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兵马未动,粮草先行。
/ ], w8 B0 z% O先从时序分析的一些概念入手。
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tco
$ [5 o( j. _7 b N----clock to output delay
( D2 k. }9 d" [# S& O* \, y指时钟触发开始到有效数据输出的器件内部所有延时的总和。Tco 包含缓冲延时buffer delay和逻辑延时logic delay。
7 p. u" K5 W! \6 N1 p2 Z* Z这是个及其重要然而又被许多人错误理解的问题。( S+ I* Q" D( d
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logic delay& a* g. Z% ]8 ^/ W0 c5 E8 ~6 U
A、B点间的delay就是logic delay,从输入端(A点)的时钟触发到输出缓冲器(B)触发的时间间隔。7 k# e0 z" D6 P: Q5 y
logic delay是由IC本身决定的,其延时信息厂家是以SDF(static delay file)文件提供的,在design的那一刻就被工艺参数和电气所决定9 O7 V# x* s. D+ w/ N( M8 e9 U
buffer delay8 k9 c- A( A$ P4 A
B、C点间的delay是buffer delay,是指信号经过缓冲器达到有效的电压输出所需要的时间,从下图看即为从B点buffer开关的时间t=0点开始,到C点电压达到Vmeas的时间。
: Q. V- ~2 y/ @1 h2 |! ebuffer delay是和load情况密切相关的,这里看到的是一个50ohm的测试负载,这仅仅是一个例子,不同的芯片其测试条件一般是不同的- L. t. ^1 d% O9 k
( `: Z! t8 ~1 w+ z8 n9 O$ k# d许多人误认为Tco就是buffer delay,这种理解是极其错误的。
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1.负载特性决定了buffer delay的不同(variant due to different load)
1 [. K$ d1 M# h. k+ T* G; Q, l3 R2.IC design决定了logic delay的确定(constant)
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0 Z; J$ z$ V" ]) Z) K, C8 @0 f 8 O3 W$ ^' o7 C* E7 J4 e
由tco = logic delay + buffer delay 可得,Tco的数值也会随着load情况而变化- H, C) O4 Z8 c5 d# Q! s
可我们在datasheet中的tco又是如何得来的呢,这就要讲到AC test condtion的问题,进而讲到修正,Vmeas等等) D, |5 e4 W( l
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欲知后事,请听下回分解 |
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