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标题: 公开招募信号完整性新书《Power Integrity》翻译 [打印本页]
作者: stupid    时间: 2015-5-4 09:17
标题: 公开招募信号完整性新书《Power Integrity》翻译
本帖最后由 stupid 于 2015-7-30 13:38 编辑 4 `/ U) c! f0 c
; b2 M( u. t( w% v0 L0 m' @+ m
如题，已同出版社谈好，拿到了该书的翻译权，所以翻译出书可谓是名正言顺。9 v% ?. [5 |" V; w( E  s" U7 |9 q

) ]* Y  y& |+ S8 g" @) Q+ f为了让大家都能参与进来，能够共同学习，共同提高，特通过网站招募翻译人员。& g% I4 k3 @3 G) L6 P
- M! b# }6 R+ ~* [! I) }7 i
当然，翻译是有偿的， 每千字160元，其中出版社每千字出60元，赞助商每千字出100元。
" q  O# u. ~- g; @  G- i& x6 k) Q4 @4 [3 f  z* |" F/ d9 S
翻译者也有要求，有一定的硬件基础，熟悉电源配送路径，熟悉高速电路设计，熟悉电源测试。当然技术之外，希望文笔也过得去，不要写出来的文字跟Google 翻译出来的一样。
4 O/ g6 S+ K8 t8 h& r! {5 U: i* `3 a
附上之前在一周往事里的配图，总共12章，翻译者在5名以内为宜，即每人负责2～3章。6 y+ }. \: d0 g6 J
* l0 h/ H& y  m7 _

) E% O8 G& H) D, B4 o+ @3 b  H" _3 E1 A4 _- ?
关于该书的一些简介9 i; ?4 J: ]' p% U+ j
3 E/ @- n0 s! u8 o  G) ~: x4 E

* G1 Y9 n4 o6 H9 c9 LSteve Sandler用来测试电源的一些探头1 i1 t. I7 c/ q) \
# m: a  _9 q9 F# o
+ X( |. F" o( }$ j) y! P
) l* Y* w5 F( D

# p* z8 n  r2 w; N6 I# d2 E( O7 v( q: @. f
有意者，请回帖或发消息，我们会负责确认翻译名单，计划是5月中开始翻译。) v; A4 V6 K1 b% K: P+ k6 P5 ^

1 S* D3 w1 B2 k, P报名者，请简单说明想翻译的章节，以及从业背景，举个例子。; o& @& m1 k* t& b

6 M% A) s7 o. [# C/ X/ Ostupid, 8年以上高速互连设计从业经验，熟悉各种测试设备和理论，想翻译的章节为：; S2 q! k2 z* s3 \+ Z3 ~
. r+ X6 _$ C% H# y, k4 E% D
第3章：测试界面和探头
6 Z7 Y, A2 U, C第4章：测试设备
7 I# s5 u* d" q: ]" @第10章：纹波和噪声
1 ~+ l# W7 D5 N" y4 Y5 E# l% B
; P' a' R' t1 r: Q/ X5 D此贴亦接受读者的预订和厂商的赞助。具体细节另开贴说明，这里简单介绍一下，预订的读者可以先读到该书精华部分的译文，以及独家的勘误和补充；而赞助的厂商，则一并在出版页面说明，赞助费用将全部作为稿费发给译者。
3 L1 m$ s) A) D2 u5 Y) v/ P
' Y1 q& `; _% f! v7 R$ J! \' Z) L. H2 L. B3 M. |
进度更新，本月各章翻译均进入尾声，有望在8月中收尾。稍后我们会放出部分中英文对比样章，供大家批评。- I2 v3 d( K0 `  b9 n
作者: qingdalj    时间: 2015-5-4 09:21
本帖最后由 qingdalj 于 2015-5-9 17:17 编辑 . {% J1 p' U6 T( z$ S! x" x+ @

( I6 X0 u: h* `: }8 ?8 ?+ Y我的意向翻译章节1 @3 U+ ?6 \% [$ Y" h* a6 C
十一、阶跃负载响应测量
# Z  x( F/ o" ?& q十二、纹波和噪声测量- a+ I6 z3 P* X  b' F1 G0 B
十三、信号沿测量1 ]( M5 A) W3 C1 f0 {) E

: b) o& w8 R  l& G, j& S! ^4 G2 M
作者: cousins    时间: 2015-5-4 09:32
本帖最后由 cousins 于 2015-5-4 17:14 编辑
8 P0 Q% A0 y5 v" w  U- p& d9 R& S( U4 K
Colin, 7年以上高速系统设计从业经验，熟悉SI/PI理论，各类测试设备，想翻译的章节为：
; H1 c7 p6 z& l, w7 }7 k  Q第六章  分布式系统$ n& m7 S( i, b
第七章  阻抗测试
' Y! r  f  `; F. P第八章  测试稳定性
- T# H" H! c) @3 D; I9 K
/ @4 ?6 n+ G& k- L! L8 R 4 `" a% k3 d" Z# G. ~+ P- L
顺便问下，要求翻译的周期为多久？
% w, ^2 k) i3 N4 T
作者: True    时间: 2015-5-4 10:00
报名
作者: hssinian    时间: 2015-5-4 13:32
有对应的电子版书籍吗？+ e# `' K0 O, n% z& f
作者: hssinian    时间: 2015-5-4 14:07
hssinian 发表于 2015-5-4 13:32! o- L4 ^- s/ K( g1 |
有对应的电子版书籍吗？
' b2 U5 y! ?8 O3 ^2 Y/ B$ p0 k
能否先睹为快啊？
作者: 若华110    时间: 2015-5-4 15:21
本帖最后由 若华110 于 2015-5-4 15:28 编辑 * d+ `0 i* m% X3 m) T

