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电巢直播8月计划
楼主: edqin
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上传两幅数码相框的EMI测试数据大家来讨论一下应该从哪些方面来整改

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发表于 2009-9-13 10:09 | 只看该作者
我想请问大哥 ) z/ X: H) _. j
频段波形,曾base状?
8 T) R, R$ `  d# r6 _% n你怎样能分析是GND, power ,还是data ,clk noise 引起的?

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发表于 2009-9-13 18:45 | 只看该作者
1 樓與 11 樓的測試數據差很多,看來又是不同實驗室的報告,是同一片板子嗎?; M9 k) m. H0 h  ~  [
只有做了 11 樓的對策,就有這麼好的結果,真是高手。

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发表于 2009-9-13 18:53 | 只看该作者
况且一般电源的干扰都集中在100MHZ之前,所以先测试DC线的干扰。至于干扰的起因主要是机器内部的DC TO DC。
$ d7 Y7 Y. y7 _, }: I- D  p) @
==> 請問你對 DC to DC 做了什麼處理?

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发表于 2009-9-15 09:17 | 只看该作者
你的clock有沒有展頻,若是沒有,請找展頻ic的廠商來幫忙!1 p4 ?! Y. A5 M9 O- ]$ K0 c
你的資料是power noise 和clk 的issue,要一層一層的解

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发表于 2010-2-3 14:12 | 只看该作者
我估计真正起作用的是 利用屏幕的金属 其余的串磁珠啊 估计没啥效果

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发表于 2010-2-26 10:13 | 只看该作者
EMI的解决通常跟量产性有很大关系- o2 r9 z' N) l  \( q# V
如果只是为了过证还是不难! S4 M: m2 j2 x- M
最好看EMI频点在板上的分布
4 ~9 V4 `4 s5 f3 Q8 S. G这样针对性更强些: [% Q1 w6 D$ n: G7 S1 z
在时钟线上串电阻这种事我都做过呵呵3 b  f3 O0 Y8 M
有时确实是一种办法; n5 C/ t9 J; F: t  _6 P" i  G
但不是量产的办法9 M' f! P; Q- h8 c( r8 l/ I7 I
有时候电阻比磁珠效果还好些(实验中得来)6 ^5 S6 q4 J. L! K- ?; z
不知道是不是磁珠的品质问题  ]& U; V& K! [- g1 W* T+ g  D! ~, _0 o
数码框我估计
+ Z  `0 C$ K" H如果用的是TFT的接口辐射一般都很大# g  t- H  P3 \, [! m9 ?3 _
特别FPC做得不好的时候

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发表于 2010-3-8 14:11 | 只看该作者
从可靠性的基础上来说,时钟加那么大的磁珠是有问题的!且电源加1500的磁珠??低温实验有没有做过??

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发表于 2010-3-30 17:03 | 只看该作者
回复 37# tony_wuy & Q) ]  O. [$ |8 @! {
顶下37楼的!这样整改可能会有隐患

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发表于 2010-4-3 08:42 | 只看该作者
3.对于单点在SDRAM时钟加220欧姆磁珠,读卡器时钟加600欧姆磁珠,屏时钟加330欧磁珠。7 Y8 `) X* R/ [% _1 M7 y
-----------------------------时钟线一般不建议加磁珠,磁珠的一致性较差,大批量生产可能会出问题的(除非是只想拿证书在样品上加),要慎重,特别是要测量添加后时钟衰减;时钟线一般是用加电阻,但对阻值有严格的限定。

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发表于 2010-8-2 14:21 | 只看该作者
学习了!

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发表于 2010-8-3 09:54 | 只看该作者
樓主加這麼大的bead,有沒有對信號進行測試?系統工作是否正常?
+ G9 Z0 b  l2 O& A' I6 x! A& ?
( w: V" Z" D! @: K還有高手們還沒回答,是怎麼換算出頻率對應的電容值?
' C+ U4 u; F$ {4 I' K$ X; _: b) Y7 l" Q7 K, v
請教了!

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发表于 2011-1-27 09:46 | 只看该作者
受教。谢谢

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发表于 2011-2-8 22:56 | 只看该作者
同一条件下测试结果比较才有意义的$ e: ]8 P4 ?4 ^- T
EMC测试我已经怕了
Work as an engineer!!!

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发表于 2011-3-18 22:23 | 只看该作者
学习,太高深了

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发表于 2011-3-22 15:50 | 只看该作者
看得头都晕了
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