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EDA365特邀版主
0aijiuaile 发表于 2015-4-15 21:315 N7 u7 {# w, ?2 I& V3 j 版主,请教下:“但现实问题有2,一是如何得知测试通道break channel的性能,二是如何去除芯片封装的影响” ...
stupid 发表于 2015-4-16 10:16 " R& {8 ~5 @5 ^3 r3 U) Pbreak channel是一个术语,指从BGA扇出到SMA的这一段链路。 ; F; {, P- J* W* O% ASMA的阻抗,对于这种测试板来说,我们可以控 ...
0aijiuaile 发表于 2015-4-16 14:34& m6 p- D' }% W- v 谢谢斑竹热心,我还有个疑问,你们为何没有用TRL来校准测量芯片性能,这种方法是不是更精准啊?
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