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Vmeas and test load descirption
6 {1 Q* w* ?8 ~) N* Z7 M6 W- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念，那么手册中的Tco是如何得到的呢？
. J" w: N5 R8 M2 `& |- M/ E8 [/ D请看下图，半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load（不要深究为什么如此，如果想清楚理解，意味着你要进入一个新的领域----IC测试），我们的probe点即为T点，Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间，而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。
2 z4 Z( F/ X+ A& Q* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ]
/ x# y6 |. Z9 x8 E( W# h0 l) ]$ TVmeas为半导体厂商用来为输出buffer（当然包含output ，I/O，3-state）确定板级延时特性的电压参考点; I* _7 r* `, G4 m
. {% w* f1 K. FVref，Rref，Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load0 l1 x0 \+ P8 _" i
8 [3 E0 W) ^0 r: q![]() 2008-4-29 08:45 上传( y# p x9 y5 G7 _0 F
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举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s4 T" S( G9 U# ~$ T, M! V( @9 ]
![]() 2008-4-29 08:45 上传# i: S6 j" W, s
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j: J( v2 [: M. v5 ^7 a9 ~) M+ }: p& W" \% H" [ L* w& }- V# s% Z N0 A- Z
4 {( p7 @& Y, {& H这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K) [. i7 O3 g' ?2 K) `8 |7 x
下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D' u D* a1 l' ? S3 K
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楼主: forevercgh
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发表于 2011-7-21 11:10
学习，谢谢楼主分享
看了420楼，学习
