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各个SI软件提取的差分线的S参数比较

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发表于 2010-6-22 09:28 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 shark4685 于 2010-6-22 10:15 编辑 & S+ H4 b8 L- L  d  ~6 U9 j, v& g
: e" p) g# y- Y) F. V4 ~
论坛里的高手很多,但大家用SI的工具都不一样,为了验证各个软件提取差分线的s参数的精度,* ^- w. Y  B: i* q/ x1 A# E  h
' C, Q2 i+ N8 Z( s, K
特请大家用不同的工具求解S 参数,来比较下。) w& X5 [8 {9 v. z9 [' @' J

  n! D- _+ C: Y5 Y, |如大家有兴趣,可在后面贴出你使用的软件的及求解的S参数。) R" N) Y' f8 S
: v6 D1 }4 A2 k& I, t
------------------------------------------------------------------------------------------------8 B( Z& @, l2 Q8 ?) _
求j差分的参数如下:/ o0 i8 {/ u5 c7 O" X
: V% n1 O' J% M8 L7 {0 h/ X

3 g( N  O7 ]2 _" v: EdHeight1=8mil : o+ ?5 q6 p( @, ?1 [1 `3 A; U/ u! z1 W. F

. y& M/ `$ F& H) K" PdHeigth2=8mil + ~1 e+ J' G0 Y+ i0 p: {7 W7 [

% X" G% f3 g0 @; g/ H8 ddWidth=5mil 2 S6 U: T- c1 t+ w( V: q
! s+ e/ W6 K( b! Z: ], E9 ]0 y5 e
dGap=9mil , m5 _0 v, Z9 x- m# p
: ~1 c2 `+ K3 _6 b' r- m% `
dThickness=1.2mil
; l+ p, w7 ]- X4 r! k/ a' _" U/ F3 J) u
dLength=5000mil
" C0 \6 ?  B9 l) L7 y1 K. S5 x7 L: r9 v4 ?+ Z& J7 B
er=4.3. b" e' z3 d" k# [) S: a$ ]0 Z6 f
1 [- \7 l& {# O0 L. E
losstangent=0.0170 {) d9 I' J( f$ m: M0 K
1 i2 F! ^' r5 z8 y
metal conductivity=57.6meg
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发表于 2011-8-2 22:56 | 只看该作者
本帖最后由 wuzl 于 2011-8-2 22:59 编辑
/ q' s6 \: v! q% |6 Q6 n( @8 h3 D0 Q* {6 `, y& _
回复 shark4685 的帖子" m6 W: N, u+ _$ V1 q8 I( d2 F

+ l$ [- Q7 ?4 o兄台这个想法很好,
1 c  M* ]& l( x( g/ l1 q但是如果要仿真到5~10GHz的频段,目前大部分的软件都还很难处理好所有的情况。
" m$ i+ h1 W7 S# Z0 f1 e: u高频的情况下需要考虑到
. ^' P; C$ n- E1)skin effect和表面粗糙性,造成的电阻和电感的变化
$ y/ o( ~& r; y4 E2)介质的频率相关性,造成的电容和电导的变化. G0 O' f) ~0 E: l, d
3)介质的不均匀性
, e8 y4 C3 E2 }: X6 z3 p4 ^
0 F  A0 @9 G, n" e5 B  S0 d% x大部分的阻抗计算软件比如polar可能会考虑到1),但是基于的都是简单的波浪模型,并不一定准确
& F6 f5 j: z# c( \+ f而对于2),3)目前polar什么的都无法include,而这部分将有巨大影响。& t6 b" j* U! o3 @- D: Z
我所知道的CST和HFSS都支持2)介质的频率相关模型,但是因为建模的缺陷,想要include 1)那么就要花费很多时间建模。
5 @( ]6 L1 \& d# p5 G, ]! T2 N而对于3)只有少数软件支持,比如Q3D,当然愿意花时间建模,CST/HFSS也可以搞定3)
! w3 J3 ?, V" G" g2 E+ B8 {* g所以十全十美的s参数提取是巨大的挑战,需要自行修改RLGC。4 }% ?3 w% u$ i$ E

5 G5 `9 y$ q0 c+ C' }如果你要比较准确性,我相信对于1),2),3)的处理不同,各个软件在高于5G的部分可能会有一定的差别。, c" x: F: n8 d+ P7 z# B
而且你仔细检查s参数,会发现他们的质量不太好,比如因果性,无源性,物理性可能欠佳。; N" |8 F# @# L' q

7 u' W! L6 p; ]9 u对于高频应用,s参数的质量不好,意味着这个仿真的准确度要大打折扣的。6 a- L1 }: k! ?, ~8 I9 e; U

# z2 e1 d6 t* x' d8 U

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发表于 2010-6-24 15:17 | 只看该作者
本帖最后由 doya 于 2010-6-25 09:47 编辑 ( o! o$ s4 o. E
7 S) @! d9 e- k( L% t3 S/ o
使用ADS提取差分线的S参数0 P6 g2 l% ~: J" i
( B  q5 E  I$ `1 S: e

diff.rar

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发表于 2016-8-31 17:19 | 只看该作者
所以目前在對各項軟體的分析中,有哪個結果是大家比較認同的嗎?

