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[仿真讨论] 减小轨道塌陷措施?

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发表于 2013-10-11 09:44 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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1、减小电源和地路径的回路电感;
; B4 @2 V' T+ d+ D2 l) i2、使电源平面和地平面相邻并尽量靠近;9 Y1 {; H' a6 k1 x! U3 W/ R- ?* r+ p
3、在平面间使用介电常数尽量高的介质材料使平面间的阻抗最低;3 C4 A( B4 y" o* o
4、尽量使用多个成对的电源平面和地平面;
( ?5 E% _, a4 b3 R( v5、使同向电流相隔尽量远,而反向电流间隔尽量近;, F1 L/ k# w! w2 J' f5 h; s7 ]/ @
6、在实际中,使电源过孔与地平面过孔尽量靠近。要使它们的间隔至少与过孔的长度相当;2 P9 ?, Y! E: U0 p  H
7、应将电源平面与地平面尽可能靠近去耦电容所在的表面处;
% V+ J' ~1 u9 ^3 \6 C# e2 G  m9 i8、对相同的电源或地焊盘使用多个过孔,但要使过孔间距尽量远;# V6 \2 _8 ^& _; U* G# |8 f
9、在电源平面或地平面上布线时,应是过孔的直径尽量大;7 B- o6 X# {: l9 w! d
10、在电源焊盘和地焊盘上使用双键合线可以减小键合线的回路电感;# f* M" ~2 B( m
11、从芯片内引出尽可能多的电源和地引线;/ u, X/ O6 b" R% o, b6 q
12、在芯片封装时引出尽可能多的电源和地引脚;
! J7 d" q0 F, V: r0 t13、使用尽可能短的片间互连方法,例如倒装芯片而不是键合线;
7 V( }7 c* r* S/ n4 S, u14、封装的引线应尽量短,例如应使用CSP封装而不是QFP封装;: t' ]( J. d6 u1 P( |/ V
16、使去耦电容焊盘间的布线和过孔尽可能短而宽;- ^$ y/ W5 p* e4 v
17、在低频时使用一定量的去耦电容来代替稳压器件;
, p! e& u) b% N18、在高频时使用一定量的去耦电容来抵消等效电感;. G0 Y: A' q: G4 I5 S- @4 F
19、使用尽可能小的去耦电容,并尽量减小电容焊盘上与电源和地平面相连的互连线的长度;- [  U8 }: K( t0 z: ~* N
20、在片内使用尽量大的去耦电容;: m3 G1 D9 o0 E! o
21、在封装中应使用尽可能多的低电感去耦电容;( v2 Y6 @$ R% e& z; e0 F" f) J
22、在I/O接口设计中使用差分对;
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发表于 2013-10-18 16:23 | 只看该作者
就一句话:使DIE pad出来的wirebond线与POWER/GROUND RING的电感尽量小。

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发表于 2013-10-22 19:42 | 只看该作者
高手出现。
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