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各个SI软件提取的差分线的S参数比较

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发表于 2010-6-22 09:28 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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x
本帖最后由 shark4685 于 2010-6-22 10:15 编辑
1 X) C  h5 ^- p# t8 c8 f
1 ^$ {1 Y6 u0 V* \- \: g* M论坛里的高手很多,但大家用SI的工具都不一样,为了验证各个软件提取差分线的s参数的精度,
3 I& }+ p: _& {  B: w
, o4 o2 H8 h$ V2 B/ t) j特请大家用不同的工具求解S 参数,来比较下。
9 U" ^3 B2 W6 V5 c% x2 i; H' k/ A) T; C6 }# }
如大家有兴趣,可在后面贴出你使用的软件的及求解的S参数。- f+ O, r$ P( M1 G8 M) {) C9 n
. I+ Z5 [9 h+ H0 W& M/ l* v& o5 b
------------------------------------------------------------------------------------------------; p( k" x! b9 w$ P# _
求j差分的参数如下:
3 t7 o% Q5 e8 W' S) |+ ~
  j, I2 S  v$ _3 b, s" t( x; U 1 X$ l3 d% i! B/ V* A/ o
dHeight1=8mil ) y1 X$ ?  A  y+ f' K$ W, C

6 r( e/ a3 \4 Q8 ]3 \dHeigth2=8mil * h8 G0 e; L; u+ q+ ?& S

: W: p* v3 ~% A1 ~. ldWidth=5mil
8 Y, |( r3 V2 e, I' {" c7 \: I7 P6 K, a6 y' o
dGap=9mil
* E2 U6 b2 p5 n/ Z2 G
$ }" n9 S3 R# Y; J/ Y6 j* IdThickness=1.2mil 9 z% N; Z! Y( r9 R* g* L$ L
( e, m: o% K0 `3 F: @4 O" L, h
dLength=5000mil
, G$ t' r1 i( D8 P0 @! j: N- i: {! b' ?! X, Z3 K: F
er=4.3: l' ~6 j' }( `# u# x3 T: E

3 @6 |5 _$ x* ?1 Blosstangent=0.0175 m+ g& }: a: N
, V- U2 G. ^: o  N# ~
metal conductivity=57.6meg
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发表于 2011-8-2 22:56 | 只看该作者
本帖最后由 wuzl 于 2011-8-2 22:59 编辑
& l+ ~3 f2 H' ?3 ~7 ^( {9 @/ z' g6 j# E# c
回复 shark4685 的帖子
6 v" T4 F) l' {4 I: z
% d' a" v* o% [/ D/ i兄台这个想法很好,( T4 \  U- L# X. N+ [$ {  O" D
但是如果要仿真到5~10GHz的频段,目前大部分的软件都还很难处理好所有的情况。7 R, A& W9 [5 r
高频的情况下需要考虑到
, f5 L- A5 ^4 j( B: `9 G1)skin effect和表面粗糙性,造成的电阻和电感的变化
  ]( |0 F' O2 e2)介质的频率相关性,造成的电容和电导的变化) t/ K9 \2 X! Y8 ^) {" L8 @
3)介质的不均匀性
; `! O0 `; f5 ^& r" z8 G$ j* J; M- h$ i3 q( ^) y  _! x
大部分的阻抗计算软件比如polar可能会考虑到1),但是基于的都是简单的波浪模型,并不一定准确- V  \* U$ z% S; M" D, g# T& J& p
而对于2),3)目前polar什么的都无法include,而这部分将有巨大影响。
! I# Q5 G" ]- O# r" `" p5 n我所知道的CST和HFSS都支持2)介质的频率相关模型,但是因为建模的缺陷,想要include 1)那么就要花费很多时间建模。; |, o* ^% C5 {% l9 v& j2 p
而对于3)只有少数软件支持,比如Q3D,当然愿意花时间建模,CST/HFSS也可以搞定3): t) `3 ~1 d0 X- }" i" h' @
所以十全十美的s参数提取是巨大的挑战,需要自行修改RLGC。- s5 Q8 A2 j$ W/ x' l5 P3 G
6 s% @! @0 s3 E) [( e( Q+ K" T. W
如果你要比较准确性,我相信对于1),2),3)的处理不同,各个软件在高于5G的部分可能会有一定的差别。5 ?* N; f8 i; u
而且你仔细检查s参数,会发现他们的质量不太好,比如因果性,无源性,物理性可能欠佳。. g$ U; v& q8 B* A
  i+ V% a( J. K# m! [( r
对于高频应用,s参数的质量不好,意味着这个仿真的准确度要大打折扣的。) f( {/ X! {3 c# z! P
8 k. c; ~3 g$ a+ g+ _; x5 c9 U+ {5 j

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发表于 2010-6-24 15:17 | 只看该作者
本帖最后由 doya 于 2010-6-25 09:47 编辑
4 |0 n9 h' c, \& r
6 {+ m3 x3 i( K6 p$ \6 K- C0 Q& k使用ADS提取差分线的S参数- W/ \" z* p( a1 d
8 a4 q4 p  ~8 s* m# O

diff.rar

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发表于 2016-8-31 17:19 | 只看该作者
所以目前在對各項軟體的分析中,有哪個結果是大家比較認同的嗎?

