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ICT测试用的测试点一般多大,间距要求多少?

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发表于 2015-11-27 10:41 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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最近做的一块板子,马上量产了,工厂要求板上测试点直径1mm,间距1mm(应该是边到边),方便做夹具测试,板上原来的测试点是0.8mm直径的。我觉得改起来有点麻烦,有部分测试点在BGA背面区域很密集的,想求教一下高手,一般ICT测试用的测试点有什么要求,一定要1mm以上吗?, W0 v6 Z; [9 V7 {! Z2 V* f
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发表于 2015-11-27 10:55 | 只看该作者
按工厂要求来,太小了测试针顶不到

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 楼主| 发表于 2015-11-27 11:11 | 只看该作者
哦,不过这家工厂有点不靠谱,最初画板子的时候,有两块2层板,要求线宽不低于8mil,间距不小于8mil,过孔不小于12-24mil,这样的要求太折磨人了。所以对他们测试点的要求也很怀疑,最初要加1.5mm直径的测试点,太过分了,只考虑自己好测,不考虑别人死活。所以想了解下行业标准,以免被忽悠。

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发表于 2015-11-27 11:43 | 只看该作者
也差不多,治具时,顶针间要有点距离  r2 U& u% i+ @, _) ]8 Y
我们工厂要求是测试点直径1.2MM,测试点中心间距2.0MM以上

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 楼主| 发表于 2015-11-27 12:11 | 只看该作者
好吧,请问楼上的板子面积大吗,做的什么产品。9 O' ?. A5 H6 \* Q/ v4 _5 e, I" ~

' J8 u( k' [/ p3 E/ K找了份12年的资料,对测试点要求如下:
, l% ^) d4 r6 e: {7 `! x测试点的设计要求:
6 ~, D9 O2 s0 V0 f. R/ e. h1.定位孔采用非金属化的定位孔 ,误差小于0.05mm。定位孔周围3mm不能有元件。
) N; J9 }0 c- u7 K" a2.测试点直径不小于0.8mm,测试点之间的间距不小于1.27mm,测试点离元件不小于1.27mm,否则锡会流入到测试点上。
4 S. i7 H5 [0 }' e9 Q3.如果在测试面放置高度超过4mm的元器件,旁边的测试点应避开,距离4mm以上,否则测试治具不能植针。6 f2 u* F! J" q) y0 i
4.每个电气节点都必须有一个测试点,每个IC必须有POWER及GROUND的测试点,且尽可能接近此元器件,最好在距离IC 2.5mm范围内 。( }- i0 n' R3 h9 u' k
5.测试点不可被阻焊或文字油墨覆盖,否则将会缩小测试点的接触面积,降低测试的可靠性 。- \* `& [: ^: `; r3 R& S5 w) x9 g
6.测试点不能被插件或大元件所覆盖、挡住。
1 [# t9 h% j! X6 ~2 G. l5 T2 D7.不可使用过孔或DIP元件焊点做测试点。& [  F1 e) [2 I# V# O1 A
     ICT植针率需要达到100%,元件可测试率要达到85%以上。

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发表于 2015-11-27 12:32 | 只看该作者
平板9 H( O, L$ p7 }  ^4 P
你的这份资料要求还是比较全面,以前做过日本客户的板,要求也是一大筐

点评

平板有这么多空间加测试点吗?测试点加的多吗?好吧,看来我也只能挤挤了。  详情 回复 发表于 2015-11-27 15:42

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 楼主| 发表于 2015-11-27 15:42 | 只看该作者
5718366 发表于 2015-11-27 12:32, I: X& f% {# j4 |5 o3 b
平板; X# K+ ?" g: x5 o- ]
你的这份资料要求还是比较全面,以前做过日本客户的板,要求也是一大筐
- x: d. M! I8 F& @+ g
平板有这么多空间加测试点吗?测试点加的多吗?好吧,看来我也只能挤挤了。
3 k; I: R- R2 M/ d0 X( x

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发表于 2015-11-28 14:22 | 只看该作者
各工厂设备不一样,要求也不一样
9 ]& G0 T! D: f  m4 @1、工艺设计的要求6 A7 x7 [8 w7 G* X* L
定位的精度、基板制造程序、基板的大小、探针的类型都是影响探测可靠性的因素。 (1)精确的定位孔。在基板上设定精确的定位孔,定位孔误差应在 0.05mm以内,至少设置两个定位孔,且距离愈远愈好。采用非金属化的定位孔,以减少焊锡镀层的增厚而不能达到公差要求。如基板是整片制造后再分开测试,则定位孔就必须设在主板及各单独的基板上。- Q" M9 e8 Z0 q4 n+ E0 d
(2)测试点的直径不小于0.4mm,相邻测试点的间距最好在2.54mm以上,不要小于1.27mm。, f$ O6 C/ o  f, _0 F/ C4 j" ?2 p
(3)在测试面不能放置高度超过6.4mm的元器件,过高的元器件将引起在线测试夹具探针对测试点的接触不良。
. K& T# j4 t) l5 D(4)最好将测试点放置在元器件周围1.0mm以外,避免探针和元器件撞击损伤。定位孔环状周围3.2mm以内,不可有元器件或测试点。
6 ?/ w3 m5 L* m+ z- b(5)测试点不可设置在PCB边缘4mm的范围内,这4mm的空间用以保证夹具夹持。通常在输送带式的生产设备与SMT设备中也要求有同样的工艺边。
! Z, a5 x  \4 C; r' d5 W(6)所有探测点最好镀锡或选用质地较软、易贯穿、不易氧化的金属传导物,以保证可靠接触,延长探针的使用寿命。1 {8 N) x7 \, {; d9 o' P
(7)测试点不可被阻焊剂或文字油墨覆盖,否则将会缩小测试点的接触面积,降低测试的可靠性。

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发表于 2015-11-30 09:21 | 只看该作者
這些資料都有用,開發時可以注意到,謝謝
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