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Vmeas and test load descirption
* { a% I4 H$ g# u) d3 W- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念,那么手册中的Tco是如何得到的呢?
# l8 ^. `" Y8 A4 M& |- M/ E8 [/ D请看下图,半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load(不要深究为什么如此,如果想清楚理解,意味着你要进入一个新的领域----IC测试),我们的probe点即为T点,Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间,而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。
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Vmeas为半导体厂商用来为输出buffer(当然包含output ,I/O,3-state)确定板级延时特性的电压参考点4 p5 b; }4 e- ]2 I" q: i
. {% w* f1 K. FVref,Rref,Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load
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举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s
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这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K
% E) \' |& _8 Q$ l下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D
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