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楼主: snsArvin
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DDR3仿真

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 楼主| 发表于 2015-1-6 11:31 | 只看该作者
cousins 发表于 2015-1-6 11:14
) t7 y; K* Y$ u! a% c$ b' j因为tvb+tskew就是实际的建立时间,减去datasheet中的requirement就是裕量
% P! N( w( P$ `/ Q& q2 Itva-tskew是实际的保持时间,减 ...
& L. u7 _- e/ q
合格的标标准是余量大于0?
, B. f+ c$ j- o3 v: l8 [1 J1 L  u

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 楼主| 发表于 2015-1-6 11:33 | 只看该作者
cousins 发表于 2015-1-6 11:14
9 ^* l- _9 C/ D8 D9 f- ~7 Z因为tvb+tskew就是实际的建立时间,减去datasheet中的requirement就是裕量, v1 \1 u1 [' o' y
tva-tskew是实际的保持时间,减 ...
$ X" a  q, f$ J, j* s
版主,按道理,如果我设置好芯片内部DQ和Strobe的延迟,那么仿真出来直接就可以量出实际的建立和保持时间,再和要求的建立和保持时间比较不就可以了吗?) W) B! X8 K* y8 ]+ @8 ?

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发表于 2015-1-6 12:48 | 只看该作者
多谢您,那就是说要下面的数据算出DDR3对建立时间的实际需求,然后在实际的仿真波形上测量建立时间,和这个需求值比较,对吗?
: ~0 v, O& c6 E
* v6 ^+ X; l/ o9 x7 N7 G; _对,仿真波形可测量出你的設計的 setup time,把它与規格 tIS 比较,多的就是余量。

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 楼主| 发表于 2015-1-6 12:59 | 只看该作者
Head4psi 发表于 2015-1-6 12:484 `" M; i" F- b4 ~# T& V) V
多谢您,那就是说要下面的数据算出DDR3对建立时间的实际需求,然后在实际的仿真波形上测量建立时间,和这个 ...

4 `' A9 n+ G' O" t4 X1 M2 n但是这怎么理解?为什么slew rate越大,setup和hold的margin(裕量)反而会越大?按照公式算下来,slew rate越大,需要的建立和保存时间就越大,那么裕量该减小才是
! k- g3 |5 u; U8 h; c: x9 @) s
  G8 P7 B* u( G1 Z( h

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发表于 2015-1-6 13:05 | 只看该作者
#8 想听听历时原因。
& t9 i' S3 ^0 j0 z5 Y( j/ g1 W
/ s/ ]+ d/ @% _当初由 AC175 想降到 AC150 规格时,DRAM 供应商提出因为幅度降低相望控制器端多留些余量,所以由AC175 转 AC150时除了电位平移的 25 ps 外,又多要求了125ps ,例如 DDR3-1600 由 45 增加 到 170 Ps 。/ o5 u% J7 |- T- ]4 @0 W8 m
3 t; M4 D) p7 z5 J3 I) U. C' k5 r
所以之前我在 #7 说反了,对系统设记者而言,可以选 AC175 规格比较有利,在此一并更正。
( G7 t9 }# @% U' O
3 U9 [: u" y3 ~# ^2 d: _5 w/ [- h

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 楼主| 发表于 2015-1-6 13:38 | 只看该作者
Head4psi 发表于 2015-1-6 13:05: V2 o: ?% j' U8 ?! B9 I% P+ v8 H
#8 想听听历时原因。
+ U$ @0 T1 y6 x  T( p4 Q. v, z5 K- H0 f7 ?
当初由 AC175 想降到 AC150 规格时,DRAM 供应商提出因为幅度降低相望控制器端多留 ...

