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[硬件] 电路设计漫谈之- Accuracy/Precision 和数模系统的参数选择

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发表于 2019-9-27 15:10 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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(信息来源:EETOP论坛,作者:sun_ic)
* w/ d9 T* ?! F/ M8 Q& Z& N) j
( |! m2 h* l, m+ N" I, _5 k7 D) ~
Accuracy/Precision 和数模系统的参数选择 : V2 }# P- a& P4 t

! W. N; N1 L- l
  y: P' {* i( B- N8 I! K精度是什么?
" R) u4 o1 I' L1 j1 Y3 W2 P" [0 ^( P" z9 T8 O3 P' d6 C# G

( E' x/ t" z# X/ G7 J: A4 ~( ~精度-一个最常用也最容易被模糊的概念。我们衡量一个测试量与实际理想值的误差时,需要两个量来表述 accuracy 和 precision. 前者一般称为精度,后者最好叫做可重复性。下边的图是从Bonnie Baker的一篇文章转来的。感觉它很直观的解释了accuracy和precision的区别。. o# ]2 C) i- Y& I
一个测量系统可以是 1)精度高但是不具备重复性 2)具备重复性但精度不高 3)两者都高
2 ]) d5 Z! H2 a4)两者都低.

" S; i# p9 J! a% y. _0 Y( Y! }& K5 T8 M  @) v; x7 ?9 p
' W1 b  X2 F: L9 y
. \! k  W( U6 c

7 z' X2 \( R1 J! b 1 D/ T. Y" n( n. R
Accuracy实际是测量中一个平均过程的概念。一般是衡量多次测量后的平均值接近理想值的程度。所以它隐含的是测试的DC量纲。在A/D转换系统中,datasheet中的以下参量是一个DC的概念:Offset, gain error, INL, DNL等。他们衡量了做直流参量测量时的误差水平。
! A5 Q, [' X* E % e% E$ |3 y7 s# r, N& c2 A
Precision是指在同样测试条件下,测试结果的一致性(注意,此时可能每次测量的值偏离实际一个固定值,但不影响得到高的precision)。同样的A/D系统中,以下参量是一个AC的概念:Dynamic Range, SNR, TDH等。他们衡量了做非直流参量测量时的误差水平。
; \' [6 J" {" h
. F1 h( p0 B, O3 W4 K/ ~2 S知道了以上概念的区别,在实际选择器件时就会有所侧重。比如在做直流测量时,你主要关注datasheet中那些跟DC有关的参数。交流的参数就可以次之考虑(跟测量的重复平均次数有关系)。当做无线/图像等AC信号的测量和转换时,则需主要关注SNR等指标。
  E2 X' D3 M3 K; w$ j# G# V0 M
5 m5 U9 E$ R: L- h. [- L
  E/ {; J* C+ q; h: DA/D转化器到底有多少bit可用?
7 h: F5 y9 s5 ^" h, G  A; S- s
% ], ?% @$ L5 W" q好多人在选用A/D转换器时,只是看标称的bit数,然后根据这个值来计算测量误差。比如一个A/D标称10bits输入5V,会得出其测试误差好于5V*(1/1024) =5mV的结论。错了。3 I% d; N- X/ y/ k2 I( h  M
, n. Y. [  J' T, z" M6 K
A/D转换器的精度受以下两个参数影响INL和ENOB。
6 ]& _3 g; X# |! y, K + E- @! B6 M& v& d+ j6 `  p& o" ~. ~$ C
INL是直流测量时要主要考虑的参数。一般ADC的其它直流测量误差诸如offset,gain error等可以通过校准而削掉。这时INL成了影响测试的主要误差来源。比如一个10bit的ADC,INL=1.5bit,那么这个ADC的实际可得到的最好精度是 5V*(2^8.5)= 13.8mV。
; i9 R9 Q. L* p$ ]1 ?! `
% x  q, b) I2 P$ D- ~4 \ENOB(有效bit数)是非DC信号模数转换或交流测试时一个A/D的有效bit数。它主要跟SNR有关。用ADC来做AC测量,比如在无线信号处理,图像数字化处理等应用场合,你应该知道这个著名的公式
3 P" i4 [0 U0 e7 M
/ b: q5 w( E: e( X1 f- |4 }* C4 o! j0 ~9 n2 G
ENOB = 6.02SNR +1.76

3 x  E8 f2 q+ u& W$ _
5 {1 i/ h/ z+ T0 G
2 z( u2 I0 X) v' _% k, o
其中的SNR更精确的说应该是SINAD(SNR & THD:信噪比和总谐波失真)。上边公式也隐含了如果系统的SNR变差,则总的测量precision也会变差。所以就有了对连接ADC的前置放大器SNR的要求。# \" }; g6 m8 x! ]/ Q2 g# j

& y' X6 n* U+ Z& v9 f& Y一言以蔽之:对于一个ADC的datasheet,若干的技术指标中最重要的就是这俩 INL 和 ENOB(或者SINAD)。带宽动态范围等指标是显然的,比较不容易模糊。
( P; z* X; T- }* ~. j) Y$ z * S- b2 d# `3 Z1 n3 g% w6 I
给定了一个设计要求的accuracy/precision,还需要一个被测信号的SNR,一般就能选择整个数模转换系统各个电路段中器件的技术指标了:A/D的INL或者ENOB,放大器的SNR要求,等等。Analog Device有个webinar给出了一个系统的设计分析步骤。有兴趣的可以去网站找一下看看。但本人感觉其中还是有缺陷,发了个email去跟对方争鸣,也没见回音:-) 俺自己搞了个流程,有人有兴趣的话可以讨论一下。
+ t* F5 O& ?. F& |# R9 ~  i! O* t; Q  c9 k. R- X  D8 j
好了,以上说了这么半天,都是些常规的知识。俺在研究这些东西时始终有个疑问:如果被采样转换的信号是在DC上叠加了一个AC信号,那么到底时用INL还是ENOB?这个问题就本人所见没个明确的说法。TI曾经有次网络上的open LAB,他们的技术支持,设计工程师在网上分时段回答讨论各种问题。俺就把这个提出来询问。不同部门人的回答跟上边描述的差不多:DC用INL等。AC用ENOB。但追问DC+AC怎样对待,则没人出声。上边提到的baker在一篇文章中提起过总的误差要做DC和AC误差的均方根处理。也没说应用在什么情况。这一说法俺感觉有明显的漏洞。A/D转换系统的误差主要来源于噪声和非线性。非线性可以引起INL和THD,噪声可以引起DNL和SNR。所以DC的误差和AC的误差是相关的,不能简单的用均方根来处理。好在大多数问题要末是测量直流的accuracy(RMS, level......) 要末是要求AC信号的precision (radio, video ......)。至于这个DC+AC的问题,那位DX有研究过请指教则个
9 s8 y& O2 n( s+ n1 S& J1 T+ P
) H) a) F' w2 Y3 ~3 n
以前的漫谈1-12在这里3 b( @( O2 f5 k8 p$ R  O
http://bbs.eetop.cn/thread-178347-1-1.html

0 U! x5 [( w2 U) X/ ?$ R/ R8 h1 Q* o  z' ~1 V' ]1 ]
( C1 y0 |5 b& H% o' u
(待续)
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