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本帖最后由 wuzl 于 2011-8-2 22:59 编辑 9 s K' Y/ s, b9 J$ I/ e
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) u6 j" U( R7 V& Y; [, |( K/ n3 q
& V3 O* h3 X4 b" c, X# K兄台这个想法很好，: f8 o. C X2 _: L$ c! T
但是如果要仿真到5~10GHz的频段，目前大部分的软件都还很难处理好所有的情况。
! d" D; e, o$ E0 R. h2 X高频的情况下需要考虑到) c3 x. p' s: s
1)skin effect和表面粗糙性，造成的电阻和电感的变化4 b S* t% }8 P4 N+ B
2)介质的频率相关性，造成的电容和电导的变化
% w0 F1 a/ T) ~3)介质的不均匀性! s2 z, X) N. x4 n
& H# a4 k( R: G6 p; ?' K1 b' q+ q
大部分的阻抗计算软件比如polar可能会考虑到1)，但是基于的都是简单的波浪模型，并不一定准确
0 ]2 K {# m3 F8 \% F" g" a& |而对于2)，3)目前polar什么的都无法include，而这部分将有巨大影响。
- o, n4 ]' }0 P: H# {我所知道的CST和HFSS都支持2）介质的频率相关模型，但是因为建模的缺陷，想要include 1)那么就要花费很多时间建模。9 s% E7 M5 a& h, ^
而对于3)只有少数软件支持，比如Q3D，当然愿意花时间建模，CST/HFSS也可以搞定3)
' G" Z- m6 Y. d& j& l所以十全十美的s参数提取是巨大的挑战，需要自行修改RLGC。) m3 @4 L" K* d
+ U$ E h! J# c& `如果你要比较准确性，我相信对于1)，2)，3)的处理不同，各个软件在高于5G的部分可能会有一定的差别。5 M- m/ J9 m7 I1 E& M
而且你仔细检查s参数，会发现他们的质量不太好，比如因果性，无源性，物理性可能欠佳。: A- I: J4 w; k
7 R+ Z" d5 R; K4 }
对于高频应用，s参数的质量不好，意味着这个仿真的准确度要大打折扣的。
- {+ K4 }4 e5 ^$ s0 m1 K0 }6 h- q- ]: ?9 Z1 d: @6 P! U
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楼主: shark4685
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