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[Ansys仿真] sip 仿真

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发表于 2012-3-31 19:43 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 pjh02032121 于 2012-4-6 14:31 编辑
, \. ?* A4 U+ q8 X( F" }0 V& o
+ r, l' r( p" E5 L# R闲来无事,玩玩仿真,望高手指点。
& |1 @2 p; s8 |3 p一个sip封装,结构如下:
4 K5 Q" D. S4 ]9 O" ~
( W6 ]3 i+ s5 l3 t
3 m" V- O' S1 M6 g0 B) S1.用ansoftlink从cadence sip将封装文件导出到siwave,设置好叠层结构、wirebonding,via结构;
7 U9 f2 q9 A: B8 i* q& _' W & U6 f; T6 K* S  `  J$ E$ p( C

2 p, @7 {* B$ ^! u2 I- M% _2.射频端口s参数,port分别下在die端和package RF pin脚。
: [& S7 d+ P2 C2 U3 O+ W0 c+ l由于substrate叠层厚度的限制射频入口的走线做不到50ohm,由于走线比较短,影响不大。
  T# F$ E' u7 w; N2 W7 t! b1 B在关心的频段,S11<20dB,s21>-3dB,很好。1 K: S  @7 r- o6 B; n4 j1 f

7 M6 t# \( M2 t& A4 K8 u( \. l. g6 |& R/ Z0 B; c
3.由于package端pin比较大,紧挨着substrate的第3层是地平面,馈入的能量损失较大,将3层挖空(2地层依然完整),理论上会有所改善,验证,有那么点改善S11.
7 r8 O% [, z" t5 q2 K+ C& R# w
9 _  I+ K9 W% a) A, r. f* b( n1 U, F" a! q" r+ [& O. `
4.将测试板从allegro转到SIwave,再将package叠到PCB上(PCB RF走线50ohm,clip后加port,仿真从PCB RF馈入点到die端的S参数。S11<-20dB,S21<-3,很好。
) b) l: W. t! }9 i5 N
5 C  ]& X5 k( j8 m; f3 w) `8 z; d# w$ K; ]* C9 a# b  Z
5.PI分析% b9 E/ c* y: G4 u& W% I
RF die的主电源1.8v,最大电流60mA,5%的纹波容限,则Rtarget=1.8×5%/0.06=1.5ohm6 h- l' T" v, O8 y9 s
BB die的core电源1.2v,最大电流80mA,5%的纹波容限,则Rtarget=1.2×5%/0.08=0.75ohm
6 X4 c4 \, s9 d0 o) dBB die的IO电源3.3v,最大电流8mA,5%的纹波容限,则Rtarget=3.3×5%/0.008=20ohm
* E6 Q3 a# }& S0 V: i将电源相连的电容与siwave的电容库做map,将die端和package的电源和地已经各自做group,并生成仿真端口。启动扫描,看结果。3 J. ]8 Q$ W$ d2 e0 J4 o" [# p
从仿真结果看,3.3v,1.2v电源的阻抗在1GHz内都满足要求,1.8电源在1G附近阻抗超标。
* \( C( P; @+ n6 L4 q$ S3 `3 Z/ w
* ^2 H. a1 Y7 \9 M$ ?. F2 w) X( B1 s

+ I+ [# j/ ~0 ~! R1 Q  u6.PI 优化* }9 n- m% O2 o, O! |! B' G
上面的仿真全部用的0.1uF的电容,从上面结果看,可通过优化电容组合,压低1.8v在1G附近的阻抗。在芯片bonding finger附近各加一个1nF电容。结果如下图,1.8v在1G附近压到1ohm以下。
# U# p3 M2 O" s' m0 @4 L% G* R$ h原设计供用21颗电容,通过仿真,在满足阻抗要求的情况下,可少用7颗0201元件(对于封装里那点空间来说是相当宝贵)。+ M% Q5 I8 z8 ?
对于整个解决方案来说,200KHz~1G频段电源阻抗都达标,有在贴到PCB上时,外部基本不需要放置电容了。8 U( P3 S) s+ V
由于封装内部放不下大电容,所以200KHz以下交给电源模块去处理了;1G以上只能有片上电容解决。9 k( V$ X+ x5 }) {" K

- Q( r2 B+ }: p注:由于die上电源和地没有细分电源域,做group的PI分析结果是偏乐观的。
" K6 c5 p3 J2 r3 `% R: ?; ? : C; ^! }$ |  v% C( y4 w

- c& O' f6 u* V$ ]7.结合PCB上的PDN,PCB上在封装的每个电源pin各放一个2.2uF和0.1uF的0402电容(有点过了),做协同的结果如下:# s9 |# N" E1 v/ h

6 `$ Q; C+ o/ q% R9 E$ ^
5 M, [7 @0 E6 \8 n8 y8.上面都是电源从频域阻抗的角度去看电源完整性的问题,下面是从时域的角度看." D; ~1 Y4 n1 W' V0 P7 J  e" R
将上面PDN的扫描结果导出S参数文件到designer,加上在电压源和电流源(Tr,Tf=500ps),探测die端电压的波动.  D% d! ?3 ]$ H8 s+ ]+ x3 A5 r+ T
结果纹波都在5%以内,且余量很足.# Y0 h' p8 |, ]) s
3.3v电源纹波max=0.048v<5%x3.3v=0.165v
) N2 K! _5 ^( J- ]1 h, {1.8v电源纹波max=0.029v<5%x1.8v=0.09v
% Y& l2 h5 l- Z& |1.2v电源纹波max=0.025v<5%x1.2v=0.06v/ h$ e0 f9 Z) T- I' G0 m

