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传输线的本征上升时间

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发表于 2010-6-27 23:04 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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传输线自己的本征上升时间是不是也是按照RT=0.35/BW计算的8 z: m. `) h9 ^% x- a
6 ~; L# {0 g* K
有一命题:要使传输线对信号的上升时间的影响不超过10%,传输线的本征上升时间就要小于该信号的50%这句话该怎么理解,假设传输线的带宽5G,本征上升时间为0.07ns, 按照要求信号的上升时间>0.14ns, 信号带宽为2.5G, 由于传输线对信号的高频成分会有比较强的衰减作用,传输线对信号高次谐波衰减有没有计算方法呢。
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发表于 2010-6-29 09:52 | 只看该作者
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发表于 2010-6-29 16:45 | 只看该作者
本帖最后由 stupid 于 2010-6-29 16:50 编辑 * f  A, X/ `- t6 i

3 ~$ H! _5 Y6 ?如2楼所述,对于有损传输线,本征上升时间主要由传输线的长度和介质的损耗因子决定,再简化一点,这是传输介质的固有属性。对于单位长度的有损传输线,介电常数和损耗角正切决定了本征上升时间。介电常数和损耗角正切越小,上升时间越快。而通常的高速介质,都是低介电常数,低损耗正切。 当然这一切,在Bogatin写的《SI:simplified》一书 9.13 互连线的带宽一节中写的非常分明。
3 Q4 t# j) m  ]
! u0 o5 O1 e5 F+ a* k3 a+ _另一点值得说明的是,传输线的固有带宽也是用3dB来定义的。
( a* P3 Q7 @: }$ C' W
2 k! g( ~4 E8 x0 R至于你所说的对高频成分衰减较强,可以从2方面理解。第一,传输线会减缓上升沿,而高频分量主要集中在上升沿;第二,从插损上看,频率越高,衰减越大,事实上,这2方面是统一的。
, O* Y) Q  Z0 W/ G* Y7 c
0 @! w+ g8 E" l+ I( n各种传输媒介的带宽限制都是有频率相关的损耗造成的,带宽限制又会进一步造成码间干扰ISI,从而加大DDJ,导致眼图闭合,影响接收机辨别比特的能力。$ E7 m: t, E7 J$ K' Q! u  x; e/ S0 G2 S- k
, }" L  P3 [! B! [5 }
针对高频损耗的情况,才出现了各种各样的补偿技术,比如预加重。

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 楼主| 发表于 2010-6-29 18:10 | 只看该作者
谢谢2位,正在琢磨B的书,才会有这些疑问的
8 N. ~  r% Y( L1 ~& a, U" ]- P) Z当年看到华为的EMI手册开始认识信号
8 n0 d4 R0 C% Q+ _3 p现在发现还远远没入门,呵呵

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发表于 2010-6-30 14:16 | 只看该作者
不同板材的固有上升时间是不同的。9 {3 K! Z/ y. T$ f. x: B& c: s
Rogers RO4350,Dk=3.48,Df=0.0037,固有上升时间 1.86ps/inch7 g" l3 M- G& M
Taconic fastFlim TM27,Dk=2.7,Df=0.0012,固有上升时间 0.53ps/inch( x* L+ C* X8 f4 q2 U- a' i; i
             TLY-5A,Dk=2.17,Df=0.0009,固有上升时间 0.35ps/inch,这几乎是高速板材的最快固有上升时间,信号在这种低介电常数的材料中传输非常快,损耗非常小,对上升时间的衰减也非常小。
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