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标题: 重磅推荐《ADS高速电路信号完整性应用实例》 [打印本页]
作者: admin    时间: 2019-9-27 15:10
标题: 重磅推荐《ADS高速电路信号完整性应用实例》
上市时间2015.12.20，定价：48.00元. l6 @& p' l' g5 W- l/ Z
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【内容简介】2 o1 G$ M9 I, ?9 a9 P9 n6 B
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本书主要介绍使用ADS 软件进行高速电路信号完整性设计的方法，包含13个工程实例，详细介绍了传输线阻抗分析、串扰分析、TDR 仿真、串行总线与DDR 总线、电源完整性、仿真与测量结合的设计与分析方法。本书的特点是以工程实例为主，结合理论分析，实用性强。- s* ]! ^6 `* a
本书适合从事射频电路设计与仿真的工程技术人员阅读使用，也可作为高等院校相关专业的教学用书。" ]5 a+ I2 E2 |% y" M+ [7 B( s8 O# y
5 }) t$ b" I' b: E
【前言】
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9 {* d9 E4 Y" ~' L数据传输速率的不断提高，使得信号完整性的问题变得越来越突出，借助于仿真工具进行信号完整性的分析和预测，已逐渐成为重要的设计手段。是德科技的ADS软件针对这一挑战提供了从通道建模到仿真分析再到测量验证的完整的解决方案，是目前市场上主流的高速电路信号完整性仿真平台。! T. a8 ?: v: {/ L5 y1 D4 V
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在射频微波电路设计领域，ADS 软件已经被广大工程师了解和接受，国内也已有多部专著介绍了相关应用。但在高速电路信号完整性领域，目前的专著较少，希望本书的出现能够填补这一空白。( x0 f0 b5 L4 w. H- a& J8 N

; ~3 D) R# _. h* T0 {& E本书以案例为主，不包含信号完整性的基础理论知识。书中选择了高速电路设计领域的若干个典型案例，内容范围涉及传输线设计、连接器设计、高速背板建模与验证、串行及并行总线信号质量分析、电源完整性分析等多个领域。
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* ^" ?/ Z7 w4 J$ e本书包括13个实例及一个附录。其中，实例1和实例2由赵晨星编写，主要介绍传输线阻抗分析方法；实例3和实例9由谢成诚编写，实例3介绍连接器仿真与TDR分析方法，实例9介绍光通道IBIS-AMI建模及验证方法；实例4和实例10由薛新东编写，实例4介绍高速背板的建模与测量验证，实例10介绍从Cadence版图设计工具Allegro导出版图至ADS 软件中进行仿真的基本流程；实例5和实例8由王熠编写，实例5介绍基于矢量网络分析仪测量的宽带PCB 材料参数提取方法，实例8介绍如何将高速实时示波器测量的波形结合实际芯片的IBIS-AMI模型进行接收的均衡和后处理，分析芯片内眼图和信号质量；实例6和实例7由张涛编写，实例6介绍如何将测量的CEI-25G-LR通道数据根据协议定义的规范进行一致性分析，实例7介绍通道仿真器的原理、设置及应用；实例11和实例12由崔梦编写，介绍DDR4仿真器及一致性测试的基本方法；实例13由陈哲生编写，介绍使用ADS进行电源网络阻抗分析的基本流程。书中除实例12外，其余实例都使用ADS2014?01版本进行了验证，这些实例在更早的版本，如ADS2012、ADS2013也可以使用。
4 B  d9 d7 Z9 {4 Y& G
: a) Q5 v* |+ e7 E. ?附录A中列举了22个常见的使用ADS软件进行高速电路信号完整性仿真问题，并逐一进行了解答。所选问题来自我的中国台湾同事林鸣志先生编写的《ADS信号完整性问题集》，在此一并表示感谢。
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部分内容截图
