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Vmeas and test load descirption9 k9 H0 K8 ^- B" Y9 ]4 `4 m9 u! ^; Q
- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念，那么手册中的Tco是如何得到的呢？
% o/ ^ m. T$ e- _& |- M/ E8 [/ D请看下图，半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load（不要深究为什么如此，如果想清楚理解，意味着你要进入一个新的领域----IC测试），我们的probe点即为T点，Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间，而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。) v9 T5 X$ Y1 d" b9 J" |: l
* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ]* T' M1 c% Z% U# s
Vmeas为半导体厂商用来为输出buffer（当然包含output ，I/O，3-state）确定板级延时特性的电压参考点
' ], k$ e6 g/ [6 H. k. {% w* f1 K. FVref，Rref，Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load7 i: C( j% I; J8 R/ c
8 [3 E0 W) ^0 r: q![]() 2008-4-29 08:45 上传
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# W! n# a, o) q5 e, H, S b: j% V/ t$ Q8 @7 X# ]% b I8 V% {" q+ h4 C. f
举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s* M: C% l5 W* C4 ]% S, K8 w, y
![]() 2008-4-29 08:45 上传
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这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K1 ] P E; @7 F0 a. C3 z* l; q/ b
下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D# f! H8 v2 G7 k! C1 F3 r# W
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楼主: forevercgh
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发表于 2011-7-21 11:10
学习，谢谢楼主分享
看了420楼，学习
