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Vmeas and test load descirption
* { a% I4 H$ g# u) d3 W- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念，那么手册中的Tco是如何得到的呢？
# l8 ^. `" Y8 A4 M& |- M/ E8 [/ D请看下图，半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load（不要深究为什么如此，如果想清楚理解，意味着你要进入一个新的领域----IC测试），我们的probe点即为T点，Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间，而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。
) n, U3 H4 k) |5 x9 ]* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ] [% W6 x" m; X9 N5 y* i2 E
Vmeas为半导体厂商用来为输出buffer（当然包含output ，I/O，3-state）确定板级延时特性的电压参考点4 p5 b; }4 e- ]2 I" q: i
. {% w* f1 K. FVref，Rref，Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load
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举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s
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这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K
% E) \' |& _8 Q$ l下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D
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楼主: forevercgh
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发表于 2011-7-21 11:10
学习，谢谢楼主分享
看了420楼，学习