. K8 E/ s( ^5 H2 f, I) |若华，硕士，2年以上高速（100G）光模块电路设计和测试经验，熟悉信号完整性和电源完整性理论分析、仿真和测试。 而且，大学期间为校文学社社长和校刊责编，文笔或许还过得去。  非常希望加入行列翻译和学习。  
; o' f* Q4 O  y$ e* X& o2 V' J9 x
: ?. a1 l! s5 ^8 D% w0 N& b具体章节目录告知后，可选择。
作者: stupid    时间: 2015-5-4 16:15
本帖最后由 stupid 于 2015-5-5 08:53 编辑   A" h/ F% f: w2 F3 O
8 T, \+ K  l4 }& Q  ~& V5 m, S: `5 N
https://www.picotest.com/Power-Integrity-Book.html
2 d( r$ l% }& s5 l# X6 m* B% c% i0 m. l
需要选章节的，先从这里看: s3 K0 ]) I4 o
一、简介
- c& ~% |$ Z8 n4 d2 H二、测量原理
6 a0 v: q2 E$ N/ R: i8 t三、测量基础7 Q" B. V' X  V
四、测试仪器
, O; m7 V3 A$ h/ Z五、探头、夹子、互连
) }8 l' G6 z( }7 |, X$ {# x六、分布式系统
! C$ K  _6 k# v& Q七、阻抗测量
3 p* ?2 a# W2 W4 v; N八、测量稳定性
) f" D" K1 U; {4 b" T7 h6 ?九、PSRR测量  V: p- Z  Q& [# [6 t" z* ^8 g8 }
十、反向变换和串扰
' Z4 s3 a2 `  w) y+ s' K  ]十一、阶跃负载响应测量' I* B6 D; [( H) q# L
十二、纹波和噪声测量
1 S  t, }# _' J6 M十三、信号沿测量$ r5 {# L9 @5 y& M
十四、利用近场探头调试# L: Z8 J) v( N) @5 G
十五、高频阻抗测量, k" Z1 }7 z5 E* r0 U
作者: bingshuihuo    时间: 2015-5-5 11:00
好书啊/ s& J4 E. C( r3 V
如果被有经验的人翻译出来的话
作者: xyd20405    时间: 2015-5-5 12:13
xyd20405, 4 年以上硬件设计经验，熟悉信号完整性理论，想翻译的章节为：
' k) o/ c. y, x6 v! \! h8 q2 C7 P, Z9 z
一、简介$ x& f" ~: `  {. y
二、测量原理
& @  V- E: k( t9 P$ V0 C' V8 B% o三、测量基础) N& S# t& J% @+ y8 j
作者: 若华110    时间: 2015-5-5 12:56
那剩下的我来弄吧。第9 、13 、14、 15章。
作者: 若华110    时间: 2015-5-5 12:58
contents$ M! s$ o% H2 H- P3 U2 s3 B

