跃负载响应测量
+ E$ Q8 ?, H# I: `1 I  U- Z/ O十二、纹波和噪声测量
. g& x& }7 }* m# P; L十三、信号沿测量
# l# |! @4 A# O十四、利用近场探头调试
十五、高频阻抗测量

bingshuihuo

好书啊
% ?8 s" Y9 X( {; l1 p6 e3 m如果被有经验的人翻译出来的话

xyd20405

xyd20405, 4 年以上硬件设计经验，熟悉信号完整性理论，想翻译的章节为：
7 l2 g  E9 n3 o: Y! e, `
2 c3 v- c$ x' e- o2 Z一、简介
二、测量原理
三、测量基础

若华110

那剩下的我来弄吧。第9 、13 、14、 15章。

hagelee

- @/ M6 U* K9 q. f
# V  N: n; N& o* S我报名 纹波和噪声测量 和信号沿测量 部分。

阿斯兰

帮忙顶上去~~~

Coziness_yang

coziness_yang，7年工作经验，从事高速信号，目前硕士在读。
四、测试仪器
& m  X4 ?2 ~. w: S4 H五、探头、夹子、互连