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本帖最后由 mengzhuhao 于 2012-3-15 18:24 编辑
/ R% g0 u. h9 i0 X$ y! S% }- A: Y* m1 _4 o( v4 y+ P
对比了几个工具得出的S参数曲线，请有经验的朋友看看是否存在仿真上的问题？9 H q2 K) V, [% T: f/ \$ P% ^
1 D0 c0 O" G9 M5 G2 \8 m# h
在PADS里面画了一根这样的走线：! t4 Q3 ~' \; O* X% ~% O
线宽逐步变化情况：8mil+15mil+20mil+8mil
7 v* k6 e1 }4 C3 G1 @8 X; H! E" v线长逐步变化情况：820mil+1000mil+1100mil+970mil
1 x) {3 g. z. ~4 L线的两头是32milX32mil的焊盘; g/ z/ T9 g5 b5 O
7 K: g7 u* u. _4 A
top走线厚度：2mil；材料选择铜，导电率5.8e+7
' k& @. L' J; M' c, k中间介质厚度：6mil ；介电常数4.6；介质损耗切角0.01
, Z# E6 i; O5 u7 z0 ybottom参考层厚度：2mil
1 w: W2 A- _7 L( u+ s- x4 s4 J
4 u) D1 f* w/ e
, [* B' M. i0 W9 o5 j# R+ w
0 y% ]( m5 Y9 X; [9 t版本：$IWAVE 3.5
' Y; c& E0 [/ r$ {6 `! l: N将以上文件灌铜后导出asc文件，再导入到$IWAVE中，确认了叠层与介质的信息一致后，在两端带焊盘处各加一个port到参考地；仿真的频率到10G+ \& j0 m0 C# F3 o: h4 z
仿真得出的S曲线如下：; }/ m9 C: X, l2 K: M4 ~
5 c, |( E$ D5 L3 n5 C! R2 p0 s! _/ k- q) N m: P) b5 C
版本：ADS 2011.10
# [! d" U. w* r! S; a- d使用CAM350导入gerger文件，然后导出DOB++文件；在ADS中导入此文件；设置新叠层，选择介电常数一致的材料；在两端带焊盘处各加一个port，在正下方也各加一个port；然后在EM设置里面将参考面上的port拖进焊盘上的port，作为负极' D7 i( M' E, ^+ S7 x
仿真频率到10G，选择的仿真模式是RF模式，其余均按默认设置未动
: ^9 s( J# ~ P. l+ ^* v9 g6 U仿真得出的S曲线如下：# b2 S9 W1 p# s) C+ [
6 b& D, z6 O1 x5 k6 u
7 S7 i# K. Z P版本：HFSS 13.0.18 Y+ y2 H/ O7 ^- q( y: ^9 }
使用ansoftlinks导出HFSS格式文件到HFSS平台，删掉导入后感觉错误的port，重新定义。+ e, {% B6 W7 C6 }5 v4 U+ h2 p
选择走线的box与参考面的box，作为导体边界；选择空气的box作为辐射边界5 `- ]! e, I- i6 K! p- R
在走下层信号焊盘处，画一个垂直矩形到参考层正上方接触处，设置为Lumped Ports；另一端也同样设置
6 T2 H) e$ g6 C新建一个求解设置，再增加一个扫频设置，范围从1M到10G，扫描100个点，设置为fast模式，勾上保存所有场数据7 [9 g, f8 d0 c$ ]
检查无误后进行分析，仿真结束后新建一个S参数报告，然后导出S参数数据
3 [( c3 x% T+ k. G6 ~3 Z, N仿真得出的S曲线如下：
" Q2 j0 N+ d& I* H! \3 P* o7 l& i
% c( T) f8 V ?, S& l9 Q在想观察不同频率结果的时候发现只有一个2G的数据结果，为何明明勾上保存所有场数据，为何没显示出来？而且想观测动态场的结果也只能看一个2G的结果2 f4 s4 v+ O3 U# J% G/ v
是哪里设置上存在问题么？$ {0 T# b: K* ^2 C2 \
L7 ]7 e0 \- Y( O+ T4 J% x9 C
下面这个是3个S参数同时叠加后的效果：1 ]. E% [3 W( S: J4 Z( [ u3 |: g1 e
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发表于 2012-3-14 18:35
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