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Vmeas and test load descirption
Vmeas and test load descirption
& {7 I1 z7 h& L5 X: Y: R# U) ?前面已经讲过Tco概念,那么手册中的Tco是如何得到的呢?. l8 {, X8 S% K0 @" e8 @+ F1 |! A8 x
请看下图,半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load(不要深究为什么如此,如果想清楚理解,意味着你要进入一个新的领域----IC测试),我们的probe点即为T点,Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间,而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。2 s; f! i0 B6 B5 V
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Vmeas为半导体厂商用来为输出buffer(当然包含output ,I/O,3-state)确定板级延时特性的电压参考点- @ f7 C# z: [
Vref,Rref,Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load3 q* i/ p `% M/ q" B
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举个例子1 I# P. u% t6 j% v8 `$ _ K3 `
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] _8 I7 k2 O, h1 n& F这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数, ]/ y0 C0 K- ^% @. A2 K |
下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load
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3 r) Y7 s. A, G1 g+ O0 r理解不妥之处,烦请指正9 Z$ x S! z3 S& f) l: A C
9 T5 G* `: T; y6 C. O1 _9 ?
[ 本帖最后由 forevercgh 于 2008-4-29 11:03 编辑 ] |
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