- @$ |3 f/ {$ I+ ~1  Introduction    .................................   11 t4 F+ \% T) g! M' L
What You Will Learn from This Book   ............   1
8 T  i' `" x/ Q) ~6 d5 t8 ~$ |Who Will Benefit from This Book   ...............   2$ [* }- A% p  v* K( B4 A
The General Format of This Book    ...............   2
2 N/ ?( Z- d! S1 @; q# WWhy Measure   ..........................   3
. |) n0 m+ l' o, ]7 H7 H5 SObtain or Validate Data    .................   3
2 F5 z) J- J1 qDesign, Selection, and Optimization    .......   5
7 b, ?# |1 h7 J# ?3 sTroubleshooting   ........................   5
; L, Z, N& b' }. kValidation or Verification   .................   71 j, a, Q" W3 t' I" N
Terminology    ...........................   7: H8 K8 f( E5 L" ?" U
  2  Measurement Philosophy   .....................   11$ H: d2 y# D4 u9 t: E9 W# f* ~
Cause No Damage   ............................   114 o( h: G$ j; S7 k
Measure without Influencing the Measurement   ...   11
' |& Z" N# M7 e& k) T3 V! {Validate the Test Setup and  
( c2 \/ N1 C# ^$ D' g& [! H9 `Measurement Limits   ........................   12
  _  Q& G; C7 }& }5 d) rMeasure in the Most Efficient and Direct Way   ....   14; l* w, q; {; ]0 U* j! j
Noninvasive versus Invasive  
4 w* x; e3 L2 W: nMeasurement   ........................   14% `$ T% k1 @& B$ w( s
In situ Measurement   ....................   14
$ w: b' }. q$ O; ^' `Indirect versus Direct Measurement    .......   14
& [  a1 e# E( a& yDocument Measurements Thoroughly    ...........   15  y$ @: C7 E5 W0 k. g) W1 z
The Test Engineer and Contact  0 L1 U* N, `# g/ N) Z, v
Information   ..........................   152 U  L: f# h# t" u  U
The Purpose of the Test   ..................   16- L9 {5 ~1 P) w5 t' \- p! l, e0 @
Simulated or Expected Results if  " d5 j* M3 P7 u! p) o" J' L
Available   ............................   171 H3 S# ?% c) ]3 a/ E4 \6 l
The Date and Physical Location  
3 t/ ~" v* t9 U" c# o% |of the Testing    ........................   18
' K# _" _' ?" F" |4 }0 ROperational Test Environment  
4 q) e; m8 z0 pand Conditions    .......................   18
! _& u, E! O: [+ Q  [The Model of Each Piece of Test Equipment  
; ^3 \  I3 V! ]( K$ H( _0 h- q(Including Probes) and Verification That  
" Z( i' l' z. kThey Are Calibrated    ..................   18
8 h* U' L3 e2 G) I" GSetup Diagram and/or Picture    ............   194 U$ ?7 i# S2 h) q; n$ W
Measurement Annotations and   
$ |6 w, Z* @/ JComments    ..........................   20
1 M. y. Q8 |; z: mAny Observed Anomalies    ...............   20
- j/ U5 t$ W' c0 \3 p' }* ]) V$ x" }2 \* z# I3 a2 m; r
3  Measurement Fundamentals   ...................   213 I' u) l( t7 A' j& q( _
Sensitivity    ...................................   21) a8 B; D3 m1 \/ H+ b; {8 @
Noise Floor   ..................................   22
$ q* C( _; B4 r1 B4 ~Dynamic Range   ..............................   22
4 G" `5 F- v0 {, M+ a; R7 xNoise Density   ................................   27
+ K% O. c4 @, @( L0 M* y1 QSignal Averaging    .............................   31
" u& a2 S* G1 O1 f2 l7 X: M, O6 CScaling   ......................................   33
, v3 M' O% Y( G6 s2 QAttenuators   ..................................   34% e+ @* S& J/ W7 _, ^# M
Preamplifiers    .................................   35: W! R' J% d. C0 J/ s" ?
Linear versus Log Display    ...............   36
$ {: h3 |* p7 e, y+ RMeasurement Domains   ........................   38
4 E( V5 c2 s6 I$ w" o( L; eFrequency Domain   ......................   38
  u9 @/ e- [7 aGain and Phase    .........................   382 P6 \8 {0 z$ I/ E( T
S-Parameters    ...........................   38
- Y+ f1 j+ t+ C: ^- O% EImpedance    .............................   396 Z2 ]" r( c; M' q. t. E% _; q
Time Domain   ...........................   403 `; P- s/ W0 f
Spectrum Domain   .......................   42
0 a% }6 z2 T' A, s8 K% wComparing Domains   ....................   44
- T- {0 ^9 i) l% X; f7 w: ]3 ^Endnotes   ....................................   46
; i. Q/ M! K& ]$ i3 X  4  Test Instruments    .............................   47
5 \/ }6 B, y& MFrequency Response Analyzers and Vector  
$ q, w( D4 x) G" D: |# JNetwork Analyzers   .........................   47
' R) }; y4 \2 P' nOMICRON Lab Bode 100   ................   49
5 V( q8 V, |8 P; ?3 MAgilent Technologies E5061B   .............   50
7 n, b( e- }( u! I2 lOscilloscopes    .................................   50
# k8 Q! @" T* v0 WTeledyne Lecroy Waverunner 6Zi    .........   51
6 G  z! E5 {, I# a# I" ^" J0 iRohde & Schwarz RTO1044   ..............   52
8 S/ a% u* ~' T4 \% @5 W% dTektronix DPO7000   . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   535 y+ X5 m  K* V% _/ S  [% p
Tektronix DPO72004B    ...................   540 z- M& j! h, R* e7 |
Teledyne Lecroy Wavemaster 8Zi    .........   55
1 U1 o8 o, h) n* x  R1 {. OTektronix MSO5204    .....................   56
* u5 k7 A1 [( XTeledyne Lecroy HDO6104    ...............   56
, Q  y9 n/ T1 k9 s9 f) r6 {$ ETektronix MDO4104-6    ...................   589 ^5 G( K- J& d$ a2 j
OMICRON Lab ISAQ 100   ................   597 `0 o; L2 F# y' ^: L0 a  i
Spectrum Analyzers    ...........................   59' g2 M0 k8 r1 B; o( j
Tektronix RSA5106A   ....................   59
) k7 n1 z. v0 \! I- \9 @Agilent Technologies N9020A   .............   60
+ s; U  J0 |, D5 ^Agilent Technologies E5052B   .............   61$ h5 f( Q' u0 W; x1 u, u
Signal Generators    .............................   62
; o1 E, v, U* y" k) ?Agilent Technologies E8257D    .............   62
* w# L8 v# K6 b* L4 ~( bTDR/TDT S-Parameter Analyzers   ...............   63
8 {' U5 I- E# R8 y- aPicotest G5100A   ........................   63
0 Q2 u7 e( C, L2 S% \, @' \. M1 H2 O8 o* d; S, O2 J6 c
Tektronix DSA8300/E8010E   ..............   63" f" w0 [/ n( q( u
Teledyne Lecroy SPARQ 4012E    ...........   65
" b  W& a$ f* D+ x2 g, dAgilent Technologies E5071C    .............   66
6 O. G& I& [: o5 t, a) U8 s' |2 b0 }% X  5  Probes, Injectors, and Interconnects   ............   699 k/ L6 K6 {( W
Voltage Probes   ................................   69
. u' L! O, Z) C+ \: O$ ?- gProbe Circuit Interaction    .................   70
9 A& K5 m, O$ \4 pFlattening the Probe Response   ............   72
8 p/ |  o" R4 |5 [% o0 E0 Y9 pConfirming Measurements    ...............   74
9 C6 M7 r. }& ]1 v/ c1 L7 WSelecting a Voltage Probe   .................   75
, b# y0 \' D+ H& Q$ o/ f: \Passive Probes   ..........................   77
. B% C- k. S1 u) E9 lActive Probes   ..........................   794 A& U9 V7 g- M: h% w0 X
Differential Probes   ......................   79" ^3 s, m$ X+ r+ \9 K3 [! i
Specialty Probes   ........................   80
; `( X3 C- l; [Other Connections   ......................   91
3 D  V! f/ p: F; t4 x/ ?. b& JEndnotes   ....................................   91
1 F- W9 _$ u6 ]) F4 h$ J4 U  6  The Distributed System    .......................   934 }5 L* z( C5 W. k+ h& T# o: T
Noise Paths within a Voltage Regulator   ..........   93
% T4 e4 t. u$ z" `% i+ N9 f. L$ AInternal Noise   ..........................   95
* A! y$ Z5 E2 K. MPower Supply Rejection Ratio (PSRR)   ......   95+ q# e/ W! \$ y
Output Impedance   ......................   995 C/ [% e' l& Q; i! Y
Reverse Transfer and Crosstalk    ...........   991 j7 D: Q8 j' W, N" R$ ~9 O
Control Loop Stability    .........................   101- C- v* L5 G6 s) E
Impact on Output Impedance   ............   101
: h3 k9 P! U* b' eImpact on Noise   ........................   102
3 c9 Y1 K+ ^# I4 B8 r' W$ ]9 QImpact on PSRR   ........................   102
0 W4 n& |7 \" y2 a% F/ B: a& I) dImpact on Reverse Transfer   ...............   103
+ A) o+ `, Z7 d  j7 h3 `6 pHow Poor Stability Propagates through  ' p# v! U8 r# {! J7 t
the System    .................................   103. y) X! U" U3 y8 j) I5 o+ q: j
Adding the PDNs    .......................   106
5 ^, a, ]0 N$ j( d# f. y' V6 ~) p( ^Endnotes   ....................................   108" t3 l' k- E1 F* I
  7  Measuring Impedance   ........................   109
* ~2 G% @8 V8 \; B( B& ^& n# [* O! iSelecting a Measurement Method    ...............   109* M+ l' ]& D5 Z& P0 O
Single-Port Measurements    ...............   109; p4 _  l# Y7 R8 N+ y
Two-Port Measurements    .................   123
  W$ z3 E% V+ d7 ]& XCurrent Injection Measurements   ..........   1393 j1 V7 \% g9 G( Q
Impedance Adapters   ....................   142
: o+ }1 J) }; o6 w* f! l: P6 GEndnotes   ....................................   148: d) W! Q# i: d
  8  Measuring Stability   ..........................   151
9 y$ r. r' }9 w% V5 P# Z- b( j: X  DStability and Why It Matters    ....................   151, y3 k6 X0 w) D/ ]( o7 M; L
Control Loop Basics    .....................   151
0 Z$ y1 H* Q" Z- C5 {2 H6 N: lGain Margin, Phase Margin, Delay  
, i8 Q9 v+ `3 p+ Y1 h2 `' KMargin, and Stability Margin   ...........   1534 F; B$ Q3 w1 w) `5 ]+ a
Bode Plots and Nyquist Charts    ...........   154
4 V0 x) x9 a/ G" P* W% r# _8 wx9 Z; B3 U, _8 t
  Contents
) y$ B& x8 d" g$ P: dOpen-Loop Measurement   ................   159
- y* R6 F, U' J+ q. h: oInjection Devices    ........................   1616 i; C. l$ }& }5 l/ a! z
Small Signal versus Large Signal   ..........   1640 O7 ?& L& |2 X+ N' v
Closed-Loop Measurement   ...............   1699 Q/ s/ m5 Y# F, p* ~( ?6 I
ON and OFF Measurements   ..............   170
: t: G  \; a0 r1 y2 k7 ZForward Measurements    ..................   171, j  v$ Z" Q$ X. K7 {/ l/ o' r
Minor Loop Gain   .......................   171
' D* r) P( ?: E( \1 g* O$ YNoninvasive Closed-Loop Measurement    ...   1740 N4 ~6 w1 z$ D# q+ w
Endnotes   ....................................   1791 t; K0 m% U6 B* o& J! q3 w, z9 v
, B; w+ @, A6 c( o& W  x; Q
9  Measuring PSRR   .............................   1817 r% H6 j5 Z7 U( o, t
Measurement Methods   ........................   182! F/ `0 F) u: n% D3 g, m
In-Circuit or Out-of-Circuit   ...............   1826 M1 T, e" a1 d' P
Direct or Indirect Measurement    ...........   1821 |; d7 [+ E+ \
Modulating the Input   .........................   1834 R8 F- ]# k7 b. R$ @' ^7 u
Line Injector   ............................   184( p7 Z, O) o, }$ r1 f- a- \
Current Injector   .........................   1884 X  u9 t+ Q+ }6 ]9 t  ~3 e5 ]; {
DC Amplifier   ...........................   1894 q* H* h1 r0 i# v
Choosing the Measurement Domain   .............   189% _9 Z: |0 b6 o
VNA   ..................................   189! C2 U, W! I) i' B7 m% M6 y
Spectrum Analyzer    ......................   189
3 P: P- R# e; I, MOscilloscope   ............................   1900 k: `/ ~5 M2 Y6 _
Probes and Sensitivity    ...................   190% L* x: P1 d: {. I# ]
Endnotes   ....................................   2007 S- O' d% \% ]& h( ~- x; B
  10  Reverse Transfer and Crosstalk   ................   201) O% v" \4 K6 ^# o+ P6 K- c
Reverse Transfer of Various Topologies   ..........   201
/ o# H: z. G$ A; ~Series Linear Regulators    .................   201/ ^% [, o) e, f
Shunt Regulators    .......................   201  A& `+ K- o' a4 Z8 M  w5 P3 m
POL Regulators   .........................   203& y3 e+ V) _% w! P- Y- G; D
Operational Amplifiers   ..................   204
% U- x3 M) Q( N" p" lModulating the Output Current   ................   204
8 d7 W3 h0 @  w+ ^Current Injector   .........................   205
) g/ l# g! j- b- yDC Bias Injector   ........................   205+ M7 u6 _/ F  A. B( B$ W. N
Measuring the Input Current   ...................   205' ^' _" R/ F  h
Calibrating the Measurement    .............   205
( v( t3 f! i+ {9 ]8 OMeasuring the Input Voltage   ...................   207
& y4 x8 w/ t6 q: R" iCalibrating the Measurement    .............   209. n4 H  X  e' M- s$ w, T- w9 m
Indirect Measurement    .........................   2091 E0 x- D2 L0 }3 J# B( h+ j6 u1 L, I
Endnotes   ....................................   216
' q. A3 n7 c4 M+ f  11   Measuring Step Load Response   ................   217
. x. E3 j7 J. ]/ S1 `Generating the Transient    .......................   217, Y4 z& u' @  `+ S
Current Injector versus Electronic Load   ....   217
2 U& }/ {) w2 t( z, U0 K* ~8 j6 KSlew Rate   ..............................   219
, n3 w! c( e$ z( O  p/ w& zCurrent Modulation Waveform    ...........   221
0 g4 g# ]2 k0 o; n( ^2 b  Contents / i; x7 }4 C6 x1 W" l
xi, V8 w' o2 K. Z3 _" K) C- U! N
Measuring the Response(s)    .....................   223
/ V3 f* g2 _, |% ?4 ILarge Signal versus Small Signal   ..........   223
8 \. q/ H$ ~: m3 A, u+ L4 V4 KNotes about Averaging   ..................   224
' _7 P6 `) y2 u) }+ o' q8 nSample Rate and Time Scale   ..............   226
; C  L, ^- Y3 W* f6 |Endnotes   ....................................   232
: ?$ I! e0 f4 d; e  12  Measuring Ripple and Noise   ..................   233
- E9 H: D4 J1 Q6 [' [& aSelecting a Measurement Method    ...............   234
% ?- g: W- ?+ h' I: y& ~- b' bIn or Out of System    .....................   234
. u# P2 D8 Z! t  M+ TDirect or Indirect     .......................   2347 |; o# U7 U5 v9 v7 i
Time or Spectral Domain   .................   234
1 b# k  J. a6 a) ]5 O! z3 T  U: T4 V% GConnecting the Equipment    .....................   235
1 x1 S. A2 ~1 K7 ~' jPassive Scope Probes   ....................   235
* O/ W0 f# T/ pActive Scope Probes    .....................   236
8 V0 R4 y2 ^3 @8 {Direct 50-W Terminated Connection    .......   2364 z4 J# O$ a* u6 O
Choosing the Equipment  . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .    237
# H$ n9 C+ c0 V3 BAveraging and Filtering   .......................   252
9 |' b; _9 u' \5 e( qEndnotes   ....................................   252
3 c& x3 }3 d1 m# w9 k* q$ b+ u+ H, M  13  Measuring Edges   .............................   253& Q( I# L3 \/ w4 m# `( S( f# x' g/ p
Relating Bandwidth and Rise Time   ..............   253
& J8 V. \/ T" M5 a/ ?$ yCascading Rise Times   ...................   256
. G2 c& i$ q6 H2 A' KImpact of Filters and Bandwidth  ) j3 o. ^. l: A7 C! u) N2 z
Limiting    .............................   2577 H1 ]) K. I4 O" }- R9 @# t  W7 L
Sampling Rate and Interleaved Sampling   ........   261
( B1 K1 {2 T% y; k+ c" XInterpolation    .................................   264
1 u* Z3 K/ m) l% S9 o/ QCoaxial Cables  . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   265" I1 ?/ d7 u& X, ^1 k
Effects of High-Frequency Losses    .........   265
! F: V' d- o0 BThe Criticality of the Probe Connection   ..........   267
, D* a" ^5 |& ~+ J! _0 UPrinted Circuit Board Issues     ...................   269' Y; B6 U0 T7 u- Q0 d
Probes    .......................................   269
+ _# D# Z9 t- q8 ]6 lEndnotes   ....................................   273& n1 P5 X& M3 c, S( v% }& S, ]
  14  Troubleshooting with Near-Field Probes   ........   275! L  q; \" n$ `& v/ @
The Basics of Emissions   ........................   275
# N9 E2 Q! C, A7 P* D. C( J# v2 D  TThe Near-Field Probes    .........................   277/ W) F! I' W* q9 |/ y2 Z7 y
Probe and Orientation    .........................   2788 n8 k2 S; D9 x' T# k3 F* m6 z
The Measurement Instrument   ..................   281
- f+ ]1 \* l0 {3 O% }$ a& m/ WSpectrum Gating   ..............................   281
( W$ k# J; `# X7 y5 o3 [Endnotes   ....................................   295/ y- t- s2 }- V( J9 N; s; D
  15  High-Frequency Impedance Measurement   ......   297
, s6 S" h: s( m$ _' K, \- \Time Domain   .................................   297+ f, e; W# I  X, {6 P. z
Time Domain Reflectometry   ..............   298
6 {  S7 i8 S9 h! y# q4 b, U2 q& FCalibration    ...................................   299
1 M! j& Y) D. Z) ?( T: P& xReference Plane   ...............................   300) y  Q! ^! C- s* l) h9 d
xii; s, S1 W) t  t/ Y, G2 f
  Contents
# b% w1 m8 u8 b$ j1 A( rSetting TDR Pulse Rise Time    ...................   303
+ V- F3 t  u. \3 W3 V9 {Interpreting TDR Measurements    ................   3044 @; u5 f( N  t% Z( E4 _  `
Estimating Inductance and Capacitance   ..........   307
9 b' z: |5 A% S' F- ^  j  a) \  kS-Parameter Measurements   ....................   314
$ M. l1 ^: c* `5 J% [8 g! \Endnotes   ....................................   316
# D1 v5 }" S% \% b* k5 d    Index    .......................................   319
作者: hagelee    时间: 2015-5-5 13:06

