只需一步,快速开始
扫一扫,访问微社区
56
989
9320
六级会员(60)
查看全部评分
下载资料威望不够?点击查看获取威望的N种方法>>
举报
18
154
363
三级会员(30)
zhuyt05 发表于 2016-4-10 23:301 A4 L, P- m1 ]5 S7 t, A z3 C 你说的抗干扰差,是指ESD测试不好过吧.' J' ]& w; f0 R$ F. W# l 个人建议: % _9 z5 U2 c& ~4 H7 g1. 保护器件将静电引入保护地(也就是USB外壳连接的地), ...
9
132
361
niliudehe 发表于 2016-4-11 08:337 x7 Q3 R9 z9 @. P) r! c. j 谢谢,您的建议,看完后感觉一下明白了好多,非常感谢
zhuyt05 发表于 2016-4-11 19:558 y# b, z% r# E0 A, @- | 对了,前面你说公司用打火机试,这个是不行的.一般打静电,用的专门仪器,比如打4KV,那么这个4KV是相对于大地 ...
0
530
318
本版积分规则 发表回复 回帖后跳转到最后一页
查看 »
微信登录
关于我们|手机版|EDA365 ( 粤ICP备18020198号 )
GMT+8, 2025-7-16 20:08 , Processed in 0.057341 second(s), 26 queries , Gzip On.
深圳市墨知创新科技有限公司
地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050