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2017年9月21日QA检查报告节选

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发表于 2017-9-22 09:04 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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1.铜有尖角,线在分割上
3 v/ Y& \" |4 t) m! p: O6 B, |" e
( ]& b. X2 |! m! y& X
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 楼主| 发表于 2017-9-22 09:05 | 只看该作者
4.平面太长有跨分割
. r6 G2 ]) h0 I
- A  l" \5 F  v0 w. B1 D# z, @

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发表于 2017-9-30 15:55 | 只看该作者
EDA365QA 发表于 2017-9-22 09:07" Q7 |: a  D* Y2 z
12.不建议在电感内部大孔穿线

  `9 e2 }$ X# j2 v3 I4 |3 Q. n我认为这个高速线这种走法是最好的处理,请问有没有其他好的处理方式?

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 楼主| 发表于 2017-9-22 09:05 | 只看该作者
5.分割修改到阻容器件中心过,减少走线跨分割( b+ \! t8 X% Z( S% W" j: t/ q2 k

, K1 q8 N2 X% B# V* Y

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 楼主| 发表于 2017-9-22 09:04 | 只看该作者
2.两个电源夹一个信号层可以优化。- F7 H0 \3 q( e, c  \

( w0 \* j; v1 a! R1 L" Y! o* ^

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 楼主| 发表于 2017-9-22 09:04 | 只看该作者
3.器件中间多防焊,建议修改封装删除此防焊。* s9 ^7 F8 G% m. i* i% s
$ e. M7 y2 q4 i, C$ w, d' s

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 楼主| 发表于 2017-9-22 09:05 | 只看该作者
6.双口RAM有部分线没有等长
0 u% V7 @/ [, o* ?5 U ) y- o* L7 k- m7 C9 m" I6 m5 D% Y

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 楼主| 发表于 2017-9-22 09:05 | 只看该作者
7.VTT电源加宽
' b& D5 Q! F0 t: g1 @: L $ C" Q( J5 o- A8 m& z! j: r9 a

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 楼主| 发表于 2017-9-22 09:05 | 只看该作者
8.器件位号确实3 S9 M2 j/ K' P* ^- a1 Q
( t: D6 Z" N' [) T$ p

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 楼主| 发表于 2017-9-22 09:06 | 只看该作者
9.光耦前后隔离处理
3 Z6 f' K( A% m. c6 T 8 K7 ?- u0 B, R  E8 A5 |

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 楼主| 发表于 2017-9-22 09:06 | 只看该作者
10.USB没有参考平面6 T0 O. u6 w9 _3 b% p, o; E' g

: ?  T; N# a# a% D" @3 W4 F

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 楼主| 发表于 2017-9-22 09:07 | 只看该作者
11.贴片阻容器件中间不建议穿无关的走线" P3 r! E) _1 D; a& j! A

/ h) B" r1 d0 L5 d$ C6 N* J1 z

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 楼主| 发表于 2017-9-22 09:07 | 只看该作者
12.不建议在电感内部大孔穿线' G' @* {' S; t! `7 S# `

: x3 V9 `, m% U) F8 G

点评

我认为这个高速线这种走法是最好的处理,请问有没有其他好的处理方式?  详情 回复 发表于 2017-9-30 15:55

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发表于 2017-9-22 11:06 | 只看该作者
谢谢分享

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