6 n# ?  _( z/ H; n- l+ ~- T% c% \; F  Q: u! F! }9 Z5 H& G
我报名 纹波和噪声测量 和信号沿测量 部分。
作者: 阿斯兰    时间: 2015-5-5 14:33
帮忙顶上去~~~
作者: Coziness_yang    时间: 2015-5-5 15:02
coziness_yang，7年工作经验，从事高速信号，目前硕士在读。
) z6 `# }/ b( \3 K) P% b# N& Q, x四、测试仪器. u' p% h/ \! M: t+ z! J# l
五、探头、夹子、互连
作者: ann_wz    时间: 2015-5-5 19:37
期待大咖门
作者: Head4psi    时间: 2015-5-5 21:53
Power-Integrity-Book-Sample preview Power-Intergity-Book-Sample.pdf (7.93 MB, 下载次数: 462) - C; P$ E6 S1 U7 m; `/ ^
作者: 菩提老树    时间: 2015-5-5 22:59
stupid 发表于 2015-5-4 16:15
1 g- ~  z/ a2 r+ O4 _7 Q# z* ?( Jhttps://www.picotest.com/Power-Integrity-Book.html( I- r+ J6 f# B% @! t4 n$ i8 S
" E9 D" ]9 B: m& M; S
需要选章节的，先从这里看
' B$ h3 j% N9 |& m2 t; Y, n' m. L+ m
这本书之前看过，很不错，对电源完整性解释的非常好，特别是电源完整性的测试。现阶段，基本的电源完整性仿真大家做的不错，深入做的就比较少。前几年做了些电源完整仿真测试对比，电源完整性的可研究性还是蛮多的。但是关键的是测试很少有人做的好，特别是鉴于设备的稀缺。Keysight的E5061B是个不错的选择。但是现在E5061B使用的人比较少，不过E5071C也不失为一个无奈之举，只是频率稍微搞了些，这样误差也就大了。Power Integrity这本书对这一块阐述的非常好。版主大人要是翻译过来，国内的童鞋们有福音。顶，在下先预定一本。
作者: cousins    时间: 2015-5-6 08:42
啥时候正式开始？
作者: qingdalj    时间: 2015-5-6 09:04
cousins 发表于 2015-5-6 08:42/ q) H) P- D8 u! d5 Y" s& K. _& S
啥时候正式开始？
' s" e0 [+ \+ w) g
预计本月中旬，周期3-4个月
作者: cousins    时间: 2015-5-6 09:09
qingdalj 发表于 2015-5-6 09:04
* m9 @: Y" y- V* J3 k, G预计本月中旬，周期3-4个月
% i! C# }" W  U& H3 m& ?
作者: Navi    时间: 2015-5-6 12:18
版主强，这又将是一本行业大作。版主，可以先预定吗？
作者: daixxshu    时间: 2015-5-6 12:54
顶，虽然很想参与，看到上边全是大牛，瞬间秒杀。。。。。
作者: qingdalj    时间: 2015-5-6 12:56
Navi 发表于 2015-5-6 12:189 p' [' \4 H# [/ m9 A+ h
版主强，这又将是一本行业大作。版主，可以先预定吗？
6 e% u* ~& h# `* v6 i
这个可以商量! S" l- S  K- y  J0 L0 I& ?+ w
作者: Navi    时间: 2015-5-6 12:58
qingdalj 发表于 2015-5-6 12:56
5 N6 v3 p/ `# Q* ^这个可以商量

