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STM32 AD采样问题?

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发表于 2015-3-25 15:48 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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     关于STM32 AD采样, 我们知道当AD输入采样值为3.3v以内时,MCU可以采样到,但如果高于了3.3V,MCU就采样不到! 针对于这种问题怎么解决,各位有没有什么办法解决,个人观点是不是可以用什么电路进行转换或者有什么IC可以识别高于电源电压的AD采样值! # Y; n# ^/ y# U
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发表于 2015-3-25 19:40 | 只看该作者
myl593799546 发表于 2015-3-25 17:02- Y$ D- n3 o! Q  d: I4 n
楼主应该是做电池电压检测吧,哈哈,我也做过,,确实是要分压
/ _6 v' @. w! {. e, l3 q- p* s
我做的和你不一样:我的是3.3V的MCU去检测电池,电池电压最大4.2V,所以我是分压后再接入MCU的,然后测得的数据再经过换算得到实际电池的电压。
% A3 {! m9 H: f# L你的意思就是两个MCU(A和B)都需要对A点进行AD检测,而且两个MCU的ADC的参考电压不一样,假设分别A为3.3和B为5V,而你要测的点电压为4.5V,这样你如论如何都需要分压吧,要测的点经过分压后(3.3V内)再接入A,B则直接接测试点0 j! W& k6 X8 h4 u& O( D
; z0 M: a& c; _- E) n! b

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发表于 2015-3-25 18:45 | 只看该作者
i265 发表于 2015-3-25 17:30  H: ^8 R( \, R+ m% D
分压不会影响原来的采样点吗,方便加下qq,请教下兄弟!

6 w/ n  S. g  c- o明白你的意思了1 t# _" e9 ^, b$ t) @( R
你的意思是:A-B是固定的采样点,程序也是固定的,是吗?也就是不能修改,而你是要用STM32再接一路过去读取A采样点的信号,是这样吗?  X" G+ \7 i) x
如果这样那就直接分压,再串电阻到STM32,影响的就是阻抗,如果你的阻抗够高,分压的级数与串联的电阻的数量级大于MCU的输入阻抗,即可看成不影响。
, x! H7 S& `- R( Q$ J- L

点评

是的 ,AB是固定的采样(不能动的),然后我另外一个STM32需要去读这个电压值有其他作用, 比如A点4.5V电压值,STM32直接串电阻不影响B的采样吗?  详情 回复 发表于 2015-3-25 18:49

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 楼主| 发表于 2015-3-25 16:07 | 只看该作者
bingshuihuo 发表于 2015-3-25 15:578 b2 m7 a; C/ O& `
你采用几个电阻
- l3 J5 ^/ O5 o使用分压士式
' |2 O7 K5 |( Q4 @' W3 _
  A为采样点,A与B MCU是一直采样的,电压有可能是3.3或者5V  ,现在STM32需要去读取A采样点, 但不能影响 A与B 直接的采样,( 比如A为3.5V的AD电压,怎样使B与STM32都可以读取3.5V  )
; N6 M4 Y/ P: u% r  `, }9 s

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发表于 2015-3-25 15:50 | 只看该作者
电阻分压

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是这样的 ,电路本事有A采样点与B MCU ,现在需要不影响AB直接采样(AB采样有可能是3.3V 或者5V的电平 ),我要并联一个MCU到A采样点  详情 回复 发表于 2015-3-25 15:55

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 楼主| 发表于 2015-3-25 15:55 | 只看该作者
fallen 发表于 2015-3-25 15:50& c. Y7 G; m; c
电阻分压

: N3 v9 z% Y$ j" m是这样的 ,电路本事有A采样点与B MCU ,现在需要不影响AB直接采样(AB采样有可能是3.3V 或者5V的电平 ),我要并联一个MCU到A采样点
! r- T; J% G: U) Y( Y% }/ P# x

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发表于 2015-3-25 15:57 | 只看该作者
你采用几个电阻2 u0 O# F$ N; i; ~" b% |
使用分压士式) o, I5 @. _' K

9 V2 Z) n/ Q- E3 _; I* u7 e只要采样不大于3.3V
4 q/ D+ \9 a) ]  }3 i采样肯定没问题

点评

[attachimg]94715[/attachimg] A为采样点,A与B MCU是一直采样的,电压有可能是3.3或者5V ,现在STM32需要去读取A采样点, 但不能影响 A与B 直接的采样,( 比如A为3.5V的AD电压,怎样使B与STM32都可以读取3.5V )  详情 回复 发表于 2015-3-25 16:07

