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[仿真讨论] 50阻抗线换层参考电源平面的话应该如何测试才是正确?

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发表于 2013-12-4 08:32 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式

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50阻抗线换层参考电源平面的话应该如何测试才是正确?
# T, X% g, D, t( `$ R4 g' k: N
+ Z% Q* B! U' C假设测试一根50欧走线,从顶层到底层再到顶层,中间有地与电源参考
6 _& t1 J6 S8 e. H% r: B: `50阻抗线换层参考电源平面的话,如果没有电容的是不是电源就是悬浮状了" I7 `" K. Q0 w1 s' [

7 }1 O3 E* z7 r* E这样的无源光板测试换层效果是不是有一些问题( D" M4 A* `! k: q* F& L  U, }3 n! E
9 U3 i. @& Q, M0 I3 v
正确的方法应该是如何的呢?
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发表于 2013-12-6 21:31 | 只看该作者
没有好好考虑过这个问题哦,下次遇到俺要思考一下

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 楼主| 发表于 2013-12-6 18:26 | 只看该作者
jomvee 发表于 2013-12-6 17:362 b8 V9 w+ X3 \3 `% w$ k/ l/ ~0 P
这种情况裸板测试结果肯定跟实际不一样,实际情况会有去耦电容提供电源平面上回流到地平面的AC路径,另外P- ...
& X; E9 `1 u" W3 @# O0 Z
如果需要测试这种效果的话,需要焊接电容到上面?

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发表于 2013-12-6 17:36 | 只看该作者
这种情况裸板测试结果肯定跟实际不一样,实际情况会有去耦电容提供电源平面上回流到地平面的AC路径,另外P-G间的谐振分布也影响测试到的S参数曲线,一般比较高速的信号坚决不能这样设计走线,带来的后果就是电源地谐振频点的信号分量衰减相当严重的,SI问题自然就会出现。
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发表于 2013-12-6 17:23 | 只看该作者
这个概念一直比较模糊,如果是背板的话,测试的时候还是要找最近的地来做参考   毕竟芯片用的时候还是要参考地的

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发表于 2013-12-5 10:42 | 只看该作者
mengzhuhao 发表于 2013-12-4 18:566 l! N4 \! ?5 Z. A4 z2 f
那类似换层的光板在测阻抗的时候是怎么考虑的呢
5 K) ]  s+ g& z+ a$ [
光板是什么板,没有接触过啊,反正用麦克斯韦去理解就行了

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 楼主| 发表于 2013-12-4 18:56 | 只看该作者
eeicciee 发表于 2013-12-4 17:440 c6 c7 l+ ~. m  f* t) D1 B2 t
我觉得测试时应该参考最近的平面。
& e5 ~3 U4 c0 |9 {% P
那类似换层的光板在测阻抗的时候是怎么考虑的呢

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发表于 2013-12-4 17:44 | 只看该作者
我觉得测试时应该参考最近的平面。
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