9 p1 G! k2 L! V, M) i可以众筹的
作者: 菩提老树    时间: 2015-5-6 14:13
响应版主号召，支持行业工作。本人工作10年，一直从事硬件、信号完整性/电源完整性仿真、测试工作，使用过Keysight、TEK、LeCroy的网分、实时示波器、采样示波器、SPARQ等等。专门对埋容的电源完整性仿真测试做过对比。
% {' y: H! S: f; ?4 Y# t( `$ Y翻译章节如下：
3 Q& |" b+ o: C1 W% p六、分布式系统
* e' o$ V5 F4 K9 l- m七、阻抗测量# A' ?$ ~  k; h0 n5 Z
十二、纹波和噪声测量$ O) C) q+ L/ G) [  L
十五、高频阻抗测量
作者: jj9981    时间: 2015-5-6 14:22
期待
作者: qingtian52014    时间: 2015-5-6 15:52
好多高人大神，只能期待出书
作者: 若华110    时间: 2015-5-6 22:36
其实实话 关于SI PI有很多优秀的外文书籍或者文献  但是国内开始关注或者翻译的太少了，重视程度不够，行业人才欠缺。 目前只靠电子工业出版社 那些权威们只能翻译些早期的经典教材了。     也无关乎国内的很多硕博参考书或文献都是纯外文的。不是说阅读纯外文的不好，但是对知识的普及和推广相对会慢一些。  期待这给国内的学习者带来福音。8 z) ]! _& J3 k' s) U7 t
' \/ F0 @' n" Y
期待能参与，与各位大牛交流学习。
作者: cht0819    时间: 2015-5-7 13:36
版主大大,我在台灣,SI,PI經驗超過8年,分別在網通廠及系統廠擔任資深經理
$ U% ~# h! U! F2 F不知可否參與?
作者: cht0819    时间: 2015-5-7 13:40
建議版主大大,是否也可以翻譯3D IC相關SI, PDN及測試的書籍,本人曾經lead 3D IC project,希望可以貢獻一己之力
作者: ingwt    时间: 2015-5-7 16:38
ingwt, 十年硬件工作经验，目前在带一个高速设计团队，曾带一个测试团队两年。翻译这个主要是为了兴趣，以前也看过不少翻译书，很想知道自己做出来的效果
作者: ingwt    时间: 2015-5-7 16:41
ingwt, 意向章节：二，测量原理；三，测量基础；十二，纹波和噪声测量；十三，信号沿测量。其他任意章节亦可
作者: ingwt    时间: 2015-5-7 16:42
手机发帖，敲不了回车，所以分两次发，见谅
作者: 我wo    时间: 2015-5-8 10:04
菜鸟前排支持
作者: 阡陌    时间: 2015-5-8 15:28
期待大咖的经典之作。
作者: qingdalj    时间: 2015-5-9 17:11
本帖最后由 qingdalj 于 2015-5-11 08:25 编辑 2 H. O; q# c! x1 J2 H