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5 b& M; q" r8 }9 Y  H, g3 v/ o! t! u
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) c; O6 u8 z' `5 z+ K
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& V7 e6 K7 b% _' V) v, I4 {  w* w【目录】% D: P* e( _+ g4 O

1 B. P6 y+ ^! U- h  J$ @! q实例1  单端传输线阻抗分析+ J; S1 n2 p0 I
1.1  创建 ADS 项目文件
- z# l4 {- F  R: `. ^7 g+ `% {1.2  仿真电路建立# \7 h' G- Z3 d% ~  {+ i$ m0 U
1.3  电路优化8 g& M" Q% H9 e$ o% e; T
1.4  版图仿真设定: r$ {4 l8 q. {5 p" \
1.5  电磁仿真
1 H- `; Y3 C0 h8 _2 x1.6  CILD工具使用2 r4 m% t, ?4 {8 L
实例2  差分传输线分析
# J( q5 v% Z0 `! |0 J2.1  创建 ADS 项目文件
5 Y3 X7 y' ~9 L* m/ X2.2  差分线版图元件创建
3 g9 z; J* L4 E" b, T2.3  差分线损耗串扰仿真
, j) G! [1 d. \) p2.4  差分线阻抗分析
) Q& b0 L5 P. S2 @2.5  单端S参数到差分/共模S参数的转换  O1 k- G& y" p1 G# @( m# v
2.6  SnP文件导入
" d* Q( K4 ]& T1 `实例3  传输线及三维连接器TDR仿真
$ M) }) w( z1 s( b3.1  PCB TDR仿真实验
3 R9 ]' ?$ a. W# O; L) \3.2  PCB及连接器TDR仿真实验
; O7 Q* z: a* g实例4  基于测量的通道建模
$ n5 [- R; X9 N4.1  通道测量结果显示
$ \( a' X& a" \4.2  通道时域特性仿真2 }7 `" z: a! C7 f
4.3  建立通道模型; K$ u5 U* ]* M9 V
4.4  通道模型的优化
# z# N6 c8 g4 c: n4.5  使用优化通道模型进行仿真4 ?  R# l# e) K4 H" p: _
实例5  PCB板材宽带参数提取
$ W& K( B0 v1 Q, |6 i) u& k' B5.1  测量文件的导入和验证
; S  V) T" a7 @5 C5.2  AFR和测量结果去嵌入
5 [! F5 Y  D/ v% \' q% t% {9 E5.3  介电常数拟合7 R  ]. X! }2 ]" T9 H
实例6  CEI-25G-LR通道特性一致性分析
# j* h. X" L& [$ ]6.1  建立通道模型并仿真
, D5 \1 V/ n  R: d- p6.2  通过AEL 脚本语言自定义测量函数
  X$ }9 B5 X: P+ q6.3  插入损耗曲线; m7 J0 n- h- W# M0 B* u
6.4  拟合插入损耗曲线
; z, L$ B9 U6 O: R) `, |6.5  插入损耗曲线偏差6 w8 g$ W: P/ N! T
6.6  回波损耗曲线
! ]7 H# }' o8 c: |/ O6.7  综合串扰噪声9 B! F5 i7 y2 g; A7 E
实例7  高速串行链路的通道仿真4 V. G( S  L, Q
7.1  PCIE通道模型
1 Y8 g. D& \- E6 M: `7.2  基本的通道仿真# ?; h+ f' [2 R( }3 W
7.3  串扰（Xtalk）对通道性能的影响
% w9 d6 K) u% Y. l7.4  CTLE均衡% J' N- t  I: q; p
7.5  FFE均衡1 h7 _1 L  D* W; b1 Z% I$ ~7 b
7.6  DFE均衡
) g: b! _' v  }, w5 p2 Y) u7.7  通道的阶跃响应与冲击响应! c$ A5 U) A+ M7 x3 T& C$ M
7.8  IBIS-AMI模型仿真5 O# c) u8 Z2 J3 |$ J
7.9  通道参数扫描与最优化8 s* Y) b/ O6 G% K- j* {+ x6 l9 r- w+ ?
