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[ADS仿真] 如果通过测到的s参数 反推出介电常数?

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发表于 2015-4-23 08:28 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式

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有好的工具或者方法吗,比较容易实现的
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发表于 2015-6-4 07:02 | 只看该作者
好帖,过来学习一下!!

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发表于 2015-6-3 15:45 | 只看该作者
本帖最后由 阿笨 于 2015-6-3 15:46 编辑 $ i9 u0 j9 v/ w
doya 发表于 2015-6-3 10:41* N* j0 G" ?+ g" B
测试线长度的选取,线宽及角度的设计,或是测试SMA的设计都很重要,换言之测试所得的S参数的质量要求比较高 ...
' H6 x0 J2 z' C0 s% [1 m# r
你可以自己再找一个烂一些的板子试试
0 M" n0 y, Y! \& {' R6 Z; A

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发表于 2015-6-3 10:41 | 只看该作者
测试线长度的选取,线宽及角度的设计,或是测试SMA的设计都很重要,换言之测试所得的S参数的质量要求比较高,并不是随意两组测试的S参数都可以,甚至要做很多组测试线再挑选。& h9 F$ |4 b2 O
不过楼上所说的比较线性的相位值我比较有疑问,据我的经验,哪怕回损过大插损的相位也是很线性的。但失真倒是有可能的,由于编织布以及绕线等因素可以直接影响到相位失真,但这是可以设计中规避的。
! ?, i) }" ~% O. c' s  I& s并且所得的Dk\Df,还需要使用TRL校准进行反向验证,这很重要。

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你可以自己再找一个烂一点的板子试试  详情 回复 发表于 2015-6-3 15:45

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发表于 2015-6-1 21:20 | 只看该作者
上面有人提到用测试的时延来推导常数,其实这个办法本身就存在很多的限制,其中最直接的一个问题就是你如何得到一个比较线性的相位值。很多因素都会造成插损的相位失真,一个回损过大就可能插损的相位的扭曲,而且要记住这个是用两段不同长度的传输线相减是不可能消除的。' n0 K) b* D  E# {

& ]' m; ^& h6 s) c+ C! r& n虽然S参数里的某些参数虽然可以相加减可以得到近似的结果,但是S参数毕竟是一个矩阵,不是简单的标量运算那么简单,想用这种方法得到时延差则对你的DUT特性要求极高,也许校准可能是个比较好的选择。

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发表于 2015-6-1 19:59 | 只看该作者
另一根线的长度不能为0?

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发表于 2015-5-6 12:13 | 只看该作者
doya 发表于 2015-5-6 11:14) h" W' v* i% e9 l* V7 Y
一个S参数算不了,需要一个板上两个不同长度的传输线的两个S参数可以计算,以及长度差(当然这两条线的物 ...

4 @  k( l2 ^- J; g7 ]1 ~1 L你说两个不同长度相同结构的可以算那我觉得可行,因为相当于多了一组方程式,可以推导出来。
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发表于 2015-5-6 11:14 | 只看该作者
cousins 发表于 2015-5-6 09:300 q2 o5 U. q* {0 Y9 n7 i
这个很有意思,很好奇怎么算的.' Z( i5 I; T" k9 j+ S/ E
我有一个疑问就是,单纯的S参数为矩阵形式,没有任何结构参数如何得到介 ...
6 C: P4 B! }  r1 e% D( j8 x; |
一个S参数算不了,需要一个板上两个不同长度的传输线的两个S参数可以计算,以及长度差(当然这两条线的物理结构测试环境都要相同,不需要知道具体的线宽、铜厚这些信息);两个S参数可以得到相位差,就可以换算得到介电常数啊。

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你说两个不同长度相同结构的可以算那我觉得可行,因为相当于多了一组方程式,可以推导出来。  详情 回复 发表于 2015-5-6 12:13

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发表于 2015-5-6 09:30 | 只看该作者
doya 发表于 2015-4-28 11:25
5 I# g# A' \- c0 O7 c! b( X通过S参数的相位延时,可以计算介电常数。Keysight不是有专门的计算方法吗?需要购买。

# f& M! U# m! l9 A4 _1 W这个很有意思,很好奇怎么算的.: Q% r) |# O% D9 h8 n* ^
我有一个疑问就是,单纯的S参数为矩阵形式,没有任何结构参数如何得到介电常数。
# W! Y# ^+ K" T: @3 Y* k! m我是没用过这个工具啦,但我猜肯定是需要定义结构参数的,不然没法反推介电常数.6 H& U# B6 Q. N+ g( d

  Z2 B! [$ n4 e# I4 \$ `$ _: q  d. |4 g! h

点评

一个S参数算不了,需要一个板上两个不同长度的传输线的两个S参数可以计算,以及长度差(当然这两条线的物理结构测试环境都要相同,不需要知道具体的线宽、铜厚这些信息);两个S参数可以得到相位差,就可以换算得到  详情 回复 发表于 2015-5-6 11:14
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发表于 2015-4-28 12:28 | 只看该作者
应该是通过相位来求的

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发表于 2015-4-28 11:25 | 只看该作者
通过S参数的相位延时,可以计算介电常数。Keysight不是有专门的计算方法吗?需要购买。

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这个很有意思,很好奇怎么算的. 我有一个疑问就是,单纯的S参数为矩阵形式,没有任何结构参数如何得到介电常数。 我是没用过这个工具啦,但我猜肯定是需要定义结构参数的,不然没法反推介电常数.  详情 回复 发表于 2015-5-6 09:30

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发表于 2015-4-28 10:57 | 只看该作者
赞同楼上说法,一样的阻抗可以有不同的结构,不同的介电常数可以实现一样的阻抗;不过,楼主可以测S参数,那你有没有PCB结构,固定的结构就可以根据阻抗推算节点常数,仅供参考
世界上有2种笨鸟,一种是自己刻苦修炼,笨鸟先飞;一种是趴在窝里下个蛋,让下一代先飞

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发表于 2015-4-23 11:28 | 只看该作者
好难...似乎介电常数不一样也可以有近似的s参数的。
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