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本帖最后由 mengzhuhao 于 2012-3-15 18:24 编辑 $ o2 e {; d3 @- T$ G
$ t# w0 w2 |/ h对比了几个工具得出的S参数曲线,请有经验的朋友看看是否存在仿真上的问题?+ E/ U) N# D ^: y* P4 d- u& X5 b
s, b$ P1 e3 |4 o在PADS里面画了一根这样的走线:7 t3 r' u( `9 n W% N9 x) s$ a
线宽逐步变化情况:8mil+15mil+20mil+8mil3 |8 E3 U6 j" R6 Y6 i3 a
线长逐步变化情况:820mil+1000mil+1100mil+970mil
, U% {* E4 _; {0 A5 O- X" ]- l8 a2 n线的两头是32milX32mil的焊盘
( l8 X8 K i# [( e0 {$ z
$ D) t1 j0 d' x i& V5 Wtop走线厚度:2mil;材料选择铜,导电率5.8e+74 b2 h3 v) }2 a7 D3 H
中间介质厚度:6mil ;介电常数4.6;介质损耗切角0.01 N0 M. D6 X" U+ ^7 v
bottom参考层厚度:2mil
3 z9 l8 ^. x9 B }
* p- f1 F7 P f2 h; b$ A
" ^! ^6 i- j- B: k6 W7 L5 X5 J1 T+ c
5 @3 z3 Z' V6 }. i6 a版本:$IWAVE 3.5
* y1 ~3 t2 H) B% B- f将以上文件灌铜后导出asc文件,再导入到$IWAVE中,确认了叠层与介质的信息一致后,在两端带焊盘处各加一个port到参考地;仿真的频率到10G
' m, A, I$ p) B- Y仿真得出的S曲线如下:0 G2 R5 g: x7 J( V/ t0 A# v& T
) d, x. ?& o" @
+ s. D, R# d9 T0 R, F* f9 k% \
版本:ADS 2011.10
) G4 O* W% d6 B5 a& d6 }; n使用CAM350导入gerger文件,然后导出DOB++文件;在ADS中导入此文件;设置新叠层,选择介电常数一致的材料;在两端带焊盘处各加一个port,在正下方也各加一个port;然后在EM设置里面将参考面上的port拖进焊盘上的port,作为负极
9 N2 o9 q7 E) O1 H7 `, i5 T, O6 U- c- Y5 w仿真频率到10G,选择的仿真模式是RF模式,其余均按默认设置未动, R# e3 s& O" `; o. a/ ^, R" k: e
仿真得出的S曲线如下:1 e3 ~) M) k; v
5 x1 u Y3 u1 `9 W( ~; X0 T
% x0 j3 L9 i) B- x U版本:HFSS 13.0.1
* e0 u! P4 J# W1 f5 w' B, ^% w$ r使用ansoftlinks导出HFSS格式文件到HFSS平台,删掉导入后感觉错误的port,重新定义。
O4 N2 ~3 \% u" V选择走线的box与参考面的box,作为导体边界;选择空气的box作为辐射边界9 w' V8 h [; [: Q/ C
在走下层信号焊盘处,画一个垂直矩形到参考层正上方接触处,设置为Lumped Ports;另一端也同样设置
& s5 X G9 p' x新建一个求解设置,再增加一个扫频设置,范围从1M到10G,扫描100个点,设置为fast模式,勾上保存所有场数据
9 U1 V5 p6 C B* u7 e: X0 p, |检查无误后进行分析,仿真结束后新建一个S参数报告,然后导出S参数数据0 @6 m, r! u d- s; Q
仿真得出的S曲线如下:
7 Q1 b6 \9 k8 g6 L. m# ?" f4 Y
6 P/ J+ E, b+ M' o% X1 M" N; K在想观察不同频率结果的时候发现只有一个2G的数据结果,为何明明勾上保存所有场数据,为何没显示出来?而且想观测动态场的结果也只能看一个2G的结果
% _' E2 x) _! X& E# X是哪里设置上存在问题么?: p G2 R% Y1 }' j0 }+ Y
4 F& n) ^4 \# {( s
下面这个是3个S参数同时叠加后的效果:
# C8 }/ @& W0 x2 Y) P( d" H4 y
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