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tDS&tDH base 的选择问题

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发表于 2015-7-15 22:05 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式

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tDS&tDH base 的选择跟一个指标ACXXXmV,例如AC175,AC150,AC135, 1 R& L: m3 t- q% w
这些指标如何选择?, H/ p* P0 H% J" M
有问过做内存的厂商,他说一般取AC175,具体也不知道为什么2 R; X4 n8 H1 i3 a7 ~
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发表于 2015-9-7 22:38 | 只看该作者
这个和眼图测量有关

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发表于 2015-7-17 11:47 | 只看该作者
以下所述,参考参考...
2 k, s8 D8 O* T# Y% C9 [$ y, G, O根据经验,参考规格书。% G! o9 i0 R3 R6 y- k4 r% Z  g
这里所述之规格书是按照作动方式(向)而定。
7 I5 {4 T5 U6 l( y例如Data-Bus/Write时,讯号由控制晶片传到DRAM端,此时按照DRAM的规格9 X4 s' b$ q, E& K- Y
并决定AC/DC levels。如此,计算接收情况是否符合规格(软体会计算tDS/tDH馀裕)。- s/ u8 }9 ~/ g: e7 s8 ], M2 }
反之亦然,在Read时,计算接收端(控制晶片)的接收情况,使用控制晶片接收时的规格
- z! M, S; A& x3 ~: X(tDS/tDH)。
4 [5 i: o' m* @$ Z7 J只是,在一般状况下,厂商通常回覆按照Jedec规格,所以,Write/Read的tDS/tDH就变成一样了。* \) o6 b+ z6 p
所以,问清楚所使用的规格来设计与仿真,过与不过,皆有一定的准则判断。

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发表于 2015-7-16 08:50 | 只看该作者
依照带宽来选择,若你不跑颗粒的最高带宽不需要那么高的要求。参考规格书。

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发表于 2015-7-16 00:18 | 只看该作者
AC175的要求是最严格的,如果能过,那么就没有任何问题

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发表于 2015-7-15 23:03 | 只看该作者
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