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本帖最后由 simhfc 于 2013-5-9 17:07 编辑 " v& @8 Y) q* Q6 ?
li_suny 发表于 2013-5-9 12:28 0 x# U2 ^+ ?$ m* G- U2 {1 U
Er是统一、一致其实只是一种理想的假定,实际上都是有差别的。- w! _% f9 J5 I* j* X* y& Y" F) t
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至于Er的混合算法也我曾经分析介质材料 ... % X7 R& I& w: g! Z( j
, ^4 q; E: F/ ^) N是啊,只有介质的材料比例不同,或在生产加工的过程中发生形变,间距等参数变化,其Er才会变化,比如多层PP叠加后压合了,介质层增厚了,Er常数会升高;
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但导体层(也就是我们常说的铜层)金属本身不存在介电概念,且在PCB压合中几乎不发生形变在,目前的常规计算模型里是不涉及的,所以在铜层那里Er应该是固定为1;
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$ a9 R: v! @3 I1 r* t0 t如果有介质材料由于压合被“挤”入蚀刻铜层的间隙,那么需要重新计算介质层的厚度(也就是两个导体层的间距),而不能改动铜层的介电常数值;
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, M4 v0 q2 C3 V7 C8 @0 j( e* K; I; W这只是我目前的看法,先停在这里,留待将来再讨论,呵呵……{:soso_e113:} 很感谢前辈抽时间回复讨论! |
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