【会议分享】物联网无线技术设计和测试&5G PA技术与测试分享

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( e$ X5 C& Z  R在线讲座1：物联网终端测试的挑战与对策

会议时间：2018年7月17日 星期二 上午 10:00-12:00

* e0 V- F. Z) w$ V9 ^" M会议简介：物联网的快速发展催生了海量的物联网终端产品。这些物联网终端随着应用的不同呈现出各种不同的特性，包括NB-IoT、LoRa、eMTC、ZigBee、Bluetooth、WiFi、WWAN等各种无线传输技术。物联网设备在研发和生产的过程中面临着各种挑战，尤其是一些新的应用领域，如智能表，智能医疗等。本次研讨会将会为大家分析物联网终端测试面临的新挑战和最新解决方法。
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会议议程：

–物联网终端设备的发展

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–物联网终端生产测试的现状和挑战

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–新的测试技术与方法

–分享您的思考与问题

演讲专家：吴世基
专家简介：吴世基先生毕业于美国华盛顿州立大学电子工程系，至今在是德科技已有超过23年的工作经验。曾先后在技术应用和市场部门担任多个职位。现为是德科技通用电子测试方案部大中国区业务拓展经理，负责在消费电子，医疗电子和工业自动化领域的业务拓展，具有丰富的电子测试测量经验。
答疑专家：耿如才
9 `7 K# f4 C8 J" C专家职务：是德科技 中国区GEMS行业市场经理
. U* |; M8 f( A$ M) Z0 E) `& B# M专家简介：耿如才先生于2004年加入是德科技电子测试测量业务部，先后负责无线产品及通用仪器的的市场推广工作，拥有多年的电子测试测量经验。目前在是德科技通用电子测试解决方案部任中国区行业市场经理，负责是德科技通用测试方案在消费电子、医疗电子、工业自动化及教育行业在大中国区的市场拓展。

在线讲座1 - 快速报名通道（IOT）
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在线讲座2：5G 射频功放PA的技术趋势和测试方法

会议时间：2018年7月24日 星期二 上午 10:00-12:00

会议简介：射频功放，在下一代移动设备的重要性不言而喻。射频功放的性能要求越来越高，与此同时对于射频功放测试要求也水涨船高。在研发测试中，要覆盖足够的测试项目和能够灵活的设置；在自动化验证中，要求非常快的测试速度等等。本次研讨会将从专业测试测量角度，为您剖析难点，并给出实例测试参考。

会议议程：

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一、5G时代PA的技术趋势

二、PA射频特性测试

三、PA系统级指标测试

四、PA自动化验证

五、问答环节

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演讲专家：王文斌
* P# W1 O5 I  O专家职务：是德科技 应用工程师
6 N3 p! M" P# M3 d# |专家简介：王文斌先生于2016年加入是德科技，主要负责网络仪、信号源、信号分析仪、半导体测试仪、阻抗分析仪等产品的技术与应用。加入是德科技前主要从事射频微波研发工作，专注于射频与毫米波功率放大器设计和半导体应用，具有丰富的射频测试经验。
答疑嘉宾：熊斯
专家职务：是德科技 市场工程师
( M) `0 c2 }8 C0 Q专家简介：2011年加入是德科技(原安捷伦电子测量事业部)，担任市场工程师。现任是德科技中国区行业市场拓展经理，负责无线通信芯片、终端测试与运营商测试业务方案的推广与营销工作。熊斯于2008年取得复旦大学微电子学学士，2011年取得复旦大学微电子研究院硕士学位。

在线讲座2 - 快速报名通道（5G PA）

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