【原创】理性认识SQ的时序仿真功能（不断更新中）_如需转载，请务必征得作者同意

forevercgh

SQ所谓的时序仿真功能事实上是在一个测量和套用公式的过程。
+ x7 _+ M2 S' ]/ Q$ `（想起allen版主的一句话：会用软件不代表什么，理解软件的工作原理才是正道----软件中计算的理论基础）
1 d; q- Y" ]5 m3 `+ [0 p; N（顺便提一下，利用Hyperlynx你一样可以实现时序计算，只是更多的工作量要自己去做）

* Q; ~7 {1 b  ~- W; J测量：
1.实时的buffer驱动能力设置（slow，typical or strong）
2.flight time的选择（max or min）
3.AC test condition的确定
4.修改模型，确保model的正确性
8 N. R" Q0 N: S8 \5.注意同时考虑rise and fall edge
6.skew及jitter的考虑
......
% c% _& P7 h, v
+ {% _5 I+ l6 t, a今天先开个头，后面会陆续补上，欢迎大家交流探讨。。。。。。。。。。。。

cousins

hugeme 发表于 2013-12-16 16:06
. \6 F: u$ V- I( J问下，如果我们直接使用IBIS模型，外接测试负载，测量电压到VMEANS的时间是得到的bufferdelay还是得到的 ...

不要抓Vmeans
0 @  m" O# O) C: ^  r抓Vthreshold
1 ^- G9 z& J1 g2 ctiming 应该以读AC threshold和DCthreshold为准
5 p/ t) a4 C" [5 z通常是包含了TCO的 ，具体你可以咨询供应商
& z) ?; Z) q0 _! y  况且你再设计的时候一定会保证建立裕量和保持裕量，TCO通常是不会大于整体skew的

hero1380

forevercgh 发表于 2008-5-20 12:37
. g! C9 b' T2 y+ _0 q4 J需要罗嗦一个问题，所有的参数的采样点都是pin，而不是die（大家基本都在使用的可不是裸片，没法die上直接 ...

如果说所有的参数的采样点都是pin，而不是die，对于测试来说是方便了，可是和allergo定义的first switch/settle time貌似die啊，如果是pin，那应该是对应图中红圈中的点，不知道我说的对不对。

hugeme

forevercgh 发表于 2008-4-24 10:38
兵马未动，粮草先行。
% \) H% D. |" W2 e3 N先从时序分析的一些概念入手。
+ B+ w& O+ Y, ]- @) L0 e' h

问下，如果我们直接使用IBIS模型，外接测试负载，测量电压到VMEANS的时间是得到的bufferdelay还是得到的就是包含logic delay的TCO呢？

forevercgh

兵马未动，粮草先行。
8 ^2 E+ Y+ {! }' N5 u0 d先从时序分析的一些概念入手。

5 V" |* ^# u+ z& M, o
tco
----clock to output delay
8 u# X/ O" w/ g! Q  K. f. J  a指时钟触发开始到有效数据输出的器件内部所有延时的总和。Tco 包含缓冲延时buffer delay和逻辑延时logic delay。
这是个及其重要然而又被许多人错误理解的问题。

logic delay
4 g7 i9 z$ l0 t! v% nA、B点间的delay就是logic delay，从输入端（A点）的时钟触发到输出缓冲器（B）触发的时间间隔。
# `6 N/ q; `6 n3 \2 q# D* S9 n/ {logic delay是由IC本身决定的，其延时信息厂家是以SDF（static delay file）文件提供的，在design的那一刻就被工艺参数和电气所决定
buffer delay
: V9 Z& j+ s+ j" i8 J  OB、C点间的delay是buffer delay，是指信号经过缓冲器达到有效的电压输出所需要的时间，从下图看即为从B点buffer开关的时间t=0点开始，到C点电压达到Vmeas的时间。
buffer delay是和load情况密切相关的，这里看到的是一个50ohm的测试负载，这仅仅是一个例子，不同的芯片其测试条件一般是不同的

) D, E! J$ @2 v2 e许多人误认为Tco就是buffer delay，这种理解是极其错误的。
6 F7 |6 @- ^) I
) R+ V$ J% k: L7 ~6 y
1.负载特性决定了buffer delay的不同（variant due to different load）
2.IC design决定了logic delay的确定（constant）
8 ^1 _) |+ u+ K! @  `5 c

; R3 ]9 s8 N3 a1 y3 M0 x: \- ~% N由tco = logic delay + buffer delay 可得，Tco的数值也会随着load情况而变化
可我们在datasheet中的tco又是如何得来的呢，这就要讲到AC test condtion的问题，进而讲到修正，Vmeas等等

欲知后事，请听下回分解

stupidboy

什么东西？瞅瞅

stupidboy

非常好的概念分析，感谢楼主

stupidboy

楼主可以解释一下为什么buffer delay 跟负载有关呢？理论一句可否透露一下
本人密切关注中

sleepyingcat

看看!

cmos

问下，SQ是什么？

cmos

原帖由 stupidboy 于 2008-4-24 10:47 发表
7 l6 R1 W) a2 R2 l. q楼主可以解释一下为什么buffer delay 跟负载有关呢？理论一句可否透露一下
6 q& j- N1 ^3 p本人密切关注中

9 N2 W" s( W! N' }) Hbuffer如同一头牛，负载如同车，牛拉1辆车和拉4辆车的速度是不同的。buffer delay如同牛拉车的速度。挂的车太多，负载就过重。挂的车少，牛跑的太快，容易出交通事故，出现过冲。

libsuo

原帖由 cmos 于 2008-4-24 13:29 发表
/ ]. ?# {! z( |. k  @% S" o

# H  e6 W0 c% U, K( S; Lbuffer如同一头牛，负载如同车，牛拉1辆车和拉4辆车的速度是不同的。buffer delay如同牛拉车的速度。挂的车太多，负载就过重。挂的车少，牛跑的太快，容易出交通事故，出现过冲。

1 ?8 ?& P0 H0 J6 K牛拉车，这个比喻好。牛过冲了，吊沟里了

libsuo

不过这说法好像有点问题，轻负载时BUFFER输出肯定在设计上要能够保证输出信号的正确性，负载过重时应该会有信号紊乱的情况，不能保证信号正确输出。就好像牛拉的车太重，脱力了。不能保证准时到达，也不能保证每个拉到地方都是原来的样子。

+ J% m& i1 ]# G, @0 R; D+ U如果轻负载时也出问题，那岂不是轻负载时的设计也变复杂了。

libsuo

原帖由 cmos 于 2008-4-24 13:17 发表
. |: S+ a1 z8 Y  t- b问下，SQ是什么？

3 s; v5 B$ r7 T
  y' `( X& X+ sCadense里面的仿真软件SPECCTRAQuest

cmos

你所说的负载重有信号紊乱的情况，可能源于你的拓扑，每个到达点的不平衡，会影响其他的分支。
负载轻的设计自然复杂，因为buffer都是按照重负载选择的。1拖1在best case肯定会有过冲得问题。
; E9 Y/ }: ?0 `& L7 b- |/ t) O) D9 ?
而且过冲比重负载更危险，重负载最多时序不对，过冲会打坏芯片。

superlish

支持~~    
搬板凳来学习~