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[仿真讨论] 50阻抗线换层参考电源平面的话应该如何测试才是正确?

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发表于 2013-12-4 08:32 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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50阻抗线换层参考电源平面的话应该如何测试才是正确?
. N5 N* l( {; q' c+ v% X) f. J$ J9 d6 O; d4 S6 z* f1 Q: @+ J
假设测试一根50欧走线,从顶层到底层再到顶层,中间有地与电源参考2 ]: g* l5 P0 k* G: }4 c4 W2 c
50阻抗线换层参考电源平面的话,如果没有电容的是不是电源就是悬浮状了
) A9 Y( s4 j( B- [
- \4 z' b0 @/ F5 F2 h4 Z这样的无源光板测试换层效果是不是有一些问题
7 M" h3 O4 I6 `; q0 Q
. a! x$ J% F$ a) W# A4 B+ _正确的方法应该是如何的呢?
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发表于 2013-12-4 17:44 | 只看该作者
我觉得测试时应该参考最近的平面。

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 楼主| 发表于 2013-12-4 18:56 | 只看该作者
eeicciee 发表于 2013-12-4 17:44* @" E9 N7 Q* L/ H- A
我觉得测试时应该参考最近的平面。
, B: q# S* S9 W/ Z) Z$ K. p
那类似换层的光板在测阻抗的时候是怎么考虑的呢

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发表于 2013-12-5 10:42 | 只看该作者
mengzhuhao 发表于 2013-12-4 18:56" G3 L# K4 |( G7 u
那类似换层的光板在测阻抗的时候是怎么考虑的呢
  B2 c) t% k8 r9 t
光板是什么板,没有接触过啊,反正用麦克斯韦去理解就行了

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发表于 2013-12-6 17:23 | 只看该作者
这个概念一直比较模糊,如果是背板的话,测试的时候还是要找最近的地来做参考   毕竟芯片用的时候还是要参考地的

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发表于 2013-12-6 17:36 | 只看该作者
这种情况裸板测试结果肯定跟实际不一样,实际情况会有去耦电容提供电源平面上回流到地平面的AC路径,另外P-G间的谐振分布也影响测试到的S参数曲线,一般比较高速的信号坚决不能这样设计走线,带来的后果就是电源地谐振频点的信号分量衰减相当严重的,SI问题自然就会出现。
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 楼主| 发表于 2013-12-6 18:26 | 只看该作者
jomvee 发表于 2013-12-6 17:36& J1 y  G2 i) n9 l; V2 r6 M
这种情况裸板测试结果肯定跟实际不一样,实际情况会有去耦电容提供电源平面上回流到地平面的AC路径,另外P- ...

6 }7 ~1 r; B- Q8 q如果需要测试这种效果的话,需要焊接电容到上面?

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发表于 2013-12-6 21:31 | 只看该作者
没有好好考虑过这个问题哦,下次遇到俺要思考一下
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