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各个SI软件提取的差分线的S参数比较

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发表于 2010-6-22 09:28 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 shark4685 于 2010-6-22 10:15 编辑
! f( A3 S" Q: F7 ^6 }, y3 h8 E# A: c6 y% H  t# ?  @
论坛里的高手很多,但大家用SI的工具都不一样,为了验证各个软件提取差分线的s参数的精度,
2 v' y6 g! c( o& [4 R) A! J6 D4 H& A
特请大家用不同的工具求解S 参数,来比较下。8 r% Y- C, X+ G1 \
% ]0 b# i3 W9 d# K& B1 V
如大家有兴趣,可在后面贴出你使用的软件的及求解的S参数。; o2 D3 d8 k3 D& u4 G

0 y1 K  @3 ]. f! N$ |* s------------------------------------------------------------------------------------------------
" r7 D  C5 o3 m9 ^0 j求j差分的参数如下:
# Q2 m' S. H6 I4 ~: ?3 {# e& `5 i; A
8 r1 Y  {# A( c* H1 i! I. Z3 u+ @
dHeight1=8mil / F! u" l; F+ l& ?
2 h' u3 |. ]- }0 g
dHeigth2=8mil 2 D7 P# u4 R" e6 @& C9 G5 u
7 F, H3 |. l4 f; d
dWidth=5mil ' r  U4 ^: m2 ^: K# J

8 F) h  x# D5 z0 h0 R6 odGap=9mil ) {+ }8 @$ G( ?5 u& d4 [

, q7 ]# b+ _0 l, _% n6 L. R. }5 Q$ qdThickness=1.2mil
% v0 E& M+ w4 h3 J+ p! {5 |! C' }' B1 z. E
dLength=5000mil 7 K" f" {0 {/ Z9 F, D  x. z

: w' g5 U0 H# T8 Rer=4.3
* A0 [' k& Z1 O$ s* s
$ S* _  V! d: x6 Vlosstangent=0.017
1 y) d2 O: o0 S; o. G" V7 ]9 l. Q9 I* ?# K; O# q
metal conductivity=57.6meg
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发表于 2011-8-2 22:56 | 只看该作者
本帖最后由 wuzl 于 2011-8-2 22:59 编辑
$ F  G0 T, f& Z8 F, [5 j! `
1 p( }; h. b% H6 P& e7 Q5 d; Y: X1 `回复 shark4685 的帖子# C: f; I  \% W% P8 D: V# T

( k. Z( V! D+ Z兄台这个想法很好,9 m: e& u0 ^% q) O# ?" b
但是如果要仿真到5~10GHz的频段,目前大部分的软件都还很难处理好所有的情况。
0 ?7 {, G* P- A7 c5 O9 D高频的情况下需要考虑到! L, e7 J( a, R. n! l4 K
1)skin effect和表面粗糙性,造成的电阻和电感的变化
3 r- `. A5 g: j0 x! L! J2)介质的频率相关性,造成的电容和电导的变化
( \: e( g$ X! d" x& k' ]3)介质的不均匀性: _. `+ `4 U# D- L5 J1 \
. t( a, D2 w$ o3 _
大部分的阻抗计算软件比如polar可能会考虑到1),但是基于的都是简单的波浪模型,并不一定准确% `! D( K! J1 w: V& D! P; }4 g3 h
而对于2),3)目前polar什么的都无法include,而这部分将有巨大影响。9 a" \6 w5 ^* T" `+ y
我所知道的CST和HFSS都支持2)介质的频率相关模型,但是因为建模的缺陷,想要include 1)那么就要花费很多时间建模。
# J5 @$ B+ A# h- e5 n4 J1 z, N而对于3)只有少数软件支持,比如Q3D,当然愿意花时间建模,CST/HFSS也可以搞定3)
  B9 t2 H3 r" V所以十全十美的s参数提取是巨大的挑战,需要自行修改RLGC。
$ ?8 |2 N' |% P1 t3 E9 I" H+ J2 j" D& z. {
如果你要比较准确性,我相信对于1),2),3)的处理不同,各个软件在高于5G的部分可能会有一定的差别。
! S; ~  E* H  T- i3 F$ u2 p  |而且你仔细检查s参数,会发现他们的质量不太好,比如因果性,无源性,物理性可能欠佳。+ r$ ^- \9 V% m
; n, Z1 Y8 @6 a/ V. Z: g8 D
对于高频应用,s参数的质量不好,意味着这个仿真的准确度要大打折扣的。
  v4 @7 |% o! A1 h/ n, j( h
; I. w/ x  f7 s. q

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发表于 2010-6-24 15:17 | 只看该作者
本帖最后由 doya 于 2010-6-25 09:47 编辑 ' n6 `+ U$ ^' v9 n' J  w; T

" t4 j# F3 d& T; O. k使用ADS提取差分线的S参数
, ^- _& j( Z  r6 k
- h# @( y/ \4 j- W1 b" V7 f( m

diff.rar

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发表于 2016-8-31 17:19 | 只看该作者
所以目前在對各項軟體的分析中,有哪個結果是大家比較認同的嗎?