* k/ V1 y2 m/ s1 T2 \) r3 `& M) I! I
9.当把电流源的Tr,Tf设为100ps时,5 r$ d: J1 u. L6 r6 \! D: n2 x
3.3v电源纹波max=0.090v<5%x3.3v=0.165v. N+ \* `* D! `; k3 N
1.8v电源纹波max=0.127v>5%x1.8v=0.09v
+ a. @& r. F- N& n3 `: O( I. u1.2v电源纹波max=0.162v>5%x1.2v=0.06v
8 O, p2 r! y8 Y' ~: f
Tr,Tf的重要性从这里可以体现了,结合第7条PDN阻抗曲线及这两个仿真结果可以很好的理解BW=0.35/Tf这个经验公式.
2 O/ D# B8 W1 r& i7 E8 v 3 E6 L4 J7 T6 U! H9 x

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发表于 2015-1-31 16:11 | 只看该作者
好像没看懂

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发表于 2014-4-18 16:42 | 只看该作者
楼主要是能将工程文件分享,真的是普度众生了!
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发表于 2012-7-15 09:37 | 只看该作者
太棒了。

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发表于 2012-6-10 21:35 | 只看该作者
学习了,好的资料

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 楼主| 发表于 2012-4-17 19:20 | 只看该作者
本帖最后由 pjh02032121 于 2012-4-17 19:24 编辑
. K/ Z3 S" C- u6 j" Z
mengzhuhao 发表于 2012-4-17 18:30
& [! ^+ G8 Z6 }2 V0 ]" ^" n3 ^6 ~" e"Tr,Tf的重要性从这里可以体现了,结合第7条PDN阻抗曲线及这两个仿真结果可以很好的理解BW=0.35/Tf这个经验公 ...
3 G+ r) O' U. }

7 y% C. ?  Z8 w. s+ G/ t我是刚入门,以下是我个人的理解,BW=0.35/Tr,+ _, m* R6 J  `$ _: m2 s
Tr=500ps信号带宽700MHz,此PDS在700MHz之内的阻抗都是在目标阻抗以下,所以纹波不会超标;. H$ T3 X- j( R" N% e) Y
Tr=100ps信号带宽3.5GHz,此PDS在1~3.5GHz之内的阻抗都是在目标阻抗不达标,超出了PDS的去耦范围,所以纹波会超标;
! S- W( N/ S; k2 O5 U
) G" R# Q% q1 l$ x8 q6 I最近看了“信号完整性分析”这本书,以上是个人理解,若有不对的地方,还请高手指正。
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发表于 2012-4-17 18:30 | 只看该作者
"Tr,Tf的重要性从这里可以体现了,结合第7条PDN阻抗曲线及这两个仿真结果可以很好的理解BW=0.35/Tf这个经验公式" 没理解明白

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发表于 2012-4-17 16:39 | 只看该作者
mengzhuhao 发表于 2012-4-5 23:15
- a/ d+ ~3 N, _% @  S% `在哪里啊,没看的  什么版本的?

9 x/ j" Q9 c9 }# [/ C. a0 ]( itools-attach package Design...

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发表于 2012-4-17 15:54 | 只看该作者
很有意思啊

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发表于 2012-4-5 23:15 | 只看该作者
pjh02032121 发表于 2012-4-1 16:08
! O7 v, ^: B8 |3 {% v( H9 n; t; Rtools菜单下
2 @$ G% E+ y2 E& Y
在哪里啊,没看的  什么版本的?

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发表于 2012-4-5 15:23 | 只看该作者
pjh02032121 发表于 2012-4-5 12:37
3 w+ t& E9 E* h不同电源域分别做group会比较准,全部做group的话,结果偏于乐观.

  V5 V$ s6 p- Y0 C  z: p谢谢!

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 楼主| 发表于 2012-4-5 12:37 | 只看该作者
willyeing 发表于 2012-4-5 12:32
8 N- g6 J  ]' b8 f3 q: {+ q电源与地做group是否会不准啊。

* Q" g* A# }8 x8 I# A2 x, X不同电源域分别做group会比较准,全部做group的话,结果偏于乐观.9 n. B$ W1 X5 K. ?/ C2 P
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发表于 2012-4-5 12:32 | 只看该作者
pjh02032121 发表于 2012-4-1 16:08
' O) F1 M' w. u) N2 ttools菜单下
) `# y( m: G' f7 k# w$ c
电源与地做group是否会不准啊。

点评

有可能的哇。  发表于 2013-2-4 17:31

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 楼主| 发表于 2012-4-1 16:08 | 只看该作者
willyeing 发表于 2012-4-1 13:52 . j. P0 `2 X" I8 u/ X/ g
版主如何将测试板siwave文件与封装的siwave叠起来协同仿真啊。

( Y: X8 B9 p! S$ k( H6 @tools菜单下
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发表于 2012-4-1 13:52 | 只看该作者
版主如何将测试板siwave文件与封装的siwave叠起来协同仿真啊。
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