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Vmeas and test load descirption
Vmeas and test load descirption; S' U0 W/ n# B% o# Z! a
前面已经讲过Tco概念,那么手册中的Tco是如何得到的呢?
2 J" T" j. j5 g请看下图,半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load(不要深究为什么如此,如果想清楚理解,意味着你要进入一个新的领域----IC测试),我们的probe点即为T点,Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间,而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。
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, W1 K4 g" O q! E" CVmeas为半导体厂商用来为输出buffer(当然包含output ,I/O,3-state)确定板级延时特性的电压参考点
/ D6 u9 N! o5 N& v9 v4 M, p: [' x, E: ]' EVref,Rref,Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load
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7 n- T0 L; L# g/ A5 t举个例子+ _# z- f! ~6 }# c4 v1 z e' }$ M
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$ N! q6 K4 E2 s1 r/ Y这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数2 L7 t( h$ P. e/ e
下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 ]; d3 D- N' {% s; e* B) ^
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理解不妥之处,烦请指正9 @6 E. m4 K3 {; |7 Q' W- _
Z- b: F* M* V0 X# c( g1 c6 F[ 本帖最后由 forevercgh 于 2008-4-29 11:03 编辑 ] |
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