7 R' q& v& [4 s. Y3 m+ t  A5 x喜讯：我们的EDA365著名版友阿笨有意参加本书的翻译工作，特此代为报名
作者: zx_sha    时间: 2015-5-10 16:46
我是来订书的
作者: agirlseven    时间: 2015-5-10 22:26
非常好的活动，必须支持参加。我从事汽车电子硬件开发工作六年多，一直研究高速soc，ddr等高速信号的信号完整性，电源完整性等指导项目量产。熟悉高速信号的仿真设计等相关设计，我想翻译的的章节有以下。非常希望可以加入到翻译的行列，奉献自己的微薄力量，同时也希望和大家共同成长！8 {9 L0 ^3 `! Z+ y! e# `- U' n+ f1 ]+ f. s; l! t4 \
4 P8 I4 ^6 `$ e( `7 c: A' I4 W' O七、阻抗测量) o- v/ o- A1 \/ u+ l* A5 e3 [8 {; u0 r' ^* O$ ?# |0 b
八、测量稳定性9 B# {- l4 r! F- {) m) y
九、PSRR测量/ t# L+ x/ p, b& n7 t5 e
十、反向变换和串扰4 R/ L, m8 a1 L' y( [8 ?
9 }% k( O$ S* O十一、阶跃负载响应测量. S  O9 E. Y. r
十三、信号沿测量
7 B* {$ O  U. ~3 s3 }" O. [十五、高频阻抗测量3 Q4 a; ]% u- d. H5 ~
+ s8 ~$ z% N& J# Q( k9 @/ Y' Y- d9 a
作者: shuang_jian    时间: 2015-5-10 23:23
shuang_jian  近4年开关电源相关工作经验，熟悉开关电源设计、测试等，工作较忙只选一个章节。
0 W, k; n3 o7 S3 x: f$ ~4 Y* |( X十五 高频阻抗测量
作者: ytlbms    时间: 2015-5-11 08:56
这个主题非常好啊，虽然实力不行，但是表示支持，期待中文版图书快快上架
作者: fallen    时间: 2015-5-11 10:41
只能大力支持一下！
作者: bingshuihuo    时间: 2015-5-11 15:15
期待新书出版！！！！！！！11
作者: lazybear    时间: 2015-5-11 16:28
高手云集，期望能早日看到大作出版。
作者: tony123    时间: 2015-5-11 19:00
提前预定一本。
作者: 张湘岳    时间: 2015-5-11 22:33
我是来买书的，期待经典。
作者: 中臣    时间: 2015-5-12 08:28
加油，高手！ 我先預定一本。
作者: hmdyfg2008    时间: 2015-5-12 09:02
菩提老树 发表于 2015-5-5 22:597 b: L" \( A3 M2 d
这本书之前看过，很不错，对电源完整性解释的非常好，特别是电源完整性的测试。现阶段，基本的电源完整性 ...
3 v7 x! i. Q! e
E5071C不是安捷伦的网络分析仪吗？可以测电源完整性吗？求普及知识，身边就有这个宝贝却不知道可以这么用啊？9 e4 n, o1 C8 p# \1 m: Q
作者: 菩提老树    时间: 2015-5-12 09:07
hmdyfg2008 发表于 2015-5-12 09:02
! Z! d5 Q2 l/ jE5071C不是安捷伦的网络分析仪吗？可以测电源完整性吗？求普及知识，身边就有这个宝贝却不知道可以这么用 ...

" P( ~  M; H! \2 ^  k% YE5071C是Agilent的网络分析仪，其版本也比较多，我们使用的是E5071C的300kHz~20GHz的带宽，虽然其有一定的缺陷（低频太高），但是对于target impedance的测试是完全够了的，如果不会测试target impedance，那么也可以直接进行S参数的测试，然后再通过ADS或者是HFSS疑惑SIwave进行impedance和S-parameter的转化。
( b8 @4 Z% c% C# E1 L/ C' P& O
作者: skatecom    时间: 2015-5-12 14:58
期待
作者: ecoren    时间: 2015-5-13 20:03
如果有本SI翻译，我一定要报名，
作者: 逆流而上    时间: 2015-5-13 21:19
这本书是相当厉害的，希望早点能出来！
作者: 逆流而上    时间: 2015-5-13 21:30
这个要怎么预订呢！
2 s9 }. k( {# a+ [  |, L/ k
, e/ h! h/ z, x: \2 k5 }; n
作者: lin899211    时间: 2015-5-14 09:24
lin899211, 4年以上硬件设计从业经验，2年高速设计经验，熟悉各种测试设备和理论。可以翻译    第4章、测试仪器[8 G" B8 L3 `: G5 t0 e3 U' C. F* T! H: K# L9 R
    第6章、分布式系统& ^
2 y3 F/ t8 `8 g2 _4 W) ^    第10章、纹波和噪声
8 i0 V0 b/ [3 h# {其他章节亦可，借此机会再学习一下。
8 k" M( }' `) y. @) m
8 T: q% L' N6 Q6 P8 D0 Q, s
$ M4 l. A( \- _& n5 d
  V6 c, B. o6 g* t; Q: t7 C2 X) l; T0 X; ~
  I  J: A. m: p& D% q* U