# e$ ^' I5 o) v! B( o怎么解释slew rate越大,需要的建立和保持时间越大?
: d+ Z4 W, \6 a5 t+ P

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发表于 2015-1-6 15:10 | 只看该作者
怎么解释slew rate越大,需要的建立和保持时间越大?
# _" G8 T* f+ x0 y
1 V; \# K0 B1 d7 K2 I上述这句话不知你如何下此结论?3 @6 U( B4 B3 F( {* W  p1 E+ `6 b
实际看 Timming 是 Clock 与 Data 相对的,Clock 的 Slew rate 快 (短时),则电路的data valid 较快,所以规格给值较小。返之,若是 Data 的 Slew Rate 变快,电路的 data valid 一样快,但是量测点后退了 ,所以规格给值要变大。仔细推敲 derating table 可知一二。

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 楼主| 发表于 2015-1-6 15:26 | 只看该作者
本帖最后由 snsArvin 于 2015-1-6 16:00 编辑
% r; K$ q8 A3 V; ^- C
Head4psi 发表于 2015-1-6 15:10
% \& D- A. s, N+ L- c怎么解释slew rate越大,需要的建立和保持时间越大?. t! P4 o! L/ k6 n- i8 l/ M. X% s/ n
- t$ X- l7 e% d" o( T# v8 s4 M
上述这句话不知你如何下此结论?

6 U* t3 }, t4 G: Q2 r7 B4 @下面这张表可以看出,如果时钟slew rate不变,则地址/命令的slew ratr越大,derating就越大啊,那么基值加上derating不就越大吗?那不也就是要求的建立和保持时间越大吗?( f8 n4 g' b0 ^" Q8 a- B' L9 F

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发表于 2015-1-6 16:21 | 只看该作者
CK 不变,地址/命令的slew rate 越快,量测点越后退 (量到的眼寬增加了),所以要求的 Total tIS 变大。

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 楼主| 发表于 2015-1-6 17:55 | 只看该作者
Head4psi 发表于 2015-1-6 16:214 l' x3 t' U) ]
CK 不变,地址/命令的slew rate 越快,量测点越后退 (量到的眼寬增加了),所以要求的 Total tIS 变大。
5 V8 f) ~1 l, ?0 a4 \% X9 t
我在琢磨琢磨,谢谢了!' `! V% r  h5 J+ n' [

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发表于 2015-1-9 08:38 | 只看该作者
不错  这样讲的话 很多东西都可以做的很好的

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发表于 2015-1-27 18:18 | 只看该作者
DDR3的时序参数是基于标准负载测试的( x1 N% B$ H. B. W8 g- P
6 ~0 h" j; q- {. {! K

# S$ i+ ?- V5 G  y+ @; j实际负载不可能标准 所以波形有差别,负载过重过轻 等都会造成影响
7 I* _, Q8 z0 P) F  h: V飞行时间偏移,包括芯片内部的逻辑偏移,buffer偏移,和PCB上走线的偏移6 m3 ^( C% i* ~+ d5 C( o
实际时序计算时要以接标准负载和实际负载计算飞行时间偏移$ n. |8 A, [/ v0 x3 Y
DDR3的规范规定计算时序都要考虑derating
6 W' ?# W& U8 r& i
( k9 P( j% T' h1 N4 J9 V9 b

点评

谢谢,关于slew rate和建立保持时间的关系,我还是不太明白:为什么slew rate越大,需要的建立和保持都会变大?  详情 回复 发表于 2015-2-5 08:57

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发表于 2015-1-27 19:17 | 只看该作者
觉得你们说的好高升啊,不懂

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发表于 2015-2-1 01:15 | 只看该作者

+ J; i0 l6 {5 @  K2 h) r正需要 谢谢

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 楼主| 发表于 2015-2-5 08:57 | 只看该作者
Colin_SI/PI 发表于 2015-1-27 18:18. Q  b* R3 |! k3 }0 c9 J! R* ^
DDR3的时序参数是基于标准负载测试的
- F, v+ W$ q1 N4 w  N5 u3 I. H' n
谢谢,关于slew rate和建立保持时间的关系,我还是不太明白:为什么slew rate越大,需要的建立和保持都会变大?
* M7 k# m. J) m; J8 b
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