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概念:电容:无论空间有多远,任何两个具有电压差的导体都存在一定量的电容。0 [( ~: ~; A/ R2 L7 v' i4 R+ u$ E
C:表示的是电容量,即存储的电荷与电压的关系的比值。当电压越大,可存储的电荷越多。
- M, ~5 X. d1 e3 i/ c) n影响电容量因素:两个导体距离、两个导体重叠的面积、两个导体重叠面积之间的介质。! w* j( K- J( ]
距离越近、重叠面积越大、介质介电常数越大,则电容越大。
6 b2 L% E$ T, }理解:减少互容的方式根本上为三条:1.拉开距离;2,减少空间上的重叠面积;3.选择低介电常数的板材;基本上PCB设计所采用的方式为1和2.
, z7 |& @( r1 h% R 电容中的电流
( Z5 L% n. D3 U2 B# q6 _8 n2 ^流经电容器的电流 I= dQ/dt=C*dV/dt4 H: b( ?! T9 H) c
I:表示流过电容器的电流;
" n* O4 _, s6 X% R7 b6 B5 fd Q:表示电容器上电荷的变化量;3 X H6 ?- Z5 T" t( J% R% S
dT:表示电荷变化经历的时间;
6 D7 p& ~7 A( g& S! j! EDv:表示电压变化值;
' i4 \: s4 }5 N4 IDt:电压变化所经历的时间。
" ]4 [( x$ x( w理解:其实电容除了漏电流的存在,本身并不流过电流。以上所说的电流,只不过为了计算方便而采用的数学值。从原理上考虑,因为异相相吸,在正电荷聚集的地方,肯定会有负电荷聚集。而负电荷的运动,造成了负极的电流流动。(负电荷的聚集造成了使流过电容的频谱呈-90相位)。从表面上看,就像电流流过电容器一样。但是理想电容器本身不消耗能量,所存储的能量,在外界适合的时候会向外送出,这时电容器负极也会将所聚集的负电荷释放。一收一放,就把能量传递过去了。
) N1 d* }0 |3 o- ]平行板电容1 H$ \7 M6 T# m4 C; ?
公式:C=E0Er*A/H C= (ε_r ε_0 A)/H C:电容量; E0空气介电常数;Er 介质相对介电常数;A,平板面积。6 T! d4 s& O: r2 k5 v* @/ p7 d
H平板间距。/ Z# P3 x$ ~8 N) @/ L: l
由于板周围存在边缘场,实际电容要大于近似值,当平行板间距与板厚想当时,板周围的边缘场产生的电容量与平行板近似预测的电容量相当。
/ j$ r# Y) h- D/ w% {+ Y9 d4 F理解:考虑边缘场,就要从电场和磁场角度来考虑,由于板并不是理论上的厚度为0的理想状态,所以板的边缘肯定也会发出磁力线向周围空间扩展,当四边的磁力线被底板接收到时,就相当于增加了底板所接收的电场磁场。变相的增加了聚集电荷的能力,所以电容增加了。' ^! W$ D; w. q/ Z
但这个值不好计算。7 t- X+ |, \4 m- e' d
&……*%……&***去耦电容的计算:……&%……&%¥¥%, S* U. t5 a6 i, z( P3 n" A8 M
δt=C*裕量*V^2/P t:表示电压下降量达到电源电压裕量的时间,单位秒;
, q) m: c# n* i+ m0 ]C表示去耦电容量,单位为F; 裕量:芯片的电源电压与最小供电电压的比值;
3 R! h: f# c5 B9 Y- cP表示芯片的平均功率;V表示电源电压。
7 q) X5 E, ]7 Z4 ?理解:本公式可以计算去耦电容的值,对于经验用法上的10UF去耦电容,可以省略了。直接用这个来计算所想要的确切的值,留出足够的裕量,那么一个小功率的芯片完全可以采用5UF或1uF 来去耦,即可以降低成本又可以减少PCB板上的空间。8 X/ S' z+ V& B. ~! M6 S/ R2 _$ Y" z
T 所表示的时间需要参考电源芯片,即电源芯片的反应时间。1 X+ Z/ E; M! d
通过上面的公式,即可以设计选型电源芯片的型号。
) [" H; b, O- h单位长度电容。
6 Y3 S& p# s, J; U单位长度电容是形容单位长度传输线的电容量。公式:C_L=C/L
& E0 d9 ?# ?- w8 F1 iCL:单位长度电容 单位PF/in ;(单位可自己设定);# \8 p6 c+ s. a( }3 Y9 l0 G
C:传输线与返回路径之间的电容量 ; L 传输线长度。