; u) T2 Z# E4 `: {. j" e9 @) J6 x6 q# G  [  W
作者: ffxlg    时间: 2015-5-14 10:12
原版书从哪里买呢？
作者: weihuaping118    时间: 2015-5-15 08:52
建议可以翻译国外的设计类书籍！
作者: 飞雪逐青    时间: 2015-5-15 13:26
3年高速设计开发测试经验，研读过数本信号完整性理论、高速数字设计及测试仿真书籍，使用SIWAVE做过电源仿真。意向翻译一下两章：8 r& M/ D) Q7 R; T
% g8 w, l- U& a9 X
六、分布式系统
+ w0 A, n* ]' I; ^; }) F七、阻抗测量5
4 P2 m# a) \; X
. m7 a4 s" E7 y- A" a! j
作者: ann_wz    时间: 2015-5-15 22:17
牛人啊，，我是只能看看而已啊，，，
作者: liny123    时间: 2015-5-18 13:57
期待上式，定会购买, 待上式后请版主通知下.
作者: lianzhonghe    时间: 2015-5-18 19:50
顶起            
作者: ann_wz    时间: 2015-5-19 09:26
顶起来，，，，，
作者: qingdalj    时间: 2015-5-19 10:29
大家好，该书的翻译工作现在由我跟进，合同已经签订完毕，本书的翻译人员名单也已经确定。由于没有大家的联系方式，我们只能通过站内信联系大家，请大家及时查阅站内信，经确认无误后我们会统一公布翻译人员名单，谢谢
作者: 菩提老树    时间: 2015-5-19 17:14
qingdalj 发表于 2015-5-19 10:29
/ d: I* A8 \  f$ c+ O大家好，该书的翻译工作现在由我跟进，合同已经签订完毕，本书的翻译人员名单也已经确定。由于没有大家的联 ...

7 G; M+ }3 W) X2 O1 @7 p: e好，很好！) o1 U& a) c7 r8 b$ ]- a& I
作者: qingdalj    时间: 2015-5-20 13:29
本帖最后由 qingdalj 于 2015-5-20 16:09 编辑 4 |+ ^6 }, c* U2 M

: B, S3 C3 L/ {: S3 K, Y经过严格的审核，本书的翻译名单已经全部确定，截至目前仍然有部分人员没有及时回复，这里公布部分翻译人员名单，后续再进行补充。另外，谢谢大家的关注和支持！翻译期限规定为1个章节一个月，请有关人员协调好时间，如有其他事情耽误进度，请提前告知，我们将协调，谢谢。
6 ^3 K- f7 x7 T# V% T6 e1 Q
序号
网名
翻译章节
1
stupid
1
2
阿笨
9，2
3
TRUE
7
4
qingdalj
10
5
菩提老树
6，12
6
Colin
8
7
若华
14
8
coziness_yang
4，5
9
ingwt
13

$ [+ M' ?* G( {, _. W4 G3 F2 L, V) b5 [, H. M, w
作者: qingdalj    时间: 2015-5-22 08:36
大家好，我们的翻译工作马上就要开始了，然而截止目前，仍有部分人员没有及时反馈。鉴于此，为不影响翻译工作的正常进行，我们将取消在5月24日24时之前仍没有反馈的人员的翻译资格，同时我们会将此部分翻译人员的工作重新安排，谢谢
作者: willyeing    时间: 2015-5-22 12:54
期待新书，哈哈，都是大牛翻译肯定不错，哈哈: H" W  h8 m9 G
作者: gonethewind    时间: 2015-5-22 14:39
看到的晚了。倒有兴趣啊。博士，5年eda开发，6年SI经验。
作者: hmdyfg2008    时间: 2015-5-22 17:46
菩提老树 发表于 2015-5-12 09:073 \/ d- x) w. u& w
E5071C是Agilent的网络分析仪，其版本也比较多，我们使用的是E5071C的300kHz~20GHz的带宽，虽然其有一定 ...
! V$ j- b6 Q1 l' |* a7 G
S参数不是体现的输入阻抗吗？这个和特征阻抗不一样。target impedance是特征阻抗吗？( C3 I8 G0 [4 T" T& P7 s3 D( Z$ e
作者: agirlseven    时间: 2015-5-22 17:56
qingdalj 发表于 2015-5-22 08:365 z9 x' w' o; |. h! s# d
大家好，我们的翻译工作马上就要开始了，然而截止目前，仍有部分人员没有及时反馈。鉴于此，为不影响翻译工 ...
; I. u" e0 R; g+ C& T0 }" v
我没有权限回复您，麻烦帮忙设置一下。看到您发的信息了，没有问题。- h( V3 O$ N4 E, m0 y
作者: pjh02032121    时间: 2015-5-22 20:58
期待大作，什么时候完成？
作者: 菩提老树    时间: 2015-5-24 14:49
hmdyfg2008 发表于 2015-5-22 17:46
, }3 x! U+ q7 fS参数不是体现的输入阻抗吗？这个和特征阻抗不一样。target impedance是特征阻抗吗？
8 T: h6 {: r3 O3 z& Z
target impedance是特性阻抗
作者: wanily    时间: 2015-5-24 16:37
期待 加油
作者: qingdalj    时间: 2015-5-25 10:22
大家好，经过多日的沟通，本书翻译人员的名单已经确定，下面是本书翻译人员的名单，感谢大家的支持
! V9 T  v8 t+ H, D
. y% U9 q# i) J1 x
作者: 菩提老树    时间: 2015-5-25 12:53
菩提老树 发表于 2015-5-24 14:49
: ]. P5 @$ o, L) }( Atarget impedance是特性阻抗

6 S8 x( ^( C9 h4 y4 h. I; n8 v老板，那个说的是相当于8 B0 m1 J, [+ @( J( B
作者: freezing616    时间: 2015-5-27 14:12
菩提老树 发表于 2015-5-24 14:49* S5 Z1 B. M; |' [
target impedance是特性阻抗
7 k1 R& v+ u$ u9 v: |
characteristic impedance：特征阻抗，对信号完整性而言。
- _0 U$ O+ ?- STarget impedance；目标阻抗，对电源完整性而言。9 L) A; c, |2 m0 N: M2 C! n  C; o
翻译还需要人不？7年SI/PI仿真工作经验，偶尔测试。  z, p$ T8 T2 p" Y; l1 X
3 u( H, T9 V) j' v" [6 K( V' X, V
作者: wisology    时间: 2015-5-31 14:05
等翻译结果了。。。
作者: hongdousa    时间: 2015-6-1 11:37
Michell，5年硬件和电子工程，一直有阅读英文参考文献的习惯，想报名！不要报酬也可以，就当给自己一个机会！
作者: hongdousa    时间: 2015-6-1 11:39
qingdalj 发表于 2015-5-19 10:29) |1 o7 ?+ v0 \: Z
大家好，该书的翻译工作现在由我跟进，合同已经签订完毕，本书的翻译人员名单也已经确定。由于没有大家的联 ...
% D% Q: v6 _; U6 D
版主，翻译人员名单已经确认了吗？我想报名！+ o+ s! S/ j9 V3 ^) [6 g
作者: qingdalj    时间: 2015-6-1 15:14
hongdousa 发表于 2015-6-1 11:39) Z" Q  W" n8 K
版主，翻译人员名单已经确认了吗？我想报名！