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发表于 2010-6-24 14:59 | 只看该作者
踊跃报名,使用工具SI9000 V7.10板,还无法补偿铜箔表面粗糙度引起的插损。

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发表于 2010-6-24 18:12 | 只看该作者
请楼上贴上S参数文件
不問可不可行,而問如果一定要做,該怎麼做

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 楼主| 发表于 2010-6-25 15:39 | 只看该作者
请楼上贴上S参数文件
+ z. c5 ]! a  [袁荣盛 发表于 2010-6-24 18:12

& C6 R2 f6 x8 U9 C2 k0 d$ |" F* O( ~* R+ o+ r/ p
3 @, B- n: U/ O
    袁版主不来露一手????!!!

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发表于 2010-6-28 17:31 | 只看该作者
使用Hspice提取差分线的RLGC参数,然后在ADS环境中加入传输线的W模型。
2 J6 y( D" Z9 _  l该方法与直接在ADS中调用层叠和传输线稍微有些不同,
9 a, l, e$ d5 p' A( v' E+ s
: a4 l$ [' Q' H2 e与前面基本相同,只是使用的是传输线的W模型。
" y1 ^9 W: S. v5 B$ u" s; m, }1 b
0 B$ s- i3 J$ C- Z8 [+ Q" f. T& f4 b4 W6 x* s0 I& s' K: ?" }& f
与前面方法求得的S参数对比。
& }1 C! y/ y: E0 m0 OSDD21基本相同,SDD11稍微有些不一样,在1.5G到3.5G吻合的最好。
3 Y; @" u/ H  V* U$ T* b8 ], L
1 [  ?& Y6 ]$ Y% E4 u) n, H( l: |: i) P  J
S参数及hspice网表文件
# h& R* c6 |1 J  g) c' [# d( l. ? diff2.rar (751.14 KB, 下载次数: 138)

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发表于 2010-7-18 11:20 | 只看该作者
踊跃报名,使用工具SI9000 V7.10板,还无法补偿铜箔表面粗糙度引起的插损。
" e+ h" D3 [# `. q# e+ Fstupid 发表于 2010-6-24 14:59
0 o7 C- u! r1 N  S- m8 q' ~

7 R  J/ R0 X" \2 J0 z8 j' L; G6 M1 w7 c8 k* }4 |% @' G
    请问哪个工具可以补偿呢?谢谢

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发表于 2010-7-19 08:36 | 只看该作者
V9.10 以上版本

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发表于 2010-7-19 12:31 | 只看该作者
其他同学上啊,怎么没有下文了

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 楼主| 发表于 2010-7-20 12:23 | 只看该作者
等凑齐了5位结果,我再来比较下。。。

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发表于 2010-7-21 16:58 | 只看该作者
本帖最后由 giga 于 2010-7-21 17:06 编辑 6 E, ]( q, b2 i/ }# e  t7 [. D

" T+ d. `" E( v* P我这里有四个结果,其实无论哪一个结果,准确度都很高。所以,选择一款自己中意的就行,不必纠结那么一点点的差别。, J2 U. D" ^/ K/ {: |4 k

8 l# a1 S- o6 C, n# W) z

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发表于 2010-7-21 23:36 | 只看该作者
从楼上的S参数曲线上看来,几种仿真软件得出的结果几乎相同,一点小小的差别可以忽略了。7 f! i# \' ~7 T
如果真的是这样,那以后就用Polar好了,简单。楼上最好把Polar的版本和求S参数的设置抓图贴一下,谢谢

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发表于 2011-1-11 20:31 | 只看该作者
后面没了?学习了!

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发表于 2011-3-23 20:38 | 只看该作者
怎么没有后续了?新手期待中

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发表于 2011-4-29 10:31 | 只看该作者
楼主给的结构可能太过于规则了,之前也有做过这方面的验证,这种结构不同的2D和3D的软件输出的结果都可以很好的吻合。9 d- Z4 e- R* O. d" @3 W$ r
要是结构复杂点,比如有过孔和参考面的缺陷什么的,不同的3D tools使用的mesh方法和场解析的算法不同,的确会存在一定差异的,精度跟软件设置也有一定的关系,另外似乎没有标准做对比,比如量测结果什么的..........
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