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楼主: stupid
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[仿真讨论] 一周往事1506

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发表于 2015-4-15 21:31 | 只看该作者
版主,请教下:“但现实问题有2,一是如何得知测试通道break channel的性能,二是如何去除芯片封装的影响”
% o( B* B# Q; g这边break channel是指的什么啊?另外,你是如何去除SMA处阻抗突变的影响? 感谢。* u, q% S1 A$ I/ R+ Q3 i

点评

break channel是一个术语,指从BGA扇出到SMA的这一段链路。 SMA的阻抗,对于这种测试板来说,我们可以控制到+/-2欧,回损可以在15GHz以内做到-20dB,带内的阻抗影响可以忽略。  详情 回复 发表于 2015-4-16 10:16

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 楼主| 发表于 2015-4-16 10:16 | 只看该作者
0aijiuaile 发表于 2015-4-15 21:315 N7 u7 {# w, ?2 I& V3 j
版主,请教下:“但现实问题有2,一是如何得知测试通道break channel的性能,二是如何去除芯片封装的影响” ...
6 u3 v' g$ t  C, Y8 s- d* O0 L! k
break channel是一个术语,指从BGA扇出到SMA的这一段链路。
4 v) j- S+ C0 L0 X0 V5 CSMA的阻抗,对于这种测试板来说,我们可以控制到+/-2欧,回损可以在15GHz以内做到-20dB,带内的阻抗影响可以忽略。( i, L( l6 y! x& t% J# r8 l

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谢谢斑竹热心,我还有个疑问,你们为何没有用TRL来校准测量芯片性能,这种方法是不是更精准啊?  详情 回复 发表于 2015-4-16 14:34

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发表于 2015-4-16 14:34 | 只看该作者
stupid 发表于 2015-4-16 10:16
" R& {8 ~5 @5 ^3 r3 U) Pbreak channel是一个术语,指从BGA扇出到SMA的这一段链路。
; F; {, P- J* W* O% ASMA的阻抗,对于这种测试板来说,我们可以控 ...
2 {% f2 p0 S2 x2 m' a
谢谢斑竹热心,我还有个疑问,你们为何没有用TRL来校准测量芯片性能,这种方法是不是更精准啊?

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这一段是开路,TRL不适用,只能用AFR去反推。  详情 回复 发表于 2015-4-20 14:10

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 楼主| 发表于 2015-4-20 14:10 | 只看该作者
0aijiuaile 发表于 2015-4-16 14:34& m6 p- D' }% W- v
谢谢斑竹热心,我还有个疑问,你们为何没有用TRL来校准测量芯片性能,这种方法是不是更精准啊?

; A( C; A% V) s, z这一段是开路,TRL不适用,只能用AFR去反推。

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发表于 2015-4-21 16:37 | 只看该作者
本帖最后由 qingdalj 于 2015-4-21 16:39 编辑
9 t% j7 j, P# `6 G8 B% v  J2 g  u2 R4 L5 l2 v6 M5 e
罗辑思维很不错,罗胖讲的很多都发人深省;崇拜楼主各种通,很多名词都没听过,惭愧
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