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Vmeas and test load descirption
2 b4 D6 E6 i/ v/ t( j/ n2 [- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念，那么手册中的Tco是如何得到的呢？
* |9 M0 ~. B: `& |- M/ E8 [/ D请看下图，半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load（不要深究为什么如此，如果想清楚理解，意味着你要进入一个新的领域----IC测试），我们的probe点即为T点，Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间，而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。; {& L B0 P. a. H9 j
* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ]
- t6 C5 [! ?' p2 MVmeas为半导体厂商用来为输出buffer（当然包含output ，I/O，3-state）确定板级延时特性的电压参考点+ Q, Q. s. G0 ^$ `
. {% w* f1 K. FVref，Rref，Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load
# o/ L, v7 M: u( S1 u9 z' Z- V8 [3 E0 W) ^0 r: q![]() 2008-4-29 08:45 上传9 G: O$ G" W8 E0 x8 H
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举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s
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+ H) B( A& `& L; ^9 ~) M+ }: p& W" \% H" [ L* w& }- V# s% Z N0 A- Z
' z! Z# V' C6 Q; `8 l' o( M1 }这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K
: }9 d7 \- [9 u" w( {下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D
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楼主: forevercgh
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发表于 2011-7-21 11:10
学习，谢谢楼主分享
看了420楼，学习