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发表于 2010-6-24 14:59 | 只看该作者
踊跃报名,使用工具SI9000 V7.10板,还无法补偿铜箔表面粗糙度引起的插损。

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发表于 2010-6-24 18:12 | 只看该作者
请楼上贴上S参数文件
不問可不可行,而問如果一定要做,該怎麼做

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 楼主| 发表于 2010-6-25 15:39 | 只看该作者
请楼上贴上S参数文件
4 [1 v  d0 }" M& Q9 h袁荣盛 发表于 2010-6-24 18:12

% [/ b$ R9 L/ @  v  a$ k; ~% _. S" {$ _  o
1 L% J. d6 j* l" J3 X$ t" d# ?
    袁版主不来露一手????!!!

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发表于 2010-6-28 17:31 | 只看该作者
使用Hspice提取差分线的RLGC参数,然后在ADS环境中加入传输线的W模型。2 o' ^% I' i( t% v5 |- B1 g
该方法与直接在ADS中调用层叠和传输线稍微有些不同,, }) N; U+ \. J0 t& R- c. v
8 }- b% @/ ^( O
与前面基本相同,只是使用的是传输线的W模型。
0 e" H" [+ ?$ k, K& u6 U1 V: `# n& e
  I* X, N  V+ A0 K# G! Q( `
$ i+ T9 x3 ~+ j+ O8 L- _4 U与前面方法求得的S参数对比。- Z- S4 d6 @8 e: \: L8 k5 V2 L# W0 V2 [
SDD21基本相同,SDD11稍微有些不一样,在1.5G到3.5G吻合的最好。
: G/ n0 @8 c' _0 j, t' h# X: u' C " f9 n9 \$ i% ^1 _
5 E6 d/ @3 Q+ X! k$ Q: [8 K  P$ M
S参数及hspice网表文件
$ C+ L) f: X! Y5 p1 \# \ diff2.rar (751.14 KB, 下载次数: 138)

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发表于 2010-7-18 11:20 | 只看该作者
踊跃报名,使用工具SI9000 V7.10板,还无法补偿铜箔表面粗糙度引起的插损。
2 Q* ~/ M  Q! Z; t; u4 Ustupid 发表于 2010-6-24 14:59

# B6 O$ {' z7 N' _2 o. B: t8 R+ ~9 A" B5 G9 y% F0 Y: z' x
0 y/ U/ N9 v4 l: J0 m9 e4 z! w* q7 b/ Y
    请问哪个工具可以补偿呢?谢谢

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发表于 2010-7-19 08:36 | 只看该作者
V9.10 以上版本

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发表于 2010-7-19 12:31 | 只看该作者
其他同学上啊,怎么没有下文了

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 楼主| 发表于 2010-7-20 12:23 | 只看该作者
等凑齐了5位结果,我再来比较下。。。

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发表于 2010-7-21 16:58 | 只看该作者
本帖最后由 giga 于 2010-7-21 17:06 编辑
" A( ]/ I! m: H, f& g+ b2 ^* z9 l1 b8 D7 G7 p
我这里有四个结果,其实无论哪一个结果,准确度都很高。所以,选择一款自己中意的就行,不必纠结那么一点点的差别。
; i9 [, _  V/ T1 u) Y- F5 q5 {- D
. q7 Y: _/ a. h0 W

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发表于 2010-7-21 23:36 | 只看该作者
从楼上的S参数曲线上看来,几种仿真软件得出的结果几乎相同,一点小小的差别可以忽略了。  p* A- X% }5 |8 ]/ O+ [
如果真的是这样,那以后就用Polar好了,简单。楼上最好把Polar的版本和求S参数的设置抓图贴一下,谢谢

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发表于 2011-1-11 20:31 | 只看该作者
后面没了?学习了!

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发表于 2011-3-23 20:38 | 只看该作者
怎么没有后续了?新手期待中

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发表于 2011-4-29 10:31 | 只看该作者
楼主给的结构可能太过于规则了,之前也有做过这方面的验证,这种结构不同的2D和3D的软件输出的结果都可以很好的吻合。
( x+ q' e6 q# _9 L5 d要是结构复杂点,比如有过孔和参考面的缺陷什么的,不同的3D tools使用的mesh方法和场解析的算法不同,的确会存在一定差异的,精度跟软件设置也有一定的关系,另外似乎没有标准做对比,比如量测结果什么的..........
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