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Vmeas and test load descirption& B% Q1 w* w& p
- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念，那么手册中的Tco是如何得到的呢？. ^: C* H& I0 l) v1 X
& |- M/ E8 [/ D请看下图，半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load（不要深究为什么如此，如果想清楚理解，意味着你要进入一个新的领域----IC测试），我们的probe点即为T点，Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间，而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。
+ O: Y+ B" r7 `! H+ Y; q* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ]
! z8 I+ g2 L+ `: |4 }* Y! QVmeas为半导体厂商用来为输出buffer（当然包含output ，I/O，3-state）确定板级延时特性的电压参考点# P% m# Y& M) P, z
. {% w* f1 K. FVref，Rref，Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load7 L3 I6 Q8 q. X8 G4 \+ _ j* d
8 [3 E0 W) ^0 r: q![]() 2008-4-29 08:45 上传8 n6 n9 ^: b; D
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6 v' D, E# ^; q: r举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s) D6 o1 H7 {# @; h5 x
![]() 2008-4-29 08:45 上传
9 V! U: n) i. N6 T# R( \下载附件 (9.38 KB)2 k+ Y1 V+ h- z( P. q2 ], F" P
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这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K" Q: w; ]2 s+ _3 D4 T9 w0 K
下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D4 N# l+ A' g" [5 B6 H/ f
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楼主: forevercgh
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发表于 2011-7-21 11:10
学习，谢谢楼主分享
看了420楼，学习
