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发表于 2016-4-27 08:48 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式

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3 ~, W7 q( U0 w9 D
C. Morgan, “Solutions for Causal Modeling and a Technique for Measuring, Causal, Broadband Dielectric Properties,” DesignCon 2008. P) d$ _4 D* o1 u/ R" f9 \5 e
8 U( p6 h: H8 n  {* K( z" W
E. Bogatin, D. DeGroot, C. Warwick, S. Gupta, “Frequency Dependent Material Properties: So What?” 7-TA1, DesignCon 2010
0 n% B9 C$ @4 s: q# b4 i' a5 X
& H4 C) H9 r; lD. Degroot, P. Pupalaikis, B. Shumaker, “Total Loss: How to Qualify Circcuit Boards”, DesignCon 20117 e  R: j+ i' M0 B( M0 ?
: a8 L# z/ _4 O% i

# Q! s) q. k% |8 tA. Rajagopal, B. Achkir, M. Koledintseva, A. Koul, J. Drewniak, “Material Parameter Extraction Using Time-Domain TRL (t-TRL) Measurements”, 978-1-4244-4267, IEEE EMC 2009
# Q# ^1 [8 T3 F$ N4 d8 h: E) }
0 o; j% F; m0 d/ U
6 h) U1 Z# n3 f0 [- l9 CA. Horn, J. Reynolds, J. Ratio, “Conductor Profile Effects on the Propagation Constant of Microstrip Transmission Lines”, IEEE IMS 2010
. w4 G3 r1 h0 \
4 G' o6 g. g& y
' H2 O5 ]: |6 c  OH. Barnes, J. Moreira, M. Resso and R. Schaefer, “Advances in ATE Fixture Performance and Socket Characterization for Multi-Gigabit Applications”, DesignCon 2012, a- @& O) ^7 |1 z7 G( J5 P( _
- v. q5 ?$ Z& V6 |
R. Schaefer, “Comparison of Fixture Removal Techniques for Connector and Cable Measurements” Signal Integrity Workshop, IMS 2010
1 U" Y) _' @2 ~+ \, R1 z3 d+ W1 X3 x. g8 M8 V
A.R. Djordjevic, R.M. Biljic, V.D. Likar-Smiljanic, and T.K. Sarkar, “Wideband Frequency-Domain Characterization of FR-4 and Time-Domain Causality,” IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, vol. 43, no. 4, November 2001% E- |# ?' `+ t, |7 }

1 k6 L! `) X' ^8 p" w, {3 C9 A' r& a* ^# K
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