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概念:电容:无论空间有多远,任何两个具有电压差的导体都存在一定量的电容。
( G, V' }5 X) |C:表示的是电容量,即存储的电荷与电压的关系的比值。当电压越大,可存储的电荷越多。
) D" z$ n! @& W1 ?1 P( U. r影响电容量因素:两个导体距离、两个导体重叠的面积、两个导体重叠面积之间的介质。
! d1 f' v7 h" |" k+ f距离越近、重叠面积越大、介质介电常数越大,则电容越大。
+ c. @; V6 y: G% _% O8 \7 R理解:减少互容的方式根本上为三条:1.拉开距离;2,减少空间上的重叠面积;3.选择低介电常数的板材;基本上PCB设计所采用的方式为1和2.1 ?( g/ U m% S: R% A
电容中的电流; }* M8 C( G) v3 G7 o
流经电容器的电流 I= dQ/dt=C*dV/dt
# }7 o9 s5 `4 D+ MI:表示流过电容器的电流;7 T. [- x+ P5 T
d Q:表示电容器上电荷的变化量;+ ^# e' m+ n9 x6 i3 q
dT:表示电荷变化经历的时间;
/ H9 d" f( g0 {; v( G: ]Dv:表示电压变化值;
9 Q6 H* |( L; uDt:电压变化所经历的时间。
. ?( w/ @+ T6 f: A理解:其实电容除了漏电流的存在,本身并不流过电流。以上所说的电流,只不过为了计算方便而采用的数学值。从原理上考虑,因为异相相吸,在正电荷聚集的地方,肯定会有负电荷聚集。而负电荷的运动,造成了负极的电流流动。(负电荷的聚集造成了使流过电容的频谱呈-90相位)。从表面上看,就像电流流过电容器一样。但是理想电容器本身不消耗能量,所存储的能量,在外界适合的时候会向外送出,这时电容器负极也会将所聚集的负电荷释放。一收一放,就把能量传递过去了。7 z2 v& B$ a8 ?5 d, {7 P
平行板电容
1 _' b+ @" ^0 t3 f- p4 ^" F公式:C=E0Er*A/H C= (ε_r ε_0 A)/H C:电容量; E0空气介电常数;Er 介质相对介电常数;A,平板面积。
( z" g# H$ G7 p+ e$ z8 z, ^H平板间距。9 A7 W0 b5 T( @$ Y$ S
由于板周围存在边缘场,实际电容要大于近似值,当平行板间距与板厚想当时,板周围的边缘场产生的电容量与平行板近似预测的电容量相当。
: `4 R6 F) O1 c& |. c理解:考虑边缘场,就要从电场和磁场角度来考虑,由于板并不是理论上的厚度为0的理想状态,所以板的边缘肯定也会发出磁力线向周围空间扩展,当四边的磁力线被底板接收到时,就相当于增加了底板所接收的电场磁场。变相的增加了聚集电荷的能力,所以电容增加了。
: U; b. e9 w* p6 x1 C但这个值不好计算。
& V9 y0 Y+ o1 {9 m" \&……*%……&***去耦电容的计算:……&%……&%¥¥%
2 }- v! E! {$ [9 W. Xδt=C*裕量*V^2/P t:表示电压下降量达到电源电压裕量的时间,单位秒;% i& \1 I B: l/ F* K! {
C表示去耦电容量,单位为F; 裕量:芯片的电源电压与最小供电电压的比值;3 G& h5 `' l4 V% W
P表示芯片的平均功率;V表示电源电压。
9 n7 s1 I( ?. R& ^/ K D9 n: V9 G理解:本公式可以计算去耦电容的值,对于经验用法上的10UF去耦电容,可以省略了。直接用这个来计算所想要的确切的值,留出足够的裕量,那么一个小功率的芯片完全可以采用5UF或1uF 来去耦,即可以降低成本又可以减少PCB板上的空间。, ~3 E: }$ P& m" v- y2 {# A! e
T 所表示的时间需要参考电源芯片,即电源芯片的反应时间。8 d+ v, F# Y% T5 }* G. M- _
通过上面的公式,即可以设计选型电源芯片的型号。$ X3 D& l9 p7 E6 o
单位长度电容。
7 t" L) w1 u, }* o' ]) r单位长度电容是形容单位长度传输线的电容量。公式:C_L=C/L
# V) }' S5 j6 e" S/ ?* }, M, FCL:单位长度电容 单位PF/in ;(单位可自己设定);
, ]5 \" v! t3 [/ t1 eC:传输线与返回路径之间的电容量 ; L 传输线长度。