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发表于 2015-3-25 16:26 | 只看该作者
A采样点,分压,然后分别接电阻到STM32与MCU B
+ b6 v2 F- Z6 F* \, PA采样点的电阻分压的数量级小于串联到STM32与MCU B电阻的数量级。

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发表于 2015-3-25 16:27 | 只看该作者
我的建议是你使用分压电路
: U* K" e" ?% h' d. d5 i0 W把整个电压降下去
# X4 @. {1 G3 b使电压低于3.3V$ e% \! z7 v$ {" U+ X( |) e3 y; j* W
这样采样就不会有问题
, c" V, q* o+ t) L" H: F4 R
6 ?$ t2 T/ x# ?+ i只是采样点的电压降了一些% c, A; r& \" q1 G  Q
其他的没什么影响

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如果把采样点降点,这样会影响到B点MCU采样哦, 假设采样点为4.5V ,这是要降到小于3.3V ,B点MCU肯定会影响采样错误  详情 回复 发表于 2015-3-25 16:35

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 楼主| 发表于 2015-3-25 16:35 | 只看该作者
bingshuihuo 发表于 2015-3-25 16:274 G9 z) F4 s+ O0 `, E
我的建议是你使用分压电路
+ z, f3 ~& X0 }9 Y  N8 O  N把整个电压降下去
+ N9 K2 w: S9 }4 B使电压低于3.3V
; p4 K* m, p' R5 u& d' R
如果把采样点降点,这样会影响到B点MCU采样哦, 假设采样点为4.5V ,这是要降到小于3.3V ,B点MCU肯定会影响采样错误. i+ v5 m' G- s, l4 F

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发表于 2015-3-25 17:02 | 只看该作者
楼主应该是做电池电压检测吧,哈哈,我也做过,,确实是要分压

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我做的和你不一样:我的是3.3V的MCU去检测电池,电池电压最大4.2V,所以我是分压后再接入MCU的,然后测得的数据再经过换算得到实际电池的电压。 你的意思就是两个MCU(A和B)都需要对A点进行AD检测,而且两个MCU的ADC  详情 回复 发表于 2015-3-25 19:40
分压不会影响原来的采样点吗,方便加下qq,请教下兄弟!  详情 回复 发表于 2015-3-25 17:30

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 楼主| 发表于 2015-3-25 17:30 | 只看该作者
myl593799546 发表于 2015-3-25 17:02
: d7 H& e! y3 Q+ }楼主应该是做电池电压检测吧,哈哈,我也做过,,确实是要分压

! {$ p  i% G, ?& L. C1 y分压不会影响原来的采样点吗,方便加下qq,请教下兄弟!
5 E9 W& `; G% Q2 ~* Z

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明白你的意思了 你的意思是:A-B是固定的采样点,程序也是固定的,是吗?也就是不能修改,而你是要用STM32再接一路过去读取A采样点的信号,是这样吗? 如果这样那就直接分压,再串电阻到STM32,影响的就是阻抗,如  详情 回复 发表于 2015-3-25 18:45

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 楼主| 发表于 2015-3-25 18:49 | 只看该作者
fallen 发表于 2015-3-25 18:45
1 |1 x3 }3 @! J明白你的意思了
9 J  |4 W" u1 r: v你的意思是:A-B是固定的采样点,程序也是固定的,是吗?也就是不能修改,而你是要用STM ...
% }" K# u- l% x. @
是的 ,AB是固定的采样(不能动的),然后我另外一个STM32需要去读这个电压值有其他作用,    比如A点4.5V电压值,STM32直接串电阻不影响B的采样吗?
4 v+ X1 n0 H4 M6 H6 r- B' ]

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就是阻抗的问题,只要足够大,即认为不影响。  详情 回复 发表于 2015-3-25 19:55

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发表于 2015-3-25 19:18 来自手机 | 只看该作者
你怕影响的话,看直接从采样点拉一个跟随器是否可行,应该不会在影响前后了吧

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能具体点吗? 应该怎么做 ,谢谢!  详情 回复 发表于 2015-3-26 20:21

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发表于 2015-3-25 19:55 | 只看该作者
i265 发表于 2015-3-25 18:49  u; P8 v8 ]2 W  t
是的 ,AB是固定的采样(不能动的),然后我另外一个STM32需要去读这个电压值有其他作用,    比如A点4.5 ...

, c- o% F7 R7 K  z" M' \0 l就是阻抗的问题,只要足够大,即认为不影响。$ ?2 @3 [2 y# J+ l6 ~
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