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EDA365特邀版主
0aijiuaile 发表于 2015-4-15 21:31 9 p& s, R% H, ]3 y) K' h3 x' D# z版主,请教下:“但现实问题有2,一是如何得知测试通道break channel的性能,二是如何去除芯片封装的影响” ...
stupid 发表于 2015-4-16 10:16 4 q8 g# y I7 \# G- D3 F6 {; ~* cbreak channel是一个术语,指从BGA扇出到SMA的这一段链路。9 x4 ~# [% [ H0 U# I1 w SMA的阻抗,对于这种测试板来说,我们可以控 ...
0aijiuaile 发表于 2015-4-16 14:34: {# u6 ?) U6 X' r- |( U4 x9 p& \; i 谢谢斑竹热心,我还有个疑问,你们为何没有用TRL来校准测量芯片性能,这种方法是不是更精准啊?
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