: E4 @! B p* d4 g; u2 G7 i6 U
4 B" D- M1 i. l' x% ~1 N9 P5 A+ g同轴电缆计算公式:CL=(2πε_0 ε_r)/(ln(b/a)) a:内部信号导体的半径;b:外部返回导体的半径。# W0 N" M5 ]+ t, a
微带线计算公式C_L=(0.67(1.41+ε_(r )))/(ln{(5.98*h)/(0.8*w+t)})≈(0.67(1.41+ε_(r )))/(ln{7.5(h/w)})
1 k6 }! y2 |7 V) dCL:单位长度电容,单位为PF/in; ε_(r ):表示绝缘材料的相对介电常数;+ A+ x2 M4 f: [( f" S
h:表示介质厚度;单位为mil;w表示线宽单位为mil;! g( f& u" u( V* e7 u
t表示导体厚度单位为mil。4 f& n' { f/ s. k. w9 ]
带状线计算公式C_L=(1.4ε_(r ))/(ln{(1.9*b)/(0.8*w+t)})≈(1.4ε_(r )))/(ln{2.4(b/w)})
& ^+ F! o, k oB:表示介质厚度;其余同上。
' W7 s+ D6 k3 Y! X6 g' v2 v. h经验公式:微带线线宽如果是介质厚度的两倍即(w=2h)介电常数为4,则单位长度电容Cl=2.7pf/in 。这时微带线近视50欧姆特性阻抗。
+ N8 ?# X2 ]; }3 u% V0 @带状线:如果介质厚度是线宽的2倍,即b=2w;单位长度电容为3.8pf/in ;相当于特性阻抗50欧姆。" q8 z& d& T/ C) o
经验法则:50欧姆特性阻抗单位长度电容大致为3.5PF/IN 。& v3 T0 _9 p! z4 g x1 S! v
理解:特性阻抗的经验算法,只是大概。如果要是要求高精度,最好是实际测量,其次是计算。因为公式也是近视的。特别是板材的介电常数,随着制造工艺而有所不同。理论上裕量足够的情况下可直接采用理论算法来估计。
/ {) q X) s- S) `! y D- O理解:微带线经常因为刷阻焊,或者由于蚀刻。导致介电常数和介质厚度都不是常量。所以特性阻抗仅仅能预估计。如果想要精确的阻抗控制,那传输线必须走带状线,否则制造不出完美的50欧姆特性阻抗的微带线。: G0 i }9 h) Y: G0 ~! @
理解:电容量的值跟下平面接收电力线的多少有直接关系,与介电常数有直接关系。如果按照电磁场方向来看,即可完美理解电容量的变化。" P0 k, ~" S/ y0 a( `. Y9 o) P
* i4 a, l* Q6 E6 [$ N9 i& e
小结:
; Y% i8 [2 e9 X% q" |% q, U1.电容是对两导体间存储电荷能力的度量。
. R; [% W$ q/ q' `6 J0 `9 Z2.电容量是对流动电流大小的度量。
- U, e5 u4 k3 H# {7 E% M3.导体间的电压发生变化时,便有电流流过电容器。. I4 f5 ]2 K8 b
4.本章的公式都为近似值,若要求精度为10%到20%就不应使用近似。
/ R! f+ r! O1 q: L9 Y6 N5.一般来说,导体间距越大,电容量越小;导体间重叠的面积越大,电容量也越大。" {0 s# } O, r+ @
6.介电常数是材料固有特性,它反映的是材料使电容量增加的程度。
( D9 g3 ~, ^; M9 \, D7.电路板上的电源平面和地平面间是有电容存在的,但这个量非常小,两平面的作用是提供低电感回路,而不是提供去耦电容。2 t0 t; q) y- B# |! t0 M
8.若要求精度优于10%,就不应该使用IPC的带状线和微带线公式;) W/ g$ l1 P$ q) X. }/ ]( u) U
9.用二维场求解器,可以用来计算均匀传输线结构的单位长度电容。其精度优于1%;
" N9 y2 o9 I# X. t3 X10.若微带线的厚度增加,单位长度电容也将增加,但增加的幅度非常小。% p0 w2 t( z7 f# H, H
11.当微带线的涂层厚度与线宽一致时,电容量将增加20%;7 s4 y# y( y9 E
理解:IPC的公式精度为10%,在设计时能满足至少15%的精度。
+ w( f& J9 t: \- ^微带线涂层假设不够厚时,电容量增加的并不是很严重。
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