5 l% E3 P R( i4 p9 ^- R6 m$ ]. Z8 m$ s0 a1 H
同轴电缆计算公式:CL=(2πε_0 ε_r)/(ln(b/a)) a:内部信号导体的半径;b:外部返回导体的半径。
6 Z3 s2 F" c& }, C微带线计算公式C_L=(0.67(1.41+ε_(r )))/(ln{(5.98*h)/(0.8*w+t)})≈(0.67(1.41+ε_(r )))/(ln{7.5(h/w)})
) ?$ r- F7 l% Q) HCL:单位长度电容,单位为PF/in; ε_(r ):表示绝缘材料的相对介电常数;
! x4 O8 h9 Q$ S, ch:表示介质厚度;单位为mil;w表示线宽单位为mil;
( s; ?2 X% M. O) g. u; J" @ t表示导体厚度单位为mil。
! L/ {7 b7 ?4 [) a带状线计算公式C_L=(1.4ε_(r ))/(ln{(1.9*b)/(0.8*w+t)})≈(1.4ε_(r )))/(ln{2.4(b/w)})
8 Q$ d- v& t" R4 k& H. LB:表示介质厚度;其余同上。& } f+ R, F- ^
经验公式:微带线线宽如果是介质厚度的两倍即(w=2h)介电常数为4,则单位长度电容Cl=2.7pf/in 。这时微带线近视50欧姆特性阻抗。, j0 V% m* X* q9 P: T( a
带状线:如果介质厚度是线宽的2倍,即b=2w;单位长度电容为3.8pf/in ;相当于特性阻抗50欧姆。. \7 b4 Y/ `9 N2 G' S. F. @
经验法则:50欧姆特性阻抗单位长度电容大致为3.5PF/IN 。. X) h3 q! Q" f8 ^8 f
理解:特性阻抗的经验算法,只是大概。如果要是要求高精度,最好是实际测量,其次是计算。因为公式也是近视的。特别是板材的介电常数,随着制造工艺而有所不同。理论上裕量足够的情况下可直接采用理论算法来估计。- N3 i6 C' h7 z3 ?
理解:微带线经常因为刷阻焊,或者由于蚀刻。导致介电常数和介质厚度都不是常量。所以特性阻抗仅仅能预估计。如果想要精确的阻抗控制,那传输线必须走带状线,否则制造不出完美的50欧姆特性阻抗的微带线。
# i% _3 c* `6 X( G0 ?5 h8 x3 I理解:电容量的值跟下平面接收电力线的多少有直接关系,与介电常数有直接关系。如果按照电磁场方向来看,即可完美理解电容量的变化。
% I. Z5 W d3 ]0 K7 b, ]0 @, c
7 H9 e! ^7 R9 @; B. s1 ~, A3 b3 W4 l小结:
! R0 O1 }! X z' O1.电容是对两导体间存储电荷能力的度量。
/ {2 F6 V z' h* H' a9 m2 ]$ h2.电容量是对流动电流大小的度量。
! R: s8 E0 ~0 [3 A3.导体间的电压发生变化时,便有电流流过电容器。4 B9 ]: u8 S# _7 e0 z
4.本章的公式都为近似值,若要求精度为10%到20%就不应使用近似。
; N9 i) n. ]( o+ J* E5 U5.一般来说,导体间距越大,电容量越小;导体间重叠的面积越大,电容量也越大。
3 T. K* s2 u* M& R6.介电常数是材料固有特性,它反映的是材料使电容量增加的程度。/ |, l% |; n F) L, z2 W+ T
7.电路板上的电源平面和地平面间是有电容存在的,但这个量非常小,两平面的作用是提供低电感回路,而不是提供去耦电容。
& D; w; Q# ` i* m* q5 x: `2 l8.若要求精度优于10%,就不应该使用IPC的带状线和微带线公式;
4 y4 c7 o. w3 S0 P/ B8 S! o9.用二维场求解器,可以用来计算均匀传输线结构的单位长度电容。其精度优于1%;$ `1 [5 p. W: q" Q# s9 L/ y, W
10.若微带线的厚度增加,单位长度电容也将增加,但增加的幅度非常小。7 @/ \2 }8 h0 f5 v
11.当微带线的涂层厚度与线宽一致时,电容量将增加20%;
. u1 @! n# p8 w- }! E理解:IPC的公式精度为10%,在设计时能满足至少15%的精度。0 Z" R# h- ~' } }; w% E) f0 m: A! K
微带线涂层假设不够厚时,电容量增加的并不是很严重。
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