实例8  使用IBIS-AMI模型分析高速串行链路实测波形" A# G+ b. g9 q5 E
8.1  测量波形- m; {2 h7 z! `  |" v
8.2  通道建模
+ D' H! G, P/ n3 u, E9 Q9 s8.3  模型验证) Y' O! c& Y, Q9 t) t+ D
8.4  AMI模型的后处理和分析" E4 x9 e+ U% d9 G
8.5  扫描参数
8 e: P( J& P6 j! E实例9  光通道IBIS-AMI模型创建及验证
- @( D6 m+ H9 E9.1  在SystemVue中进行光通道IBIS-AMI模型创建
5 m' Z2 l5 T( E+ g- _9.2  在ADS中进行光通道IBIS-AMI模型验证
. p) y" Y& W% g, A实例10  Cadence Allegro版图的提取、导入及仿真
7 V: ^' \/ a' ?6 p6 R10.1  AllegroDFI插件的安装及设置
+ s# g) g7 u  W) j10.2  在Allegro软件中使用AllegroDFI插件进行版图提取
( {$ g+ P3 S4 {. @/ i% s8 L10.3  创建ADS工程，导入Allegro版图
6 o! [7 p$ z/ c7 l6 D8 }10.4  查看导入的版图
2 `) `; d" ]- x- \, J3 n10.5  Momentum设置及仿真
' X/ P9 q+ _0 r+ t1 s0 ?% }- c+ f10.6  将电磁场仿真结果代入ADS原理图进行仿真2 |2 L' a" i8 L, b3 a
实例11  DDR4仿真及一致性测试2 A" j; G/ Q5 j  S$ A8 F
11.1  DDR4一致性测试关键指标7 |' ?, u) G+ `+ |! n
11.2  DDR4一致性测试步骤
# K2 N* j& G+ j9 }  m  ^: S实例12  DDR BUS仿真器& t' Z! I+ t5 z8 y1 }0 K
12.1  DDR4一致性测试面临的挑战9 m1 \# D$ F- j) b1 @$ g2 i
12.2  DDR BUS仿真设置实例
3 x! G& f" }2 O# `1 o实例13  电源完整性分析——电源网络阻抗分析7 n# J) \; S3 g! i  P9 V+ y7 n
13.1  版图的截取与导入4 v0 `7 o" T; G6 k0 G5 C
13.2  将ADFI导出的版图导入到ADS
" l+ f9 B# c: J0 g" a4 ^7 c6 k13.3  EM setup设置/ r0 V, A0 q' n! O' k6 m5 J
13.4  PDN阻抗响应
7 o6 h; Y5 m& s% @- P$ o附录A  ADS信号完整性仿真常见问题及解答2 D# H0 A9 s2 E' G- f4 ]9 P

: Q" A8 m/ D: S6 s4 {- Q) Q$ m为便于读者学习讨论，后续提供本书实例下载资源，可访问：
5 _# q) E. H) D1 Vhttps://www.eda365.com/thread-115787-1-1.html
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! `6 X% S9 g8 p% B另外，“兴森科技-安捷伦联合高速/射频实验室”在高速电路信号完整性设计方面有非常丰富和深厚的工程经验，期望与各位同行展开合作！
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更多精彩请加入“中国射频微波微信第一群”， 先加徐老师微信号：15989459034，注明公司，射频领域及方向，通过验证后加入。（注：本群属纯技术研讨群，销售代理等非射频技术人员勿加）！?) x2 U+ O5 c2 \3 }! F: H' c
1. 本群2000人，成员涵盖了所有射频方向企业，高校，研究所。其中教授，技术总监，总经理，主任专家，海归，千人计划，长江学者，首席科学家，博士等400+人。
+ U1 m9 e" s8 t' F4 V- U8 J! D2. 本微信群由“兴森科技-安捷伦射频高速实验室”射频负责人，《ADS2008/2011射频电路设计与仿真实例》《HFSS射频仿真设计实例大全》电子工业出版社，主编徐兴福建立。



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