) S, Q6 y" d. x3 }  e7 t/ H这本书目录上的内容有哪些你是你做过的？我们要求必须非常熟悉才行，真懂。把你非常熟悉的写下来，我这边评估下，因为名单已经确定，最好把你的简介写的详细些* m$ d3 Y& N  p
作者: hongdousa    时间: 2015-6-4 11:51
qingdalj 发表于 2015-6-1 15:14
- P6 V1 S% P8 Q/ U( A这本书目录上的内容有哪些你是你做过的？我们要求必须非常熟悉才行，真懂。把你非常熟悉的写下来，我这边 ...
& T) ^; F* U7 w+ @0 S3 {8 R
老师（版主）：5 Y1 O1 O7 K2 n4 L+ h; h+ s$ g
你好，对以下章节接触比较多：
% ^2 A1 m( K8 p; s$ g# |/ }五，探头，夹子，互联( [6 }, d, E. s: _: Q
七，阻抗测量
. p" U9 O0 J$ n/ z. w4 @. \* Q0 x九，PSRR测量6 i4 D# S% Z% ~; a7 b. L
十一，阶跃负载响应测量& }$ R: m' l$ _' t9 O/ \/ V3 ?
十二，纹波和噪声测量
) R/ e! o! ]3 O$ o, X* S十五，高频阻抗测量, s' e/ s2 E% `9 ]3 C; g
6 u4 ?, j6 K. K6 U' y; n: ^

# S- ?5 \6 Z  E7 u7 k
作者: qingdalj    时间: 2015-6-6 09:00
xyd20405 发表于 2015-5-5 12:134 n( Y5 [- f- y+ P% p+ |
xyd20405, 4 年以上硬件设计经验，熟悉信号完整性理论，想翻译的章节为：
5 N& _, z9 }9 m( ~0 z
5 b3 u+ H, ~; a8 B3 x9 y& d一、简介

3 O5 }7 y8 `0 H7 j2 `2 p兄弟，你是不是很忙？我们翻译马上就要开始了，却联系不上你啊，微信也不加，站内信也不回，邮箱也没反应，兄弟好无助啊& |6 L0 `! W+ L, J7 L' r) n
作者: freezing616    时间: 2015-6-6 14:35
freezing616 发表于 2015-5-27 14:12: k0 C& ]0 a7 C1 f% e6 x# M
characteristic impedance：特征阻抗，对信号完整性而言。
$ J5 F& M: ~5 z5 S& r2 j% xTarget impedance；目标阻抗，对电源完整性而 ...

  ?7 ?! {1 C& O; H3 {' x. U0 ?ok1 r* T9 B: {+ y  W# m
作者: YuanJ    时间: 2015-6-10 19:25
菩提老树 发表于 2015-5-19 17:14& G* c" j  _) C5 j) G9 t" ~
好，很好！

$ ]3 U3 I9 N  K, n( [+ f2 y9 Z你好，这本书还有翻译的名额吗，我也想参与。个人介绍：硕士，四年的高速电路设计经验，看过一下原版SI, PI的书籍。谢谢
& p8 Z, g9 p, D* ]' ^
作者: qingdalj    时间: 2015-6-15 16:26
大家好，刚刚收到该书的电子档，稍后会发给相关人员，请大家注意查收；收到邮件后，请回复邮件确认，谢谢
作者: alienware    时间: 2015-6-20 08:00
谢谢，指导
作者: yujian    时间: 2015-6-22 00:01
都是大神啊！本人能力有限，只有通过购书支持！！！！
作者: xgyt2010    时间: 2015-6-23 21:05
支持
作者: airsmiler    时间: 2015-6-24 00:59
支持一个哦
作者: zlpkcnm    时间: 2015-7-3 09:19
只能顶一个了~~~
作者: 学习1    时间: 2015-7-16 08:40
作者: willyeing    时间: 2015-7-16 15:23
等待购买
3 s0 L- C! e6 t/ g% D& `7 {
作者: sleeper2008    时间: 2015-7-20 11:27
什么时候出书啊,坐等新书
作者: 寒冰箭影    时间: 2015-7-28 23:41
版主能不能说下进度怎么样了？期待！
作者: chama    时间: 2015-7-29 16:54
EDA这个平台，目前来说应该上升为国内最好了吧？等待大家揭秘PI吧。给力……
作者: hssinian    时间: 2015-7-30 16:32
cousins 发表于 2015-5-4 09:32
1 V- x! o! t0 vColin, 7年以上高速系统设计从业经验，熟悉SI/PI理论，各类测试设备，想翻译的章节为：! D) l4 R3 S; y. o" v) E
第六章  分布式系 ...

, ~9 D; H, u; u) F# e' N1 A( wPI理论的学习哪些文章或教程比较好？) H) f1 t& s9 T- I
作者: cousins    时间: 2015-7-30 16:52
hssinian 发表于 2015-7-30 16:32
- X9 c1 ?$ N0 t* c! p0 m' zPI理论的学习哪些文章或教程比较好？

& O" [6 O- F: S[Eric Bogatin] -Signal and Power Integrity：simplified
$ t+ ^) @8 `9 g这本最简单。8 P0 [( H6 A- t6 a: b1 Q

- ^- r5 w% x- e' h- o4 B4 Y4 K! f4 I" h/ q5 W+ Z0 Z& t% A
作者: qingdalj    时间: 2015-7-30 17:05
电源完整性的翻译工作进行了有一个半月了，下面公布下当前的翻译进度。本书共有15个章节，现在已完成
4 @: l9 y+ v2 k# O. y6 w0 ]13章节，还有2个章节已在翻译过程中。我们将对这些文稿进行校对，统一专用词汇及文章结构。。。同志们，加油！
作者: yat2011    时间: 2015-8-6 10:09
各位大神加油，坐等出书。。。
作者: qq402979209    时间: 2015-8-7 17:39
不错
作者: cartman    时间: 2015-8-13 10:25
坐等大师们出书！



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