|
|
本帖最后由 wuzl 于 2011-8-2 22:59 编辑 0 z: Q2 q. ~1 E8 b8 o3 Q* i
+ ^! U: ?/ x4 a4 \& R) M; [& w回复 shark4685 的帖子
( ^ A% T" \9 u) K5 }
4 D& R2 D( n2 \6 W l% O兄台这个想法很好，
2 f: A# Q. L4 X* E ?; m但是如果要仿真到5~10GHz的频段，目前大部分的软件都还很难处理好所有的情况。
/ o2 A; I6 M, G, i/ ~) ^高频的情况下需要考虑到
, N, |* H: W' c! F( i$ B5 u3 }1 X1)skin effect和表面粗糙性，造成的电阻和电感的变化
$ A* M+ K& p7 n6 S% s" K; r2)介质的频率相关性，造成的电容和电导的变化
2 i8 [7 }$ @ g; ~+ x5 D0 J3)介质的不均匀性
y# w" v1 L4 N- P0 I, f/ O; o8 n0 k4 j
大部分的阻抗计算软件比如polar可能会考虑到1)，但是基于的都是简单的波浪模型，并不一定准确4 z( ?) w$ O6 _2 y+ I8 m1 c
而对于2)，3)目前polar什么的都无法include，而这部分将有巨大影响。
5 J2 ~0 d" {% Q. i; B1 [/ R我所知道的CST和HFSS都支持2）介质的频率相关模型，但是因为建模的缺陷，想要include 1)那么就要花费很多时间建模。; y: T" z0 T o; }- J$ x* X6 l
而对于3)只有少数软件支持，比如Q3D，当然愿意花时间建模，CST/HFSS也可以搞定3)4 `9 z& g" z6 B Q
所以十全十美的s参数提取是巨大的挑战，需要自行修改RLGC。$ s' W/ K; ~1 r! Q% d0 B
2 W6 D% ?. @" K0 i/ c
如果你要比较准确性，我相信对于1)，2)，3)的处理不同，各个软件在高于5G的部分可能会有一定的差别。
! l) n. n+ t! r8 M7 S# q1 {而且你仔细检查s参数，会发现他们的质量不太好，比如因果性，无源性，物理性可能欠佳。, T( `" I- {- _7 ~4 P& b2 v
' e1 h+ ~* {) T. b0 u( @" ^对于高频应用，s参数的质量不好，意味着这个仿真的准确度要大打折扣的。( p0 L5 E: s- r9 N: C# G& a
- d9 h( B6 ]( l6 K& W6 i
|
评分
-
查看全部评分
|
楼主: shark4685
[复制链接]
/1 
发表于 2011-5-6 12:39
发表于 2011-8-2 23:15
