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Vmeas and test load descirption2 g* E& B, Z+ \2 q* M2 {( o
- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念，那么手册中的Tco是如何得到的呢？
! M; v$ i5 e" f9 ~) P& |- M/ E8 [/ D请看下图，半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load（不要深究为什么如此，如果想清楚理解，意味着你要进入一个新的领域----IC测试），我们的probe点即为T点，Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间，而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。
$ y+ \" F* Y% j# c3 _7 ]; |, Y, _) D$ H* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ]5 R' k/ I1 I A* \
Vmeas为半导体厂商用来为输出buffer（当然包含output ，I/O，3-state）确定板级延时特性的电压参考点
& D# x ?7 C' S/ V. {% w* f1 K. FVref，Rref，Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load8 e( e% ~$ ?% O' H. ~
8 [3 E0 W) ^0 r: q![]() 2008-4-29 08:45 上传2 N8 Z, F, ~: B1 @1 s! b" F, m2 j
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举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s9 z5 m7 P( ^' l- |; z
![]() 2008-4-29 08:45 上传
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" m2 j2 v" j2 A+ P7 I2 \, {这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K
: U6 ]- h$ Q4 g Q4 M6 A下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D
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楼主: forevercgh
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发表于 2011-7-21 11:10
学习，谢谢楼主分享
看了420楼，学习