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发表于 2010-6-24 14:59 | 只看该作者
踊跃报名,使用工具SI9000 V7.10板,还无法补偿铜箔表面粗糙度引起的插损。

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发表于 2010-6-24 18:12 | 只看该作者
请楼上贴上S参数文件
不問可不可行,而問如果一定要做,該怎麼做

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 楼主| 发表于 2010-6-25 15:39 | 只看该作者
请楼上贴上S参数文件
7 h" q# T; y* K6 z袁荣盛 发表于 2010-6-24 18:12

. h$ X' h5 K4 [" I) l- Q+ p
) b5 v0 Z, Y4 g$ @4 d4 I
* Q5 d$ C' L$ p" M9 E: f    袁版主不来露一手????!!!

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发表于 2010-6-28 17:31 | 只看该作者
使用Hspice提取差分线的RLGC参数,然后在ADS环境中加入传输线的W模型。
' X4 I. S4 D# F& n. m$ t该方法与直接在ADS中调用层叠和传输线稍微有些不同,2 J' Y. E- y- W! V
3 o" Y8 _+ O/ p/ G. e& D6 G
与前面基本相同,只是使用的是传输线的W模型。
4 j' {' W: f7 W% ^) B5 V
+ d* e; M  I3 x* |' {
3 a/ ]* w( }) ?5 m与前面方法求得的S参数对比。, l5 J( Y; V$ ]. H4 @
SDD21基本相同,SDD11稍微有些不一样,在1.5G到3.5G吻合的最好。
1 B$ D3 U" f; D9 z2 i- B7 ~+ S ) A% `$ [6 h* k6 w! @

* b& H  S% o: E& z% J; c' |- r1 ^S参数及hspice网表文件% A0 P$ r8 e% t; ]" }
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发表于 2010-7-18 11:20 | 只看该作者
踊跃报名,使用工具SI9000 V7.10板,还无法补偿铜箔表面粗糙度引起的插损。
! t* Y/ x$ ~0 s! K8 h2 Xstupid 发表于 2010-6-24 14:59
, M+ M  m. A0 Q6 I

# V# Z  p& }- R, [5 y" w2 J. T. z; C9 E
    请问哪个工具可以补偿呢?谢谢

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发表于 2010-7-19 08:36 | 只看该作者
V9.10 以上版本

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发表于 2010-7-19 12:31 | 只看该作者
其他同学上啊,怎么没有下文了

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 楼主| 发表于 2010-7-20 12:23 | 只看该作者
等凑齐了5位结果,我再来比较下。。。

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发表于 2010-7-21 16:58 | 只看该作者
本帖最后由 giga 于 2010-7-21 17:06 编辑
# Z& {! ]4 A; j* y4 f) z# f* A2 u' P* x% ~& D
我这里有四个结果,其实无论哪一个结果,准确度都很高。所以,选择一款自己中意的就行,不必纠结那么一点点的差别。
; ?+ L  R/ r" N
8 T7 n* A" ~$ j7 F. y5 h, ~

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发表于 2010-7-21 23:36 | 只看该作者
从楼上的S参数曲线上看来,几种仿真软件得出的结果几乎相同,一点小小的差别可以忽略了。! J/ m0 P4 r" s) u$ a! Z( ?$ Q
如果真的是这样,那以后就用Polar好了,简单。楼上最好把Polar的版本和求S参数的设置抓图贴一下,谢谢

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发表于 2011-1-11 20:31 | 只看该作者
后面没了?学习了!

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发表于 2011-3-23 20:38 | 只看该作者
怎么没有后续了?新手期待中

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发表于 2011-4-29 10:31 | 只看该作者
楼主给的结构可能太过于规则了,之前也有做过这方面的验证,这种结构不同的2D和3D的软件输出的结果都可以很好的吻合。# A$ |/ \1 }3 k+ F3 E" B2 B
要是结构复杂点,比如有过孔和参考面的缺陷什么的,不同的3D tools使用的mesh方法和场解析的算法不同,的确会存在一定差异的,精度跟软件设置也有一定的关系,另外似乎没有标准做对比,比如量测结果什么的..........
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