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[ADS仿真] 使用ADS如何快速进行标准化测量？

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mengzhuhao

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发表于 2012-6-18 20:38 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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使用ADS如何快速进行标准化测量？
* V3 I. @7 `7 [2 k: P. H5 U) z: r0 z: A& W

; Z5 J  w8 ?# m/ A9 S2 L4 |: U4 ~: o" Q- E
例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等，读写时序的逻辑控制2 r) Y3 i8 u( U6 b7 u" L
% m3 u* R+ h* ~* m

5 d* o- Z) J+ K- {( M2 I% ^+ _* c- \; r3 {3 t3 z. W
如果通过编程的方法实现自动化测量，有熟悉的朋友么？# `' f2 e2 Q5 V5 s' p, w

* k+ r  b8 a! [9 L5 B5 u: \8 U% j) m4 Y9 N% r& U" Q& l
9 V' d, b3 A; Y. w
有那些思路、方法与例子呢？& P0 {! N  u) E# |" Q6 Y; a
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mengzhuhao

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2#
 楼主| 发表于 2012-6-19 10:27 | 只看该作者
搜了ads的help 里面有ddr2/3的kit，不过目前还不太会用 有熟悉的朋友吗

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