【干货】如何精确的进行微小器件的测试以及仿真建模

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$ G( Q: _0 D- _: n6 F& R  S1 [1 S9 o! D    今天在看了一个公司同事做的一个视频，觉得不错。虽然我一直没有做到wafer基本的测试和建模，但是这是值得借鉴和参考的，因为现在做一些职能产品的时候，用到的分立器件都是0201或者01005的，特别是01005的，已经是非常小了，常规的肉眼是很难进行测试，那么如何去测量就变得非常重要啦。所以把它分享给大家。
2 N. e' _- S. Y+ Y# R% q2 h    之所以要测试这些微小的器件，主要分两种情况，一种是为了了解器件本身的一些特性以及器件的一些寄生的参数；另外一种，为了给下游的工程师做仿真使用，比如电容、CMC器件、TVS管等等。

' [3 |  x- ?9 s' `    视频的名称叫做《如何进行准确、自动化的射频晶圆级测量》或者《How to Make Accurate, Automated RF Wafer-level measurements》，整个视频15分钟。
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    视频给出来的方法是使用的probe station，因为测量的是wafer，这种方式相对来讲成本比较高一些，毕竟probe station比较贵，还需要有比较精密的probe，也不便宜，如果只是测量一些小器件，还有一些其它的方式，比如采用TRL、AFR等方式进行去嵌入测量，这些方式虽然成本相对低廉一些，但是都需要夹具，夹具的好坏也关系到测量的精准度，目前一些公司或者工程师做的夹具的精度确实也堪忧。


3 F1 I6 ~, q* k- x  z8 ^下面是一篇介绍关于高频电容测试方式
3 [# s* ?5 z0 H高频电容测试方法以及在SI/PI仿真中的应用

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