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本帖最后由 wuzl 于 2011-8-2 22:59 编辑
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1 p( }; h. b% H6 P& e7 Q5 d; Y: X1 `回复 shark4685 的帖子# C: f; I \% W% P8 D: V# T
( k. Z( V! D+ Z兄台这个想法很好,9 m: e& u0 ^% q) O# ?" b
但是如果要仿真到5~10GHz的频段,目前大部分的软件都还很难处理好所有的情况。
0 ?7 {, G* P- A7 c5 O9 D高频的情况下需要考虑到! L, e7 J( a, R. n! l4 K
1)skin effect和表面粗糙性,造成的电阻和电感的变化
3 r- `. A5 g: j0 x! L! J2)介质的频率相关性,造成的电容和电导的变化
( \: e( g$ X! d" x& k' ]3)介质的不均匀性: _. `+ `4 U# D- L5 J1 \
. t( a, D2 w$ o3 _
大部分的阻抗计算软件比如polar可能会考虑到1),但是基于的都是简单的波浪模型,并不一定准确% `! D( K! J1 w: V& D! P; }4 g3 h
而对于2),3)目前polar什么的都无法include,而这部分将有巨大影响。9 a" \6 w5 ^* T" `+ y
我所知道的CST和HFSS都支持2)介质的频率相关模型,但是因为建模的缺陷,想要include 1)那么就要花费很多时间建模。
# J5 @$ B+ A# h- e5 n4 J1 z, N而对于3)只有少数软件支持,比如Q3D,当然愿意花时间建模,CST/HFSS也可以搞定3)
B9 t2 H3 r" V所以十全十美的s参数提取是巨大的挑战,需要自行修改RLGC。
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如果你要比较准确性,我相信对于1),2),3)的处理不同,各个软件在高于5G的部分可能会有一定的差别。
! S; ~ E* H T- i3 F$ u2 p |而且你仔细检查s参数,会发现他们的质量不太好,比如因果性,无源性,物理性可能欠佳。+ r$ ^- \9 V% m
; n, Z1 Y8 @6 a/ V. Z: g8 D
对于高频应用,s参数的质量不好,意味着这个仿真的准确度要大打折扣的。
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